PRODUSE:
 Filtre optice, Lentile, Ac...
 Surse de lumina, Monocroma...
 Masuratori analitice si sp...
 Laseri, Optica pentru lase...
 Tehnici de Vizualizare, Vi...
 Materiale noi, Proprietati...
 Metrologie de suprafata, F...
 Nanotehnologie, SPM, AFM

Nanotehnologie, SPM, AFM
Nano-R2 si Nano-I2 – microscopie de forta atomica, pentru metrologie si vizualizare, oferind performante excelente la un pret foarte convenabil Nanoink NScriptor™ DPNWriter™ – Nanolitografie Dip Pen (DPN)
Nano-DST™ – un sistem AFM de varf, cu scanner piezo de mare viteza pentru masuratori AFM video Cantilevere si standarde de calibrare pentru masuratorile de tip Microscopie de Forta Atomica (AFM)
Nanospectralyzer™ – pentru caracterizarea structurilor de nanotuburi de carbon cu perete unic("single wall") Nano-indentare – proprietatile mecanice ale filmelor subtiri
JPK Nanowizard – Bio AFM  



 International:

 Search:

→ Alphabetical Search Index
→ Sitemap

 Links:
Quantum Design:
→ www.QDUSA.com

 Noutati:
→ Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)

LOT Romania
Mr Octavian Buiu


Segarcea nr.7, Bl. B13, apt. 3

Tel.: 0040 755039900
E-mail: buiu@lot-oriel.com


emotiv design