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Lasers, Optics, Technology |
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Laser ed accessori & Moduli Peltier |
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Laser ed accessori & Moduli Peltier |
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Nanotecnologie |
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Nanotecnologie |
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Biotecnologie |
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Biotecnologie |
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Imaging & Spettroscopia |
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Imaging & Spettroscopia |
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Optoelettronica e Sorgenti di luce |
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Optoelettronica e Sorgenti di luce |
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Metrologia di Superfice e Film Sottili |
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Metrologia di Superfice e Film Sottili |
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Analisi proprietà fisiche e magnetiche dei material |
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Analisi proprietà fisiche e magnetiche dei material |
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Systems Integration |
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Systems Integration |
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Filtri Ottici |
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Filtri Ottici |
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Filtri a banda passante Standard |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (200 - 299 nm) |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (300 - 399 nm) |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (400 - 499 nm) |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (500 - 599 nm) |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (600 - 699 nm) |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (700 - 799 nm) |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (800 - 899 nm) |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (900 - 999 nm) |
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Filtri a banda passante Standard - Specifiche (1000 - 1555 nm) |
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Filtri a banda passante custom |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (0.15 - 0.8 nm) |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (1.0 nm) |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (1.5 nm) |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (2.0 nm) |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (3.0 nm) |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (5.0 nm) |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (10 nm) |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (20 nm) |
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Filtri a banda passante custom - Specifiche (40 - 80 nm) |
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Filtri interferenziali Image Quality |
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Set di filtri standard |
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Controlli di temperatura |
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Set di filtri standard - Specifiche Ultravioletto |
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Set di filtri standard - Specifiche Visibile |
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Set di filtri standard - Specifiche Vicino Infrarosso |
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Set di filtri standard - Specifiche Mercurio |
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Set di filtri standard - Specifiche Zinco Cadmio |
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Filtri Neutral Density - Riflessione |
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Filtri Neutral Density - Riflessione - Specifiche VIS-NIR |
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Filtri Neutral Density - Riflessione - Specifiche UV-VIS-NIR |
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Filtri Neutral Density - Assorbimento |
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Set di filtri Neutral Density |
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Filtri infrarosso |
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Filtri IR custom prodotti singolarmente |
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Filtri olografici |
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Codici Filtri Notch |
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Codici Filtri Notch-Plus |
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Codici Filtri SuperNotch |
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Codici Filtri SuperNotch-Plus |
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Filtri controllo calore |
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Specifiche Specci freddi |
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Specifiche Filtri di controllo calore |
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Specifiche Specchi freddi UV |
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Specifiche Filtri di soppressione IR |
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Filtri Dicroici |
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Specifiche Filtri additivi |
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Specifiche Filtri sottrativi |
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Specifiche Filtri riflettenti |
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Filtri Dicroici Set |
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Filtri a passa alto e passa basso |
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Specifiche VIS Passa alto |
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Specifiche VIS Passa basso |
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Specifiche NIR Passa alto |
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Specifiche NIR Passa basso |
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Set di filtri passa alto e passa basso |
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Filtri di calibrazione per spettrofotometri |
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Filtri in vetro |
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Specifiche Filtri in vetro passabanda |
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Specifiche Filtri in vetro passa alto |
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Beam Splitters |
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Filtri tunabili a cristalli liquidi VariSpec |
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Filtri tunabili a cristalli liquidi VariSpec |
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Filtri tunabili RGB MacroColor |
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Filtri tunabili RGB MacroColor |
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Fibre Ottiche ORIEL INSTRUMENTS |
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Fibre Ottiche |
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Sorgenti di Luce |
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Light Sources for Research, Development and Industry |
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Spatial Light Modulator (SLM) |
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Spatial Light Modulator (SLM) |
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Monocromatori e Spettrografi |
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Monocromatori e Spettrografi |
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Sfere di integrazione |
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Integrating Spheres |
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Sistemi di Luminanza/Radianza |
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Sistemi per la Misura della Luce |
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Goniofotometri |
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Standards e Targets |
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Radiometri/Colorimetri |
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Calibrazione |
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Sistemi di detection multicanale |
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EUV and X-Ray CCD Detectors |
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ICCD Detectors |
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CCD Line Detectors |
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Spin Coater |
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Spin Coater |
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Nuance |
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Nuance |
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Moduli a diodo Laser |
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Moduli a diodo Laser |
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Laser a CO2 di marcatura |
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Laser a CO2 di marcatura |
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Misuratori di Potenza |
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Misuratori di Potenza |
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PocketMonitor |
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PowerMonitor |
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BeamMonitor |
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Laser Quality Monitor |
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FocusMonitor |
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MicrospotMonitor |
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ActiveBeam |
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PolarizationMonitor |
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Absorber |
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Telecamere IR |
