Sitemap


Start
Witamy w LOT-Oriel
Witamy w LOT-Oriel - Lasers, Optics, Technology

Oferta
Nano-DST
Nano-DST
Integrating Spheres
Integrating Spheres
Laser Publications
Laser Publications
Single Channel Detectors
Single Channel Detectors
Products
LOT-Oriel - Products
Filtry Optyczne, Soczewki, Akcesoria
Filtry Optyczne, Soczewki, Akcesoria
Źródła Światła, Monochromatory, Detektory
Źródła Światła, Monochromatory, Detektory
Analityka i Spektroskopia, Mikroskopia
Analityka i Spektroskopia, Mikroskopia
Lasery, optyka laserowa, akcesoria do laserów
Lasery, optyka laserowa, akcesoria do laserów
Obrazowanie, szybkie IR, metrologia
Obrazowanie, szybkie IR, metrologia
Nowe materiały, Właściwości fizyczne, Magnetometry
Nowe materiały, własności fizyczne, magnetometry
Metrologia powierzchniowa, cienkie warstwy, biointerfejsy
Metrologia powierzchniowa, cienkie warstwy, biointerfejsy
Nanotechnologia, SPM, AFM
Nanotechnology, SPM, AFM
Filtry do analizy fluorescencji
Filtry do analizy fluorescencji
Filtry Optyczne (VUV- FIR)
Filtry Optyczne (VUV- FIR)
Filtry przestrajane elektrycznie
Filtry przestrajane elektrycznie
Soczewki kwarcowe i szklane
Soczewki kwarcowe i szklane
Źródła światła dla prac badawczych, rozwojowych i przemysłu
Przestrzenny modulator światła (SLM)
Przestrzenny modulator świetlny (SLM)
Monochromatory i spektografy
Monochromatory i spektografy
Spectrographs
Monochromators
Wzorce odblaskowe i tarcze
Wzorce odblaskowe i tarcze
Detektory CDD/ICCD/EMCCD, Fotodiodi
EUV and X-Ray CCD Detectors
ICCD Detectors
CCD Line Detectors
Nuance – System obrazowania multispektralnego
Nuance – System obrazowania multispektralnego
Czujnik czoła fali
Czujnik czoła fali
Systemy kamer na podczerwień
Systemy kamer na podczerwień dla wszystkich długości fal
Objektywy IR
Objektywy IR
Profilometry
Profilometry
Kamery z rejestracją dużej szybkości – High speed cameras
Kamery z rejestracją dużej szybkości – High speed cameras
Magnetometr wibrującej próbki (VSM)
Vibrating Sample Magnetometer (VSM)
Magnetometr Kerra NanoMOKE2
Magnetometr Kerra
Systemy mapowania (MOKE)
Systemy mapowania (MOKE)
Mapper Systems -Properties and Options
Mapper Systems - Applications and Systems
HTS – magnesy, doprowadzenia prądowe i komponenty
HTS – magnesy, doprowadzenia prądowe i komponenty
Cantilevers & AFM Calibration Standards
Cantilevers & AFM Calibration Standards
Elipsometry spektroskopowe
Elipsometry spektroskopowe
VASE
VUV-VASE
IR-VASE
M-2000
MASE
Alpha-SE
Spectroscopic Ellipsometers Software
Spectroscopic Ellipsometers Application Notes
Woollam Ellipsometry Seminar
Elipsometry Spektroskopowe Seminar
Seminarium w zakresie zastosowania Elipsometrii
Lampy z wydrążoną katodą
Lampy z wydrążoną katodą
Lampy deuterowe
Lampy deuterowe
Akcesoria do spektroskopów FT- IR
