OFERTA:
 Filtry Optyczne, Soczewk...
 Źródła światła, Mono...
 Analityka i spektroskopia,...
 Lasery, Optyka laserowa, ...
 Obrazowanie, termiczne i ...
 Nowe materiały, Właści...
 Metrologia powierzchniowa,...
 Nanotechnologia, SPM, AF...

Nanotechnologia, SPM, AFM
Nano-R2 and Nano-I2 – AFM do badań rutynowych, znakomite działanie i jakość za przystępną cenę, do obrazowania i metrologii Nanoink NScriptor™ DPNWriter™ – zanurzeniowa Nanolitografia
Nano-DST™ – najbardziej nowoczesny system AFM, ze specjalnym układem skanerów do  video-AFM „high-speed piezo scanner” Cantilevers & AFM Calibration Standards
Nanospectralyzer™ for Single-walled Carbon Nanotube (SWNT) Characterisation Nanonacinanie – własności mechaniczne cienkich warstw
JPK Nanowizard - Bio AFM  



 International:

 Szukaj:

→ Alphabetical Search Index
→ Sitemap

 Linki:
Quantum Design:
→ www.QDUSA.com

 Nowości:
→ Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
→ Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
→ Near Infrared Beam Profiler
→ New Ultra High Speed Camera Cheetah

LOT-Oriel Polska
E-mail: dluzewski@lot-oriel.com

Szyb Walenty 32
41-700 RUDA SLASKA, POLEN

Phone/Fax: 48 322482048


emotiv design