LOT-Oriel - System mierzenia nano- i mikrotwardości

OFERTA:

Choose a page from "System mierzenia nano- i mikrotwa..."

System mierzenia nano- i mikrotwardości

Micro Materials Ltd. oferuje wybór aparatury do badań właściwości mechanicznych ciał stałych i cienkich warstw.

Aparatura ta umożliwia pomiary:

Pomiary twardości i współczynników techniką mikro- i nano- indentacji

Badanie pełzania materiału

Odporności na zarysowania powierzchni oraz adhezję warstw

Badanie odporności na ścieranie (dyski rotujące)

Badanie udarności i zmęczenia materiału.

General Information

Publications

News

International:

Szukaj:



→ Alphabetical Search Index → Sitemap

Your contact:

Dr. Agnieszka Kowalczyk
Your contact in Poland
Phone: +48 322482048
Fax: +48 322482048
kowalczyk@lot-oriel.com

Dr. Thomas Wagner
Phone: +49 6151 880668
Fax: +49 6151 896667
wagner@lot-oriel.de

Linki:


Related pages:
→	Spectroscopic Ellipsometers

Nowości:


→	Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
→	Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
→	Near Infrared Beam Profiler
→	New Ultra High Speed Camera Cheetah


	LOT-Oriel Polska E-mail: dluzewski@lot-oriel.com				Szyb Walenty 32 41-700 RUDA SLASKA, POLEN				Phone/Fax: 48 322482048		emotiv design