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Telecamere IR |
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XenICs |
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OPGAL |
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CANTRONIC |
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Camere High Speed |
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Highspeed Cameras |
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Riflettografia ad Infrarosso |
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Riflettografia ad Infrarosso |
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Misuratori di livello di fluidi criogenici |
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Misuratori di livello di fluidi criogenici |
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Sistemi PPMS |
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PPMS Physical Property Measurement System |
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Nitrolab PPMS |
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16 Tesla PPMS |
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P525 Vibrating Sample Magnetometer |
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Sistema SQUID (MPMS) |
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MPMS Magnetic Property Measurement System |
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MPMS Evercool |
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Sonde per Microscopia a Forza Atomica |
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Sonde per Microscopia a Forza Atomica |
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Analisi di Nanodurezza, Scratching, Test di Impatto |
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Piattaforma modulare per Analisi di Nanodurezza, Scratching, Test di Impatto |
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Scegli la configurazione del tuo Sistema NanoTest 600 |
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NanoTest 600 - Principali Caratteristiche Tecniche |
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Indentatori Disponibili |
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Modelli di Curve Ottenibili con il NanoTest 600 |
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Ellissometria Spettroscopica |
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Ellissometria Spettroscopica |
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Ellissometro Spettroscopico VASE |
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Ellissometro Spettroscopico Veloce M2000 |
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Ellissometro Spettroscopico MASE |
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Ellissometro Spettroscopico Alpha-SE |
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Ellissometro Spettroscopico VUV-VASE |
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Ellissometro Spettroscopico IR-VASE |
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Mercury 100 AFM |
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Mercury 100 AFM |
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Pulsed Force Mode |
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Pulsed Force Mode |
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AlphaSNOM |
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AlphaSNOM |
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Digital Pulsed Force Mode |
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Digital Pulsed Force Mode |
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CRM 200 |
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CRM 200 - Microscopio Confocale Raman |
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NewView 7000 - Profilometro Ottico 3D |
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NewView 7000 - Profilometro Ottico 3D |
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NewView Delta |
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NewView Delta |
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GPI - Interferometro di Fizeau |
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GPI - Interferometro di Fizeau |
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ZMI - Interferometri |
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ZMI - Interferometri |
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Controller SPM Nanonis |
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Controller SPM Nanonis |
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PTI - Interferometro |
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PTI - Interferometro |
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VeriFire AT - Interferometro |
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VeriFire AT - Interferometro |
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Microscopia a Forza Atomica |
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Microscopia a Forza Atomica |
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NanoWizard II BioAFM |
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CellHesion Development Kit |
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The Tip Assisted Optics Module - TAO |
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BioMAT™ Workstation |
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BioCell |
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High Temperature Heating System |
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Heating-Cooling Stage for SPM applications - HCS |
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FlashPhase |
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FlashPhase - Interferometria in ambienti non controllati |
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Spinning disk per microscopia confocale |
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Spinning disk per microscopia confocale |
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Termografia ad impulso |
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Termografia ad impulso, Test Non Distruttivi |
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ThermoScope II |
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Press Release - Shuttle Inspection |
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Camere C-MOS |
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Camere CMOS per applicazioni scientifiche ed industriali |
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Laser per la Ricerca |
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Laser per la Ricerca |
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Kerr Magnetometer |
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Kerr Magnetometer NanoMOKE |
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Vibrating Sample Magnetometer |
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Vibrating Sample Magnetometer (VSM) |
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VSM - Properties and Options |
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VSM - Applications and Models |
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VSM - Model Overview |
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Detector a Singolo Canale |
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Detector a Singolo Canale |
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Alpha 300R |
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Alpha 300R |
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Alpha 300A |
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Alpha 300A |
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Alpha 300S |
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Alpha 300S |
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NewView 600s |
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NewView 600s |
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Sistemi Gel Imager |
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Sistemi Gel Imager |
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Bio chem Imager |
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Componenti dei Sistemi Gel Imager |
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Gel iX Imager / Gel Jet Imager |
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Accessori per Microscopia |
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Accessori per Microscopia |
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EZ Pick-Micro-Manipulator |
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Diamond Scrabbler |
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Micro Sampling Knife |
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Mini Plane Micro Sampling Knife |
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Micro Vice Sample Holder |
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ProgRes C10 plus |
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Video-Camere Optic-Axis |
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Laser a diodo ad alta qualità di fascio |
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Laser a diodo ad alta qualità di fascio |
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Deepstar: Diodo Modulabile al 100% |
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Laser a Banda Stretta |
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Laser ad Alta Potenza |
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Moduli LED |
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VeriFire Asphere - Interferometro laser per la Metrologia 3D a non contatto di superfici asferiche |
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VeriFire Asphere - Interferometro laser per la Metrologia 3D a non contatto di superfici asferiche |
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Analizzatore di dimensioni di particelle CPS |
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Analizzatore di dimensioni di particelle CPS |
