START OFERTA KONTAKT WYDARZENIA SPECTRUM Sitemap Start Witamy w LOT-Oriel Witamy w LOT-Oriel - Lasers, Optics, Technology Oferta Integrating Spheres Integrating Spheres Laser Publications Laser Publications Products LOT-Oriel - Products Filtry Optyczne, Soczewki, Akcesoria Filtry Optyczne, Soczewki, Akcesoria Źródła Światła, Monochromatory, Detektory Źródła Światła, Monochromatory, Detektory Analityka i Spektroskopia, Mikroskopia Analityka i Spektroskopia, Mikroskopia Lasery, optyka laserowa, akcesoria do laserów Lasery, optyka laserowa, akcesoria do laserów Obrazowanie, szybkie IR, metrologia Obrazowanie, szybkie IR, metrologia Nowe materiały, Właściwości fizyczne, Magnetometry Nowe materiały, własności fizyczne, magnetometry Metrologia powierzchniowa, cienkie warstwy, biointerfejsy Metrologia powierzchniowa, cienkie warstwy, biointerfejsy Nanotechnologia, SPM, AFM Nanotechnology, SPM, AFM Filtry Optyczne (VUV- FIR) Filtry Optyczne (VUV- FIR) Filtry do analizy fluorescencji Filtry do analizy fluorescencji Filtry przestrajane elektrycznie Filtry przestrajane elektrycznie Soczewki kwarcowe i szklane Soczewki kwarcowe i szklane Przestrzenny modulator światła (SLM) Przestrzenny modulator świetlny (SLM) Źródła światła dla prac badawczych, rozwojowych i przemysłu Źródła światła dla prac badawczych, rozwojowych i przemysłu Monochromatory i spektografy Monochromatory i spektografy Spectrographs Monochromators Detektory CDD/ICCD/EMCCD, Fotodiodi Detektory CDD/ICCD/EMCCD CCD Detectors and InGaAs Photodiode Arrays UV and X-Ray CCD Detectors EMCCD Detectors EMCCD Interactive Tutorial ICCD Detectors ICCD Quantum Efficiencies in a Flash Animation CCD Line Detectors Spectrographs Quantum Register with Neutral Caesium Atoms About Andor Wzorce odblaskowe i tarcze Wzorce odblaskowe i tarcze Kolorowa kamera wideo dla mikroskopii Kolorowa kamera wideo dla mikroskopii Nuance – System obrazowania multispektralnego Nuance – System obrazowania multispektralnego Mikromanipulator i akcesoria dla mikroskopii Mikromanipulator i akcesoria dla mikroskopii Czujnik czoła fali Czujnik czoła fali Systemy kamer na podczerwień Systemy kamer na podczerwień dla wszystkich długości fal Objektywy IR Objektywy IR Profilometry Profilometry Szybkie kamery Szybkie kamery Magnetometr Kerra NanoMOKE2 Magnetometr Kerra Magnetometr wibrującej próbki (VSM) Magnetometr wibrującej próbki (VSM) VSM - Properties and Options VSM - Applications and Models VSM - Model Overview Systemy mapowania (MOKE) Systemy mapowania (MOKE) Mapper Systems -Properties and Options Mapper Systems - Applications and Systems HTS – magnesy, doprowadzenia prądowe i komponenty HTS – magnesy, doprowadzenia prądowe i komponenty Cantilevers & AFM Calibration Standards Cantilevers & AFM Calibration Standards System mierzenia nano- i mikrotwardości System mierzenia nano- i mikrotwardości Workshop Elipsometry spektroskopowe Elipsometry spektroskopowe VASE VUV-VASE IR-VASE M-2000 MASE Alpha-SE Spectroscopic Ellipsometers Software Spectroscopic Ellipsometers Application Notes Woollam Ellipsometry Seminar Nano-Ink NScriptor Nano-Ink NScriptor™ DPNWriter™ Bias Control Option for NScriptor™ Single Channel Detectors Single Channel Detectors Akcesoria do spektroskopów FT- IR Akcesoria do spektroskopów FT-IR Lampy deuterowe Lampy deuterowe Lampy z wydrążoną katodą Lampy z wydrążoną katodą Lampy PID/Źródła liniowe Lampy PID/Źródła