Akcesoria do spektroskopów FT-IR
Lampy PID/Źródła liniowe
Lampy PID/Źródła liniowe
Maestro - System obrazowania in-vivo
Maestro - System obrazowania in-vivo
Powlekacz obrotowy
Powlekacz obrotowy
MPMS (Miernik własności magnetycznych)
MPMS XL (Miernik Własności Magnetycznych)
MPMS Evercool
Termografia impulsowa , nieniszczące testowanie
Termografia impulsowa, nieniszczące testowanie
ThermoScope II
Press Release - Shuttle Inspection
PPMS (Miernik własności fizycznych)
PPMS (Miernik własności fizycznych)
16 Tesla PPMS
P525 Vibrating Sample Magnetometer
Model P850 - PPMS Dilution Refrigerator System (DR)
Mikrowaga z kryształu kwarcu z monitoringiem rozpraszania (dyssypacji) energii QCM-D
Mikrowaga z kryształu kwarcu z monitoringiem rozpraszania (dyssypacji) energii QCM-D
Q-Sense E4
Measurement Chamber Platform QCP 401
Electronics Unit QE 401
Q-Sense D300
Measurement chamber QAFC 302
Electronics unit QE 301
Software QSoft 401 and QTools 2.0
Sensor Crystals
Immobilization protocols
Układy pomiarowe ze SQUIDem (niska/ wysoka temperatura)
Układy pomiarowe ze SQUIDem (niska/ wysoka temperatura)
Fiber Optics
Fiber Optics
System analizy rozmiarów czàstek¡
System analizy rozmiarów czàstek¡
Nanospectralyzer
Nanospectralyzer
Obrazowanie hiperspektralne - Hyperspectral Imaging
Obrazowanie hiperspektralne - Hyperspectral Imaging
Surface Plasmon Spectroscopy (SPS)
Surface Plasmon Spectroscopy (SPS)
RT-08 from Res-Tec
SPR 200 from KSV
MPMS SQUID VSM
MPMS SQUID VSM
VersaLab
VersaLab - 3 Tesla Cryogen-free VSM
Nanowizard
Nanowizard
Cryo*Con
Cryo*Con
CT Systems for the µm and nm range
CT Systems for the µm and nm range
Nanotracker
Nanotracker - optical tweezers and 3D particle tracking system
CellHesion 200
CellHesion 200 - single cell force testing solution for cell adhesion and elasticity studies
ForceRobot 200
ForceRobot 200
Odwzorowanie fotoluminescencji - Photoluminescence Mapper
Odwzorowanie fotoluminescencji - Photoluminescence Mapper
Ellipsometery dla Fotowoltaiki
Ellipsometery dla Fotowoltaiki
Solar Simulators
Solar Simlators
Kamery CCD
Kamery CCD
ZYGO, Rozwiązania dla fotowoltaiki
ZYGO, Rozwiązania dla fotowoltaiki
Kamery IR Xenics
Kamery IR Xenics
Photovoltaics
Fotowoltaika
BioMAT™ Workstation
BioMAT™ Workstation
WITec Alpha 300/500/700
WITec Alpha 300/500/700
Abrio/LC-PolScope
Abrio/LC-PolScope
CMOS Cameras for scientific and industrial applications
CMOS Cameras for scientific and industrial applications
NanoInk NLP 2000
NanoInk NLP 2000
NanoInk DPN 5000 Desktop NanoFabrication System
NanoInk DPN 5000 Desktop NanoFabrication System
System mierzenia nano- i mikrotwardości
NanoTest - Uniwersalna platforma do charakteryzacji właściwości mechanicznych
SPM insert for the QD PPMS
Spectral Evolution
Spectral Evolution

