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Wellenfrontmessung nach Hartmann-Shack

Die Hartmann-Shack-Kamera ermittelt an einer Position im Laserstrahl die Wellenfront. Hierzu wird der Laserstrahl über ein Mikrolinsenarray auf dem Chip der Kamera abgebildet und es werden Strahlprofil und Wellenfront erhalten.

Mit diesen Informationen wird die Strahlpropagation berechnet und einhergehend werden auch Eigenschaften über den Laserstrahl vorhergesagt, die einer Messung unter Umständen nicht direkt zugänglich sind. Beispiele sind das Strahlprofil im Fernfeld oder in der Strahltaille.

Für Nahe-TEMoo-Laserstrahlen haben die Ergebnisse mit dem Hartmann-Shack-Sensor für die Strahlpropagation (M2, Divergenz, ...) eine Genauigkeit, die vergleichbar ist mit einer Kaustikmessung (‚Round-Robin-Test’).



Im Überblick

Wellenfrontparameter nach ISO 15367
Sämtliche Strahlparameter inklusive M2 und Strahlpropagation (Nah- und Fernfeld, Strahltaille)
Angaben in Echtzeit
Integriertes Mikrolinsenarray, optimiert für Wellenfrontmessung
Umfangreiche Software für Strahlprofil- und Wellenfrontdiagnostik
Kompakte Kamera mit USB2.0
Geeignet für cw- und Pulslaser
Test und relative Vermessung von Optiken
Wellenfrontkorrektur in Echtzeit, Einsatz von räumlichen Modulatoren (SLM)
Laserjustage und Strahldiagnostik

Das System beinhaltet neben der Kamera mit dem integrierten Mikrolinsenarray die BEAM-Software zur Analyse von Strahlprofil und Strahlpropagation. Es stehen mehrere Kamerakonfigurationen zur Auswahl.





Kaustikmessplatz

Verfahrbare Kamera zur Profilmessung im Bereich um die Taille hinter einer Linse (Strahlkaustik)

M2-Messung
Auswertung der Strahleigenschaften nach ISO11146
10bit- oder 12bit-CCD-Kamera
Spektralbereich von 350 – 1100 nm
Motorisierter Verschiebetisch
Software für Strahlprofildiagnostik und Propagationsanalyse
USB-Anschluss für 10bit-Kamera, „Frame Grabber“ für 12bit-Kamera





Strahlprofilmessung

Strahlprofil in Echtzeit
CMOS- oder CCD-Kamera
Spektralbereich von 350 – 1100 nm
UV-Version 190 – 1100 nm, EUV/ XUV auf Anfrage
Umfangreiche Software für Strahlprofildiagnostik
Direkte Auswertung von Strahlkenngrößen im Labor- und Strahlkoordinatensystem gemäß ISO 11146
Anschlussbereit über USB (keine zusätzliche Spannungsversorgung notwendig)
Belichtungszeit von 50 μs bis 5 s stufenlos einstellbar – auch über automatische Belichtung




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