LOT-Oriel - Systemy mapowania (MOKE)

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Systemy mapowania (MOKE)

LOT-Oriel vertreibt Mapper-Systeme für magnetische Medien zur In-line Qualitätskontrolle von modernen Speichermedien und magnetoresistiven Leseköpfen sowie für Forschungs- und Entwicklungsmöglichkeiten auf diesem Gebiet. Die DiskMapper ermitteln die Homogenität der magnetischen Eigenschaften gleich nach dem Sputtern von Speicher-Disks und erlauben dadurch ein schnelles Feedback für die Prozesskontrolle.

Die industriegeprüften Wafer Mapper zeichnen die magnetischen Eigenschaften von MR-, GMR-, TMR-, Permanentmagnet-Wafer sowie MRAM-Wafer von bis zu 300 mm Durchmesser auf. Sie können schnell und automatisch die magnetischen Eigenschaften von ganzen Wafern als Profilbilder darstellen. Sie zeichnen sich durch eine kontaktlose, zerstörungsfreie Messung der magnetischen Eigenschaften aus.

DiskMapper M2

Disk Media Kerr Mapper

DiskMapper für senkrechte Medien

Wafer Mapper

PDF-Download

M2 DiskMapper (PDF, 1,2 MB)

Wafer Mapping System (PDF, 2,6 MB)

MRAM Wafer Mapping System – Characterization of MRAM Wafers (PDF, 3,2 MB)

Polar Kerr System – Characterization of Perpendicular Media (PDF, 2,5 MB)

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