PRODOTTI:
 Ottiche per laser industri...
 LASER ed Accessori
 Nanotecnologie
 Biotecnologie
 Imaging & Spettroscopia
 Metrologia ed Interferomet...
 Optoelettronica e Sorgenti...
 Analisi proprietà fisiche...
 Systems Integration
 Service & Marketing









  Choose a page from "Termografia ad impulso"


Thermal Wave Imaging

Fino ad ora i più comuni metodi per i test non distruttivi di materiali sono stati quelli ad ultrasuoni e a raggi X. Entrambe queste tipologie di ispezioni presentano lo svantaggio di essere delle procedure lente e di richiedere un buon livello di preparazione da parte degli operatori, specialmente in ambito di applicazioni industriali.

La Thermal Wave Imaging (TWI) con il sistema EchoTherm™ supera queste difficoltà mettendo un facile e potente strumento per i CND nelle mani di operatori anche senza esperienza non richiedendo l’intervento di tecnici specialisti nel settore dei Test Non Distruttivi.

Il sistema EchoTherm™ si basa sulla termografia ad impulso. Il calore viene applicato sul campione attraverso una flash lamp allo Xenon e la dissipazione di calore è poi tracciata con una camera termica high speed.

Una buona saldatura o comunque l’integrità del pezzo sotto esame sarà caratterizzata da una rapida dissipazione del calore attraverso il materiale, mentre la presenza di un difetto tratterrà il calore più a lungo.



Il software incluso nel pacchetto permette una valutazione delle immagini acquisite in modo automatico ed ottimizzata per mostrare la regione di interesse. Il sistema EchoTherm può quindi essere integrato come sistema di controllo automatico nei processi di manufacturing.

La proprietà dei metodi di imaging all’infrarosso di ispezionare in modo veloce vaste aree senza la necessità di contatto od immersione, li rende una valida alternativa alle altre tecniche impiegate nei controlli non distruttivi quali ultrasuoni ed eddy current.

L’ultimo prodotto della TWI è il ThermoScope™, un sistema portatile e completo che combinato ad una camera IR analizza e valuta i dati utilizzando pochi semplici controlli. Il sistema presenta, sulla testa di ispezione dal design compatto, un monitor LCD per l’immediata valutazione del test eseguito ed una lampada a flash allo Xenon per il riscaldamento del campione che rende l’ispezione semplice come non lo è mai stato.

Il software estremamente potente e facile da usare, è progettato per permettere che l’ispezione sia eseguita velocemente ed in modo efficiente. I risultati sono immediatamente presentati all’operatore in modo tale che il processo di produzione possa essere interrotto se necessario.

La TWI è presente nel campo dei CND IR da molti anni ed ha il suo mercato principale negli USA. Il sistema IR NDT EchoTherm è ampiamente impiegato dalle industrie automobilistiche (Ford, General Motors, Daimler Chrysler, e Nissan) e da quelle aerospaziali (Boeing, Lockheed-Martin, Northrop Grumman e NASA) oltre che in un gran numero di applicazioni di tipo industriale come l’ispezione di celle solari, di schede a circuiti stampati o di condutture.
I sistemi EchoTherm™ e ThermoScope™ cambieranno il Vostro metodo di ispezione nel campo dei NDT.

Ulteriori informazioni sono disponibili sul Thermal Wave Imaging Website.

Pages in this Chapter
Termografia ad impulso
ThermoScope II
Press Release - Shuttle Inspection

Document Download
Advanced Tools for Thermographic Nondestructive Inspection - TWI Brief (PDF, 326 KB)
SPIE Thermosense 2004 - Experimental Considerations in Vibrothermography (PDF, 54 KB)
SAMPE Journal September 2003 (PDF, 1,6 MB)
Aging Aircraft Conference - Improving In-Service Inspection of Composite Structures (PDF, 964 KB)
Echotherm V6 (PDF, 128 KB)
Thermoscope DM (PDF, 206 KB)
MOSAIQ™ (PDF, 167 KB)
Precision Flash Controller (PDF, 130 KB)


torno all'inizio

 International:

 Search:

Alphabetical Search Index
Sitemap

 Il Vostro contatto:


Simone Paziani
Tel: 06 5004204
Fax: 06 5010389
paziani@lot-oriel.it

 Link correlati:
Quantum Design:
www.QDUSA.com

 Novità:
Nuova Sorgente a Diodo Laser: "BluePhoton488"
Ampia gamma di ottiche difrattive per generazione di array di punti, linee, cerchi.
Eureka - QCM con connessione USB
Surface Plasmon Spectroscopy (SPS)
BioMAT™ Workstation: analisi AFM e ottica simultanea su campioni opachi
Q-Sense E1
Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
Laser Quality Monitor
CPS Disc Centrifuges
Laser a diodo ad alta qualità di fascio
Specchi Deformabili (Variable Radius Mirrors - VRM)
NewView 600s - Profilometro 3D per metrologia di superfici - Interferometro a luce bianca
Laser per la Ricerca
Nuovo Ellissometro Spettroscopico Alpha-SE
Microscopia a Forza Atomica
Spinning disk per microscopia confocale
Imaging IR

LOT-Oriel Italia
E-mail: info@lot-oriel.it

Via Costa, 31
20131 Milano
Tel: 02 26822104
Fax: 02 26825007

Via Sapori, 27
00143 Roma
Tel: 06 5004204
Fax: 06 5010389


emotiv design