OFERTA:
 Filtry Optyczne, Soczewk...
 Źródła światła, Mono...
 Analityka i spektroskopia,...
 Lasery, Optyka laserowa, ...
 Obrazowanie, termiczne i ...
 Nowe materiały, Właści...
 Metrologia powierzchniowa,...
 Nanotechnologia, SPM, AF...







  Choose a page from "MPMS (Miernik własności magnety..."


MPMS XL (Miernik Własności Magnetycznych)

Miernik Własności Magnetycznych (MPMS®) stał się standardem działania i niezawodności. Wykorzystanie Superconducting Quantum Interference Device (SQUID) w połączeniu z opatentowanymi ulepszeniami, magnetometr MPMS®XL osiąga najwyższą czułość pomiaru, zakres dynamiczny i nieosiągalną inaczej powtarzalność .

Modularny MPMS integruje system detekcji SQUIDa, jednostkę precyzyjnej kontroli temperatury umieszczoną w otworze magnesu nadprzewodzącego i komputerowy system operacyjny. Wszechstronne oprogramowanie kontroluje pomiary, umożliwiając szybkie i łatwe zbieranie danych i ich analizowanie. Łatwe w użyciu oprogramowanie Windows® pozwala na w pełne zautomatyzowanie wszystkich parametrów systemu.

Dotychczas zainstalowano na świecie ponad 600 jednostek bazowych.




Features

Maximum Sample Size: 9 mm
Field Uniformity: 0.01% over 4 cm
Temperature range: 1.9-400 K (800 K with optional oven)
Continuous Low Temperature Control/Temperature Sweep with enhanced thermometry – patented dual impedance design for continuous operation below 4.2 K, smooth transition through 4.2 K, and improved thermometry for temperature sweep mode
Reciprocating Sample Measurement System for improved sensitivity and measurement speed
MPMS MultiVu Windows® based Software Interface


Magnet Options:

1, 5 and 7 Tesla magnet
The MPMS®-XL Models offer high homogeneity magnet configurations


MPMS® Options:

SQUID AC Susceptibility Measurement (*) - 0.1 Hz to 1KHz, sensitivity: 2 x l0-8 emu at 0 T
Ultra-Low Field Capability (*) ±0.05 G for the 5 T or 7T magnets
Reciprocating Sample Option (RSO) - DC Magnetization absolute sensitivity: 1 x 10-8 emu @ 2,500 Oe
Continuous Low Temperature Control/Temperature Sweep Mode (CLTC) - Sweep rate: 0.001 - 10 K/min.
Horizontal & Vertical Sample Rotators
Environmental Magnetic Shield
Sample Space Oven - increases temperature range to 800 K
Magnet Reset
Transverse Moment Detection System
Extended Dynamic Range (EDR) - expands the full-scale measuring capabilities to ± 300 emu.
External Device Control (EDC)
Fiber Optic Sample Holder
Low Field Profiling Option - includes 1 or 10 Gauss fluxgate
Standard & Nitrogen Jacketed Dewars
Manual Insertion Utility Probe
Resistivity Packages - (Voltmeter, Current Source, External Device Control, Manual Insertion Utility Probe



NEW: MPMS® EverCool™

PDF Download
Magnetic Property Measurement System (PDF, 8,4 MB)
MPMS XL (PDF, 528 KB)
MPMS Evercool™ Dewar (PDF, 72 KB)
AC Susceptibility (PDF, 298 KB)


Back to Top

 International:

 Szukaj:

Alphabetical Search Index
Sitemap

 Your contact:


Henryk Dluzewski
Your contact in Poland
Phone: +48 322482048
Fax: +48 322482048
dluzewski@lot-oriel.com



Dr. Marc Kunzmann
Phone: +49 6151 880646
Fax: +49 6151 896667
kunzmann@lot-oriel.de

 Linki:
Quantum Design:
www.QDUSA.com

 Nowości:
Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
Near Infrared Beam Profiler
New Ultra High Speed Camera Cheetah

LOT-Oriel Polska
E-mail: dluzewski@lot-oriel.com

Szyb Walenty 32
41-700 RUDA SLASKA, POLEN

Phone/Fax: 48 322482048


emotiv design