|  
|
Nano-DST ™ to zaawansowany mikroskop sił atomowych o wysokiej wydajności, zaprojektowany z myślą o najbardziej wymagających zastosowaniach. AFM to kompletny system, z zaawansowanym oprogramowaniem, kontroler elektroniczny o wysokiej wydajności, system antywibracyjny. System składa się z komponentów najwyższej jakości, gwarantujemy długą żywotność produktu.
Zaawansowane funkcje Nano-DST ™ to:
Dual Scanner Control (DST): w Nano-DST ™dwa skanery mogą być prowadzone indywidualnie lub równocześnie w celu szybkiego skanowania i osiągnięcia możliwie najwyższej rozdzielczości.
Modular Electronic Controller: Ponieważ kontroler elektroniczny w Nano-DST ™ jest modułowy, może być konfigurowany na nieskończoną liczbę eksperymentów. | |
|
| |
|
Flexure Skaner 3-D Calibration Sensor: konstrukcja sensorów z kalibracją sensorów w 3D daje najbardziej dokładne i precyzyjne dane. Opcjonalnie możliwe jest skanowanie obszarów aż do 350 mikronów.
Zaawansowana specyfikacja: 24 bitowa kontrola skanowania, szybkość skanowania 400 MHz, niski poziom szumu i wysoka stabilność modulacji elektroniki zapewnia najwyższą wydajność spośród dostępnych systemów SPM.
Zaprojektowany dla trybów: SThM, MFM, EFM, STM, SKPM ... Klientom udzielamy oczywiście wsparcia technicznego w przypadku pracy w nowym trybie.
Motorized Stage Control: Nano-DST ™ zawiera siedmiu połączonych silników do precyzyjnej kontroli pozycjonowania próbki, powiększania optycznego i nastawiania ostrości. Kontrola ruchu osi 3 silników, ułatwia szybkie sondowanie, jak również umożliwia kontrolę kąta sondy/próbki. Wszystkie silniki są sterowane przez wysokosprawny kontroler.
Podstawa Nano-DST™
Podstawa i suwnica Nano-DST ™ zbudowana jest z najwyższą precyzją, z granitu najwyższej jakości. Cały mikroskop optyczny i lekka dźwignia skanera AFM (Light Lever AFM)sterowane są przez suwnicę. Podstawa systemu została zaprojektowana specjalnie w celu zapewnienia stabilności i możliwie najniższego poziomu szumów ale też jest bardzo elastyczna i umożliwia nie tylko podstawowe skanowanie ale opcjonalne funkcje.
Nano Flex ™ Light Lever AFM (LL-AFM): |
|
| Light Lever AFM (LL-AFM) Scanner |
|
|
W dźwigni LL-AFM umieszczony jest skaner, który gwarantuje najwyższą precyzję i doskonałą liniowość crosstalk i ugięcie –bow co w połączeniu z kalibracją XYZ czujników zapewnia rzetelne i dokładne pomiary. Sondy zamocowane są w magnetycznych uchwytach, u góry jest też specjalny uchwyt -clip mount dla zdemontowanej sondy. Wpływ rozproszonych promieni światła jest ograniczony przez zastosowanie lasera, który redukuje niepożądane artefakty w obrazie. Wysoka przepustowość detektora gwarantuje wysoką częstotliwość w wibracyjnym trybie pomiarów –vibrating mode, jak również pomiary siły tarcia –frictional force. Skaner zawiera też złącza dla trybów, które wymagają bezpośredniego kontaktu elektrycznego z sądą.
Szybki skaner High Speed Scanner (HSS): |
|
High Speed Sample-Scanner
|
Skaner HSS(-a four-quadrant high resonance tube scanner) jest zaprojektowany do szybkiego skanowania. HSS jest zamontowany w podstawie Nano-DST ™ poniżej dźwigni LL-AFM w komorze próbki -Puck. Zwykła komora może być zastąpiona komorą do próbek wielowarstwowych - mutilayer puck i/lub komorą dla tzw. próbek środowiskowych – environmental cell lub inną. Dźwignia LL-AFM skanera może być użyta do „obrazowania panoramicznego” próbki podczas szybkiego skanowania (patrz rys. 3).
Wymiana mechanizmu sondy: |
|
| Figure 4: Probe Exchange Mechanism – A: Scanner down; B: Scanner up for probe exchange |
|
|
Wymiana sondy w Nano-DST ™ jest procesem bardzo łatwym. Mechanizm ten jest ulokowany w miejscu o łatwym dostępie z dwoma zamkami na przedniej części LL-AFM. W połączeniu ze zautomatyzowaną podstawą i oprogramowaniem, wymiana sondy zajmuje tylko kilka minut. Ponieważ skaner jest zawsze mocno przytwierdzony do podstawy nie może być też przypadkowo uszkodzony (patrz rys. 4).
Przykładowa komora - puck: |
|
Wymienialna komora próbki ułatwia skanowanie z LL-AFM. Bardzo elastyczna komora ma szereg zdejmowanych płytek, które pozwalają skanować wiele grubości próbek. Próbki mogą być utrzymywane magnetycznie lub z pomocą taśmą klejącą. Komora z łatwością może być wymieniona na komorę innego rodzaju: komorą do próbek wielowarstwowych - mutilayer puck i/lub komorą dla tzw. próbek środowiskowych lub podstawą do ogrzewania- heating stage (patrz rys. 5).
Podstawa pozycjonowania XY: |
|
| Figure 6: XY Positioning Stage |
|
|
| Przenoszenie próbki w stosunku do skanera AFM skanera jest możliwe dzięki mechanizmowi silnikowemu XY. Zautomatyzowana podstawa jest zaprojektowana w taki sposób, uchwyt próbki był w bezpośrednim kontakcie z granitową podstawą. Mikrokontroler elektroniczny steruje układem silników w celu osiągnięcia wysokiej rozdzielczości. Ruchy podstawy mogą być aktywowane przez track ball, mysz, oprogramowanie lub algorytm. Zgodnie z automatyką, możliwe jest skanowanie według porządku: krok i powtórzenie (patrz rys. 6). |
|
|
|
|
|
 |
|
