OFERTA:

Filtry Optyczne, Soczewk...

Źródła światła, Mono...

Analityka i spektroskopia,...

Lasery, Optyka laserowa, ...

Obrazowanie, termiczne i ...

Nowe materiały, Właści...

Metrologia powierzchniowa,...

Nanotechnologia, SPM, AF...

Metrologia powierzchniowa, cienkie warstwy, biointerfejsy


	Cantilevers & AFM Calibration Standards		Q-Sense - Mikrowaga z kryształu kwarcu z kontrolą rozpraszania (dyssypacji)
	Elipsometry spektroskopowe		Profilometry, systemy pomiaru naprężeń
	Testowanie nano- i mikrotwardości		Hyperspectral Imaging
	Surface Plasmon Spectroscopy (SPS)


	Zygo- interferometry, profilometry

International:

Szukaj:



→ Alphabetical Search Index → Sitemap

Linki:


Quantum Design:
→	www.qd-international.com

Nowości:


→	Invitation to the Webinar "Nanoscale Biomaterials Deposition - Learning to Speak the Language of Biology" March 16th, 2010 at 6:00 pm CET
→	We grieve for Gerhard Jockwich.
→	VC OEM camera modules
→	Spectrum - European Edition 10 (November 2009) is online!
→	SPM insert for the QD PPMS®


	LOT-Oriel Polska E-mail: kowalczyk@lot-oriel.pl				Szyb Walenty 32 41-700 RUDA SLASKA, POLEN				Phone/Fax: 48 322482048		emotiv design