OFERTA:

Filtry Optyczne, Soczewk...

Źródła światła, Mono...

Analityka i spektroskopia,...

Lasery, Optyka laserowa, ...

Obrazowanie, termiczne i ...

Nowe materiały, Właści...

Metrologia powierzchniowa,...

Nanotechnologia, SPM, AF...

Obrazowanie, szybkie IR , metrologia


	Systemy kamer na podczerwień		Szybkie kamery
	Objektywy IR		Nuance – System obrazowania multispektralnego
	C-MOS Cameras		System obrazowania in-vivo - Maestro
	Termografia impulsowa , nieniszczące testowanie		Abrio™/LC-PolScope™
	Profiler optyczny, analiza naprężeń		Hyperspectral Imaging
	Detektory CDD/ICCD/EMCCD		Systemy CT: MicroXCT™ i nanoXCT™

International:

Szukaj:



→ Alphabetical Search Index → Sitemap

Linki:


Quantum Design:
→	www.qd-international.com

Nowości:


→	Cryostat for effective optical and electrical measurements from 3 K to 350 K
→	Spectrum European Edition 11 (June 10) is online!
→	Anasys Instruments: Nanoscale IR spectroscopy and thermal analysis
→	SPM insert for the QD PPMS®


	LOT-Oriel Polska E-mail: kowalczyk@lot-oriel.pl				Szyb Walenty 32 41-700 RUDA SLASKA, POLEN				Phone/Fax: 48 322482048		emotiv design