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NanoSpectralyzer |
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NanoSpectralyzer |
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FluoroSENS - Fluorimentro |
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FluoroSENS - Fluorimentro |
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ProgRes: Camere CCD per microscopia |
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ProgRes: Camere CCD per microscopia |
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Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) |
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Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) |
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Modì: sistema LIBS integrato |
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Modì: sistema LIBS integrato |
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Scientific Articles |
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Strumenti per la misura della Luce INTERNATIONAL LIGHT |
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Strumenti per la misura della Luce INTERNATIONAL LIGHT |
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Radiometri International Light |
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Spettroradiometri International Light |
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CT Systems for the µm and nm range |
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CT Systems for the µm and nm range |
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Solar Simlators |
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Solar Simlators |
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Photovoltaic: CCD Detectors |
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Photovoltaic: CCD Detectors |
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Ellipsometers for Photovoltaics |
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Ellipsometers for Photovoltaics |
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Photovoltaics: Photoluminescence Mappers |
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Photovoltaics: Photoluminescence Mappers |
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Photovoltaic Panel Solutions |
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Photovoltaic Panel Solutions |
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Photovoltaics: Xenics IR cameras |
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Photovoltaics: Xenics IR cameras |
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Fotovoltaico |
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Fotovoltaico |
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MPMS SQUID VSM |
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MPMS SQUID VSM |
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SQUID Measurement Systems |
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SQUID Measurement Systems |
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High Temperature Superconducting Magnets, Current Leads and Components |
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High Temperature Superconducting Magnets, Current Leads and Components |
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Temperature Controllers, Monitors and Sensors |
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Temperature Controllers, Monitors and Sensors |
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VersaLab™ – 3 Tesla Cryogen-free VSM |
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VersaLab™ – 3 Tesla Cryogen-free VSM |
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American Magnetics Inc. – Magneti superconduttori e sistemi criomagnetici |
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American Magnetics Inc. – Magneti superconduttori e sistemi criomagnetici |
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PPMS DynaCool™ Cryogen-free Physical Property Measurement System |
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PPMS DynaCool™ Cryogen-free Physical Property Measurement System |
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NanoInk NLP 2000 |
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NanoInk NLP 2000 |
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NanoInk DPN 5000 |
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NanoInk DPN 5000 |
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Moduli Peltier |
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Moduli Peltier |
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Sistemi Nanosurf: STM e AFM compatti e dalle alte prestazioni |
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Sistemi Nanosurf: STM e AFM compatti e dalle alte prestazioni |
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Eureka - QCM con connessione USB |
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Eureka - QCM con connessione USB |
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NanoTracker |
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NanoTracker |
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CellHesion |
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CellHesion 200 - single cell force testing solution for cell adhesion and elasticity studies |
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Omicron Nanotechnology |
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Omicron Nanotechnology |
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THz-spectroscopy and 3D imaging |
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THz-spectroscopy and 3D imaging |
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THz-Spectroscopy system TPS spectra 3000 |
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THZ-imaging systems TPS imaga 1000 & 2000 |
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Special Evolution |
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Special Evolution |
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Laser a Disco |
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Laser a Disco |
Contatti |
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Contatti |
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Contatti |
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Alessandro Baratti |
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Loredana de Pace |
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Ufficio di Roma |
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Emanuela Fornasari |
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Monica Gazerro |
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Arianna Girotto |
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Roberto Lauzi |
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Antonella Maldarella |
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Manuela Notte |
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Simone Paziani |
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Arianna Ramberti |
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Stefano Schutzmann |
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Laura Tempini |
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Diego Vitaglione |
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Eventi |
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LOT-Oriel - Eventi |
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Archivio Eventi |
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Archivio Eventi |
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SEMINARIO "TECNICHE DI MISURA DELLA LUCE -TEORIA E APPLICAZIONI" |
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Society of Experimental Test Pilot |
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Seminari di Ellissometria Spettroscopia |
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Premio per il miglior esperimento di Fisica |
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LOT Oriel Italia... una sponsorizzazione vincente! |
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Nanoscale Biomaterials Deposition |
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Nanoscale Biomaterials Deposition |
Spectrum |
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Spectrum |
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LOT-Oriel - Spectrum |
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European Edition 10 |
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Non-invasive 3D imaging in high resolution |
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Applications for SWIR InGaAs cameras |
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Citius imaging high speed video cameras |
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PTI250 – 3D measurement of hip and intervertebral disc implants |
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Interferometric metrology - VeriFire Asphere |
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Extended range of Fizeau objectives |
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PPMS-SPM – A brand new surface dimension in our Physical Property Measurement System |
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HTS-110 cryogen-free superconducting AC magnet |
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Nanoarrays made of hydrogel by DPN technology |
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Special offer: Nanospectralyzer™ for single-walled carbon nanotubes |
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In-situ combination of QCM-D and ellipsometry |
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Probe stations – test systems for chips and wafers |
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Specim launches Raman Spectrographs |
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High-sensitivity fluorescence spectroscopy with surface plasmons |
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