OFERTA:
 Filtry Optyczne, Soczewk...
 Źródła światła, Mono...
 Analityka i spektroskopia,...
 Lasery, Optyka laserowa, ...
 Obrazowanie, termiczne i ...
 Nowe materiały, Właści...
 Metrologia powierzchniowa,...
 Nanotechnologia, SPM, AF...

Metrologia powierzchniowa, cienkie warstwy, biointerfejsy
Cantilevers & AFM Calibration Standards Q-Sense - Mikrowaga z kryształu kwarcu z kontrolą rozpraszania (dyssypacji)
Elipsometry spektroskopowe Profilometry, systemy pomiaru naprężeń
Testowanie nano- i mikrotwardości System analizy rozmiarów cząstek
Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) Hyperspectral Imaging

Zygo- interferometry, profilometry



 International:

 Szukaj:

→ Alphabetical Search Index
→ Sitemap

 Linki:
Quantum Design:
→ www.QDUSA.com

 Nowości:
→ Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
→ Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
→ Near Infrared Beam Profiler
→ New Ultra High Speed Camera Cheetah

LOT-Oriel Polska
E-mail: dluzewski@lot-oriel.com

Szyb Walenty 32
41-700 RUDA SLASKA, POLEN

Phone/Fax: 48 322482048


emotiv design