|  
|
Pacific Nanotechnology Inc.- Nanotechnology Solutions
|
Pacific Nanotechnology INC. jest firmą z Santa Clara w Kalifornii, której specjalnością jest nanotechnoogia. Firma cieszy się długoletnim doświadczeniem w produkcji i rozwoju systemów mikroskopii sił atomowych.
AFM od PNI jest urządzeniem dla Ciebie jeśli poszukujesz urządzenia na wysokim poziomie rozwoju technologicznego i jednocześnie urządzenia prostego w obsłudze. Zaawansowane technologicznie rozwiązania systemu Nano-R2 oraz jego poprzednika systemu Nano-I2 posiadają wysoko-rozdzielczą, zmechanizowaną funkcję focus/zoom video, mikroskop, zmechanizowany system ustawiania próbki w pozycjach x-y oraz szybki i bezpieczny system wymiany ostrzy. Oprogramowanie pozwala uzyskać wysokiej jakości zdjęcia zaledwie w kilku krokach procedury eksperymentu. System będzie idealnym narzędziem badań zarówno początkującego jak i doświadczonego eksperymentatora.
Możliwe zastosowanie systemu: | |
| The fastest and safest tip exchange in the AFM world |
|
| |
|
 | Analiza cząsteczkowa
|
| Micro/nano techniki
|
| Polimery
|
| Charakterystyka segmentów
|
Nowy Crystal Scanner do systemu Nano-R2 nie wymaga kompleksowego dostosowania procedury do nowego typu czujnika siłowego. Jest tak prosty w użyciu, że nie ma potrzeby być ekspertem w technice mikroskopii skanningowej aby przeprowadzać eksperymenty obrazowania w nanoskali.
Wraz z powstaniem systemów Nano-R2 i Nano-I2 firmy i instytuty badawcze zyskały narzędzie do badań nanotechnologicznych oraz narzędzie własnego rozwoju i kontroli.
| Innowacyjność
|
| Prostota użycia
|
| Produktywność |
|
|
|
| Anwendungen |
| General Turorial of Atomic Force Microscopy (PDF, 170 KB) |
| Nanoscience and Nanotechnology (PDF, 115 KB) |
| AFM Image Artifacts (PDF, 538 KB) |
| Surface Derivatization for Biosensor Applications (PDF, 155 KB) |
| Defect Inspection (PDF, 160 KB) |
| Nano-Surface Texture/Roughness (PDF, 156 KB) |
| DVD Analysis (PDF, 101 KB) |
| Nanostructures (PDF, 261 KB) |
| Metallurgy (PDF, 271 KB) |
| Polymer Applications (PDF, 205 KB) |
| NanoTribology Applications (PDF, 215 KB) |
| History of Atomic Force Microscopy (PDF, 81 KB) |
|
|
|
|
 |
|
