OFERTA:
 Filtry Optyczne, Soczewk...
 Źródła światła, Mono...
 Analityka i spektroskopia,...
 Lasery, Optyka laserowa, ...
 Obrazowanie, termiczne i ...
 Nowe materiały, Właści...
 Metrologia powierzchniowa,...
 Nanotechnologia, SPM, AF...
 Photovoltaics

Metrologia powierzchniowa, cienkie warstwy, biointerfejsy
Cantilevers & AFM Calibration Standards Q-Sense - Mikrowaga z kryształu kwarcu z kontrolą rozpraszania (dyssypacji)
Elipsometry spektroskopowe Profilometry, systemy pomiaru naprężeń
Testowanie nano- i mikrotwardości Hyperspectral Imaging
Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) Nanoscale IR spectroscopy and thermal analysis

Zygo- interferometry, profilometry



 International:

 Szukaj:

→ Alphabetical Search Index
→ Sitemap

 Linki:
Quantum Design:
→ www.qd-international.com

 Nowości:
→ Cryostat for effective optical and electrical measurements from 3 K to 350 K
→ Spectrum European Edition 11 (June 10) is online!
→ Anasys Instruments: Nanoscale IR spectroscopy and thermal analysis
→ SPM insert for the QD PPMS®

LOT-Oriel Polska
E-mail: kowalczyk@lot-oriel.pl

Szyb Walenty 32
41-700 RUDA SLASKA, POLEN

Phone/Fax: 48 322482048


emotiv design