liniowe Maestro - System obrazowania in-vivo Maestro - System obrazowania in-vivo Powlekacz obrotowy Powlekacz obrotowy Termografia impulsowa , nieniszczące testowanie Termografia impulsowa, nieniszczące testowanie ThermoScope II Press Release - Shuttle Inspection Moduł komórki ciśnieniowej do pomiarów elektrycznych i magnetycznych Moduł komórki ciśnieniowej do pomiarów elektrycznych i magnetycznych MPMS (Miernik własności magnetycznych) MPMS XL (Miernik Własności Magnetycznych) MPMS Evercool PPMS (Miernik własności fizycznych) PPMS (Miernik własności fizycznych) 16 Tesla PPMS P525 Vibrating Sample Magnetometer Model P850 - PPMS Dilution Refrigerator System (DR) Układy pomiarowe ze SQUIDem (niska/ wysoka temperatura) Układy pomiarowe ze SQUIDem (niska/ wysoka temperatura) Mikrowaga z kryształu kwarcu z kontrolą rozpraszania (dyssypacji) Mikrowaga z kryształu kwarcu z kontrolą rozpraszania (dyssypacji) Q-Sense E4 Measurement Chamber Platform QCP 401 Electronics Unit QE 401 Q-Sense D300 Measurement chamber QAFC 302 Electronics unit QE 301 Software QSoft 401 and QTools 2.0 Sensor Crystals Immobilization protocols Nd:YAG-Lasers Nd:YAG-Lasers PNI - Nanotechnology Solutions Pacific Nanotechnology Inc. - Nanotechnology, Nano-R, Nano-I Fiber Optics Fiber Optics Radiometr UV Radiometr UV System analizy rozmiarów czàstek¡ System analizy rozmiarów czàstek¡ fluoroSENS – Fluorimeter fluoroSENS Fluorimeter Optomechanical Components from Ealing Catalog Inc. Optomechanical Components from Ealing Catalog Inc. Nanospectralyzer Nanospectralyzer Hyperspectral Imaging Hyperspectral Imaging Nano-DST Nano-DST Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) MPMS SQUID VSM MPMS SQUID VSM VersaLab VersaLab - 3 Tesla Cryogen-free VSM Nanowizard Nanowizard Abrio/LC-PolScope Abrio/LC-PolScope CMOS Cameras for scientific and industrial applications CMOS Cameras for scientific and industrial applications Kontakt Contacts Contacts Thomas Beppler Andreas Bergner Henryk Dluzewski Olivier Dubreuil Hassan Farshchi Michael Fichtner Jürgen Fischbach Michael Foos Michael Foos Wilfried Helle Rainer Hess Gerhard Jockwich Ralph Köhler Olaf Koschützke Agnieszka Kowalczyk Marc Kunzmann Marc Kunzmann Patrick Lindemann Monica Martinez Jochen Mentges Thorsten Pieper Stefan Riesner Raimund Sauter Jürgen Schlütter Alexander Schrenk Ralf Siegel Karlheinz Szemeritsch Jörg Tobisch Natalia Tristan Thomas Wagner Joachim Weiss Rainer Weißflog Stefan Wittmer Wydarzenia Events LOT-Oriel - Events Spectrum Spectrum LOT-Oriel - Spectrum European Edition 7 European Edition 7 Applied Nanostructures - AFM cantilevers The Nano-DST™ - high-speed AFM with atomic resolution The new Nano-E™ AFM system for standard research and education Ellipsometry-Workshop 2008 Photovoltaic applications of spectroscopic ellipsometry Ellipsometry workshop, July 2nd 2008 in Spain NewView 7000 series - advanced, high performance 3D optical profilers High end Cheetah aims at high speed SWIR imaging Everything you want to know about light sources Magnetometry & More Nano impact testing of surfaces Informal seminar on measurements of mechanical properties New Andover filter catalog Visit the VLOC Waveplate Store Disc centrifuge for high resolution particle size measurement Thin film characterization by Surface Plasmon Resonance (SPR) Studying cell interactions using the Q-Sense window module European Edition 6 Nano-DST AFM