LOT-Oriel - Mapper Systems -Properties and Options

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Eigenschaften und Optionen

DiskMapper

Messung von Remanenz-Dicke Produkten Mrd ab 0.1 µemu/cm2

Messung von Remanenz-Koerzitivfeldstärken Hr bis zu 6000 Oe

Automatischer Bedienungsprozess von Disks

Schnelle ganzflächige und beidseitig-simultane magnetische Messung der Disks

Verwendung von Hoch-Feld Transducer (über 4000 Oe), fähig auf sehr hoch koerzitiven Medien zu schreiben

Gute Signal/Rauschen-Verhältnisse bei der Messung von Medien mit sehr niedrigen Mrd-Produkten (bis zu 0.1 µemu/cm2)

Darstellung der Messdaten als Uniformitäts-Kontrollkarten

Automatische Parametergrenzwert-Erkennung und Signalisierung

Kontaktlose und zerstörungsfreie Messung, die zur Reduzierung der Testkosten bzw. Erhöhung der Produktion führt.

Wafer Mapping System

Schneller, automatischer Zugriff auf einer beliebigen Anzahl von Punkten auf dem Wafer

Messung einer ganzen Hysterese-Schleife an jeder ausgewählten Adresse in unterschiedlichen Richtungen und Einsetzung von verschiedenen angelegten Feldmaxima, um die magnetischen Merkmale der einzelnen Schichten zu differenzieren.

Automatische Parameter-Ermittlung (Shift, Koerzitivfeldstärke) der freien bzw. pinning Layer

Steuerbare Feld-Durchlaufrate

Wafer Bedienungs-Roboter für die Massenproduktion

Magneto-Resistance (MR) Option: misst den MR an ausgewählten Stellen.

MR-"mapping"-Abläufe können ausgeführt werden.

"Easy axis dispersion"-Messung

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→	Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
→	Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
→	Near Infrared Beam Profiler
→	New Ultra High Speed Camera Cheetah


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