Kontakt
Contacts
Contacts
David Appel
Thomas Beppler
Andreas Bergner
Henryk Dluzewski
Olivier Dubreuil
Hassan Farshchi
Michael Fichtner
Jürgen Fischbach
Michael Foos
Michael Foos
Wilfried Helle
Rainer Hess
Gerhard Jockwich
Ralph Köhler
Olaf Koschützke
Agnieszka Kowalczyk
Marc Kunzmann
Marc Kunzmann
Patrick Lindemann
Monica Martinez
Jochen Mentges
Thorsten Pieper
Stefan Riesner
Raimund Sauter
Jürgen Schlütter
Alexander Schrenk
Ralf Siegel
Karlheinz Szemeritsch
Jörg Tobisch
Natalia Tristan
Thomas Wagner
Joachim Weiss
Rainer Weißflog
Stefan Wittmer

Wydarzenia
Events
LOT-Oriel - Events
Nanoscale Biomaterials Deposition
Nanoscale Biomaterials Deposition

Spectrum
Spectrum
LOT-Oriel - Spectrum
European Edition 10
Non-invasive 3D imaging in high resolution
Applications for SWIR InGaAs cameras
Citius imaging high speed video cameras
PTI250 – 3D measurement of hip and intervertebral disc implants
Interferometric metrology - VeriFire Asphere
Extended range of Fizeau objectives
PPMS-SPM – A brand new surface dimension in our Physical Property Measurement System
HTS-110 cryogen-free superconducting AC magnet
Nanoarrays made of hydrogel by DPN technology
Special offer: Nanospectralyzer™ for single-walled carbon nanotubes
In-situ combination of QCM-D and ellipsometry
Probe stations – test systems for chips and wafers
Specim launches Raman Spectrographs
High-sensitivity fluorescence spectroscopy with surface plasmons
European Edition 9
New Cantilever Catalog
Ellipsometry-workshop 2009
Training course on ellipsometry data analysis: CompleteEASE software
Quantitative force measurements with optical tweezers: The JPK NanoTracker™
Immunohistochemistry – Multi-label microscopy without spectral or spatial cross-talk
Centurio C 100 – High-speed camera with new „data logger“
Zygo fizeau interferometer to measure the shape of optical surfaces
Medical implant process control with ZYGO interferometers
ZYGO NewView for thin film solar cells
The new NLP 2000 – Nanofabrication made easy
DPN 5000 – The new flagship of Dip Pen Nanolithography
Characterisation of solar cells – Quantum efficiency measurements
SisuChema – Spatially resolved spectroscopy in chemistry, pharmacy and food technology
Explore the power of evanescent fields – Glass transition temperature in thin polymer films
CCD detectors for the quality control of solar cells
New from Andor: Microspectroscopy using dynamic slit
Structural change of adsorbed protein layer
Taking the chore out of running QCM-D experiments
European Edition 8
HYDRA cantilevers for BioAFM
High-resolution imaging with the Bio-AFM system NanoWizard II
Photovoltaic in ellipsometry
Non-invasive 3D imaging of biological to advanced materials in high resolution
Extended coverage of XEVA and XS cameras from SWIR into the visible
Low cost CCD cameras with EM (electron multiplication) technology
Everything you want to know about light sources
The Cryogenic Control Systems – state-of-the-art electronic equipment
VersaLab VSM magnetometer – a new workhorse for magnetic material characterization
Optical filters UV – FIR
Multispectral imaging – quick and easy
New light source – the CPS disc centrifuge is now even more sensitive
Solar cell IV-curve characterization – virtually any application possible
Single wall carbon nanotubes: a new trend in biotechnology?
CCD line array cameras at good value for money
The RT-08 SPR spectrometer has arrived
European Edition 7
Applied Nanostructures - AFM cantilevers
The Nano-DST™ - high-speed AFM with atomic resolution
The new Nano-E™ AFM system for standard research and education
Ellipsometry-Workshop 2008
Photovoltaic applications of spectroscopic ellipsometry
Ellipsometry workshop, July 2nd 2008 in Spain
NewView 7000 series - advanced, high performance 3D optical profilers
High end Cheetah aims at high speed SWIR imaging
Everything you want to know about light sources
Magnetometry & More
Nano impact testing of surfaces
Informal seminar on measurements of mechanical properties
New Andover filter catalog
Visit the VLOC Waveplate Store
Disc centrifuge for high resolution particle size measurement
Thin film characterization by Surface Plasmon Resonance (SPR)
Studying cell interactions using the Q-Sense window module
European Edition 6
Nano-DST
AFM cantilevers
Nano-Rp capabilities in particles characterization
BioMat workstation - imaging opaque samples
Training course on Ellipsometry data analysis
New camera developments in NIR and IR imaging
Citius high speed cameras
The iHelium-3 magnetometer
PPMS - The Swiss knife for your physical laboratory
High temperature nanoindentation
High throughput filters for fluorescence spectroscopy
Ultra steep short pass filters
New InGaAs detectors for NIR spectroscopy
QCM-D E4: Tracking changes at the surface
PDF Download
Subscription
Subscription

Back to Top

 International:

 Szukaj:

Alphabetical Search Index
Sitemap

 Your contact:


Henryk Dluzewski
Your contact in Poland
Phone: +48 322482048
Fax: +48 322482048
dluzewski@lot-oriel.com

 Nowości:
Invitation to the Webinar "Nanoscale Biomaterials Deposition - Learning to Speak the Language of Biology" March 16th, 2010 at 6:00 pm CET
We grieve for Gerhard Jockwich.
VC OEM camera modules
Spectrum - European Edition 10 (November 2009) is online!
SPM insert for the QD PPMS®

LOT-Oriel Polska
E-mail: kowalczyk@lot-oriel.pl

Szyb Walenty 32
41-700 RUDA SLASKA, POLEN

Phone/Fax: 48 322482048


emotiv design