OFERTA:
 Filtry Optyczne, Soczewk...
 Źródła światła, Mono...
 Analityka i spektroskopia,...
 Lasery, Optyka laserowa, ...
 Obrazowanie, termiczne i ...
 Nowe materiały, Właści...
 Metrologia powierzchniowa,...
 Nanotechnologia, SPM, AF...







Profilometry

Szybki rozwój w dziedzinie nanotechnologii, mechanice precyzyjnej i technologii cienko-warstwowej, podbnie jak rozwój nowoczesnych materiałów, wymaga coraz dokładniejszej wiedzy o obrabianych powierzchniach oraz kontroli jakości po obróbce.

Profilometry produkowane przez KLA-Tencor są optymalnie przystosowane do spełnienia coraz bardziej surowych wymagań jeśli chodzi o zapewnienie jakości w produkcji, badaniach i serwisowaniu.



PDF Download
Surface Profiler AlphaStep IQ (PDF, 435 KB)
P-16+ Surface Profiler (PDF, 300 KB)
Film Stress Measurement System FLX-2320 S (PDF, 408 KB)
Apex Software (PDF, 588 KB)


Back to Top

 International:

 Szukaj:

Alphabetical Search Index
Sitemap

 Your contact:


Henryk Dluzewski
Your contact in Poland
Phone: +48 322482048
Fax: +48 322482048
dluzewski@lot-oriel.com



Rainer Weißflog
Phone: +49 30 4991 4775
Fax: +49 30 4991 4776
weissflog@lot-oriel.com

 Linki:
Quantum Design:
www.QDUSA.com

 Nowości:
Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
Near Infrared Beam Profiler
New Ultra High Speed Camera Cheetah

LOT-Oriel Polska
E-mail: dluzewski@lot-oriel.com

Szyb Walenty 32
41-700 RUDA SLASKA, POLEN

Phone/Fax: 48 322482048


emotiv design