OFERTA:
 Filtry Optyczne, Soczewk...
 Źródła światła, Mono...
 Analityka i spektroskopia,...
 Lasery, Optyka laserowa, ...
 Obrazowanie, termiczne i ...
 Nowe materiały, Właści...
 Metrologia powierzchniowa,...
 Nanotechnologia, SPM, AF...







SiN-Cantilever

Oferujemy szereg różnych belek SiN (SiN-cantilevers), które można zamówić z lub bez specjalnych warstw. Belki SiN są odpowiednie do pomiarów miękkich próbek (np. próbki pochodzenia naturalnego) w ciekłym środowisku w związku z ich niską stabilnością.


Cantilever od Applied NanoStructures

Oferujemy wysokiej jakości, niezwykłej ostrości belki (cantilevers) od Applied NanoStructures do prawie każdego modu AFM. Oprócz belek do modu kontaktowego i niekontaktowego, oferujemy MFM, EFM, modulator sił (Force-Modulation) oraz końcówki do wysokiego współczynnika kształtu (High Aspect Ratio tips).

Complete List of Cantilevers
PDF-Download (PDF, 477 KB)



Back to Top

 International:

 Szukaj:

Alphabetical Search Index
Sitemap

 Your contact:


Dr. Agnieszka Kowalczyk
Your contact in Poland
Phone: +48 322482048
Fax: +48 322482048
kowalczyk@lot-oriel.com



Dr. Andreas Bergner
Phone: +49 6151 880612
Fax: +49 6151 880689
bergner@lot-oriel.de

 Linki:
Quantum Design:
www.QDUSA.com

 Nowości:
Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
Near Infrared Beam Profiler
New Ultra High Speed Camera Cheetah

LOT-Oriel Polska
E-mail: dluzewski@lot-oriel.com

Szyb Walenty 32
41-700 RUDA SLASKA, POLEN

Phone/Fax: 48 322482048


emotiv design