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Wellenfrontmessung nach Hartmann-Shack
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Die Hartmann-Shack-Kamera ermittelt an einer Position im Laserstrahl die Wellenfront. Hierzu wird der Laserstrahl über ein Mikrolinsenarray auf dem Chip der Kamera abgebildet und es werden Strahlprofil und Wellenfront erhalten.
Mit diesen Informationen wird die Strahlpropagation berechnet und einhergehend werden auch Eigenschaften über den Laserstrahl vorhergesagt, die einer Messung unter Umständen nicht direkt zugänglich sind. Beispiele sind das Strahlprofil im Fernfeld oder in der Strahltaille.
Für Nahe-TEMoo-Laserstrahlen haben die Ergebnisse mit dem Hartmann-Shack-Sensor für die Strahlpropagation (M2, Divergenz, ...) eine Genauigkeit, die vergleichbar ist mit einer Kaustikmessung (‚Round-Robin-Test’). |  |


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Im Überblick
 | Wellenfrontparameter nach ISO 15367
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 | Sämtliche Strahlparameter inklusive M2 und Strahlpropagation (Nah- und Fernfeld, Strahltaille)
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 | Angaben in Echtzeit
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 | Integriertes Mikrolinsenarray, optimiert für Wellenfrontmessung
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 | Umfangreiche Software für Strahlprofil- und Wellenfrontdiagnostik
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 | Kompakte Kamera mit USB2.0
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 | Geeignet für cw- und Pulslaser
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 | Test und relative Vermessung von Optiken
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 | Wellenfrontkorrektur in Echtzeit, Einsatz von räumlichen Modulatoren (SLM)
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 | Laserjustage und Strahldiagnostik
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Das System beinhaltet neben der Kamera mit dem integrierten Mikrolinsenarray die BEAM-Software zur Analyse von Strahlprofil und Strahlpropagation. Es stehen mehrere Kamerakonfigurationen zur Auswahl. |
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Verfahrbare Kamera zur Profilmessung im Bereich um die Taille hinter einer Linse (Strahlkaustik)
 | M2-Messung
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 | Auswertung der Strahleigenschaften nach ISO11146
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 | 10bit- oder 12bit-CCD-Kamera
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 | Spektralbereich von 350 – 1100 nm
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 | Motorisierter Verschiebetisch
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 | Software für Strahlprofildiagnostik und Propagationsanalyse
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 | USB-Anschluss für 10bit-Kamera, „Frame Grabber“ für 12bit-Kamera |
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 | Strahlprofil in Echtzeit
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 | CMOS- oder CCD-Kamera
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 | Spektralbereich von 350 – 1100 nm
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 | UV-Version 190 – 1100 nm, EUV/ XUV auf Anfrage
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 | Umfangreiche Software für Strahlprofildiagnostik
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 | Direkte Auswertung von Strahlkenngrößen im Labor- und Strahlkoordinatensystem gemäß ISO 11146
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 | Anschlussbereit über USB (keine zusätzliche Spannungsversorgung notwendig)
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 | Belichtungszeit von 50 μs bis 5 s stufenlos einstellbar – auch über automatische Belichtung
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