OFERTA:
 Filtry Optyczne, Soczewk...
 Źródła światła, Mono...
 Analityka i spektroskopia,...
 Lasery, Optyka laserowa, ...
 Obrazowanie, termiczne i ...
 Nowe materiały, Właści...
 Metrologia powierzchniowa,...
 Nanotechnologia, SPM, AF...







Magnetometr Kerra

L.O.T.Oriel jest dystrybutorem ultra czułych magnetooptycznych magnetometrów z Durham Magneto Optics Ltd– NanoMOKE2.

Urządzenia te są czułe na podłużne, poprzeczne i biegunowe magnetooptyczne efekty Kerra i są idealnie przystosowane do mierzenia magnetycznych właściwości cienkich warstw magnetycznych i magnetycznych nanostruktur. Takie pomiary są powszechnie wykonywane w pracach badawczo-rozwojowych.




Podstawowymi własnościami NanoMOKE2 są:

Ultrawysoka czułość I stabilność połączone z bardzo niskim poziomem szumów: zmiany sygnału tak małe jak 0,001% mogą być wykryte w czasie pomiaru w ciągu zaledwie kilku minut. Dla porównania, warstwa Permalloyu o grubości 5nm wywołuje podłużny efekt Kerra o wielkości ~2% tzn. 2000 razy większy niż czułość przyrządu.

Wysoce zogniskowana wiązka laserowa: w zależności od wybranego objektywu , zogniskowana wiązka może mieć rozmiar od 2.8um do 5.5um. To umożliwia wybór małej ilości elementów nanostruktury z obszaru gęsto upakowanego lub wysokiej czułość osiąganejej przy pojedynczych wyizolowanych elementach nanostruktury.

Bardzo wysoka łatwość lokalizacji próbek: optyczny mikroskop jest wbudowany w ścieżkę promienia lasera , tak że skupiona wiązka laserowa i powierzchnia próbki może być obserwowana jednocześnie. Próbka umieszczona jest na ruchomej podstawce co pozwala na umieszczenie skoncentrowanej wiązki laserowej z dokładnością mniejszą niż 1µm. Unikatowe skanowanie rastrowe pozwala na zidentyfikowanie właściwości magnetycznych, które są zbyt małe do zaobserwowania w mikroskopie optycznym.

Elastyczny i otwarty projekt. Wszystkie optyczne komponenty są umieszczone na standardowym stole optycznym, pozwalając na modyfikacje w zależności od zapotrzebowania .

LX Pro jest łatwym w użyciu i elastycznym w kontroli oprogramowaniem, umożliwiającym przesuwanie próbek w celu zlokalizowania określonych obszarów, umożliwiającym łatwe wygenerowanie złożonych struktur w przyłożonym polu magnetycznym, zapisywanie pętli histerezy oraz ich późniejsze pozbawienie szumów filtra , usuwanie artefaktów i obliczanie rozkładu pól przełączających. LX Pro tworzy również ponad 150 własności i metod dotyczących obiektu badanego, które mogą być użyte w interfejsowaniu NanoMOKE2 dla innych programów, które możesz chcieć napisać.

Options: X – Y stages with a total travel of 150 mm, temperature control unit (4.2 K – 500 K).




Hysteresis loop measured from a single 5 nm thick Permalloy nanowire, 200 nm wide and 18 µm long made by electron beam lithography. 11 seconds acquisition time, 27 Hz loop sweeping frequency. Longitudinal Kerr ellipticity. The focused spot size was 3.3 µm.

PDF Download
Detailed specification for the NanoMOKE2 (PDF, 876 KB)


Back to Top

 International:

 Szukaj:

Alphabetical Search Index
Sitemap

 Your contact:


Henryk Dluzewski
Your contact in Poland
Phone: +48 322482048
Fax: +48 322482048
dluzewski@lot-oriel.com



Gerhard Jockwich
Phone: +49 6151 880610
Fax: +49 6151 896667
jockwich@lot-oriel.de

 Linki:
Quantum Design:
www.QDUSA.com

 Nowości:
Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
Near Infrared Beam Profiler
New Ultra High Speed Camera Cheetah

LOT-Oriel Polska
E-mail: dluzewski@lot-oriel.com

Szyb Walenty 32
41-700 RUDA SLASKA, POLEN

Phone/Fax: 48 322482048


emotiv design