Elipsometry spektroskopowe

LOT-Oriel jest europejskim reprezentantem Woollam Co., który jest światowym liderem sprzedaży w zakresie elipsometrii spektroskopowej. Oferujemy elipsometry zarówno do badań podstawowych jak i do kontroli produkcji do określania stałych optycznych i grubości warstw, nawet w systemach wielowarstwowych i to zarówno In-situ jak i ex-situ. Elipsometry spektroskopowe dla zakresu fal od VUV do FIR z bardzo zaawansowanym i przyjaznym dla użytkownika oprogramowaniem.

Detailed Information:


	VASE® (with Video) Powerfull R&D variable angle spectroscopic ellipsometer with wide spectral range (193-2200nm)		M-2000® (with Video) Revolutionary rotating compensator technology. Many spectral ranges available from 193 to 1700nm
	VUV-VASE™ (with Video) Spectroscopic ellipsometer covering the vacuum UV to the NIR. Perfect for lithography applications at 248nm, 193nm, and 157nm		MASE™ (with Video) New multi-angle base for M-2000 ellipsometers. The ellipsometer remains fixed while beam steering optics change the angle of incidence
	IR-VASE® Infrared ellipsometer with spectral coverage from 2 to 35µm		Alpha-SE™ (with Video) Low cost spectroscopic ellipsometer, easy to use

International:

Szukaj:



→ Alphabetical Search Index → Sitemap

Your contact:

Henryk Dluzewski
Your contact in Poland
Phone: +48 322445714
Fax: +48 322445714
dluzewski@lot-oriel.com

Dr. Thomas Wagner
Phone: +49 6151 880668
Fax: +49 6151 896667
wagner@lot-oriel.de

Linki:

Nowości:


→	Spectrum European Edition 11 (June 10) is online!
→	Anasys Instruments: Nanoscale IR spectroscopy and thermal analysis
→	SPM insert for the QD PPMS®


	LOT-Oriel Polska E-mail: kowalczyk@lot-oriel.pl				Szyb Walenty 32 41-700 RUDA SLASKA, POLEN				Phone/Fax: 48 322482048		emotiv design