cantilevers Nano-Rp capabilities in particles characterization BioMat workstation - imaging opaque samples Training course on Ellipsometry data analysis New camera developments in NIR and IR imaging Citius high speed cameras The iHelium-3 magnetometer PPMS - The Swiss knife for your physical laboratory IR floating zone furnace from Canon Machinery High temperature nanoindentation High throughput filters for fluorescence spectroscopy Ultra steep short pass filters New InGaAs detectors for NIR spectroscopy QCM-D E4: Tracking changes at the surface European Edition 5 European Edition 5 In-situ spectroscopic ellipsometry for ALD Ellipsometry workshop 2007 NIR cameras for the extended infrared Centurio – a high-speed camera with a medium frame rate Zygo’s aspheric interferometer The next generation of solar simulators UV-VIS mercury fiber optic illuminator Light sources for research, development and industry Quantum Design’s cryogen-free VSM – the VersaLab Opti-MAxes – vector magneto-optic system from AMI CellHesion module for the JPK BioAFM HYDRA – a new generation of cantilevers Nanocrystalline hydroxyapatite surfaces for biomaterial research Ealing Catalog Inc. and LOT-Oriel – a strategic partnership Diamond windows finally made affordable New Andover filter catalog CPS disc centrifuges – particle size measurement Gilden Photonics monochromators and spectrographs Sensitive fluorimeter at a sensible price Time Resolved X-ray Diffraction with Andor CCD camera Seminar Nanotest in Darmstadt Spin Coater: tools for preparing ultrathin films for spectroscopic applications European Edition 4 Table of Contents Nano Wizard II - the next generation in BioAFM from JPK PNI presents: Second generation routine AFM systems Sharp AFM cantilevers Liquid helium level instruments for science and industry Cold crystals CRYOCOOL-LHE New heat cell for ellipsometers Integrating spectroscopic ellipsometry into industrial applications Xenics IR and NIR cameras Maximum image quality at ultra fast speeds Low light imaging - the Andor iXonEM+ Enhance your optical surface form measurements Hartmann Shack – beam diagnosis Compact 150W Xe light source The new light sources catalog LOT-Oriel and LEJ - a strategic partnership Quantum Design's new SQUID-based VSM High-temperature nanoindentation on PET samples 55.000-pen two dimensional array - the next step in Dip-Pen Nanolithography (DPN) Manipulating the nanoworld – Microgripper Carbon nanotube characterization Optical Filters VUV – FIR Raman edge, notch and laser line filters P-16 – KLA-Tencor's new surface profiler Spin Coater: Tools for preparing ultrathin films for spectroscopic applications European Edition 3 Table of Contents Europe is growing together AFM - Sharp Cantilevers Bio AFM Nano-R Crystal Scanner Optical Filters VUV - FIR Varispec - Multispectral Imaging Nuance Multispectral Imaging System Large format InGaAs FPA cameras Andor Catalog scientific Digital cameras solutions DPSS-Nd:YAG BriteLight Light Sources Catalog Light Sources for Research, Development and Industry NanoTest characterization of mechanical properties Zyvex Nanotubes, Nanowires, Nanocoils EasyTube 3000 for nanomaterials Nanofabrication Instruments for materials research/new materials Nitrolab PPMS magnetic field temperature platform Profilometric measurements on SIMS craters newton CCD Cameras for spectroscopy Quartz-Crystal-Microbalance Interferometry