PRODOTTI:
 Ottiche per laser industri...
 LASER ed Accessori
 Nanotecnologie
 Biotecnologie
 Imaging & Spettroscopia
 Metrologia ed Interferomet...
 Optoelettronica e Sorgenti...
 Analisi proprietà fisiche...
 Systems Integration
 Service & Marketing









  Choose a page from "Ellissometria Spettroscopica"


Il Piccolo Ellissometro Spettroscopico α-SE™

E' plug&play, veloce, compatto e potente. Il nuovo ellissometro "entry-level" di Woollam offre facilità di utilizzo e prestazioni di ottimo livello.


Caratteristiche principali

Facilità d'uso - Hardware e Software estremamente semplici
Flessibile - Analizza ogni tipo di film sottile e di materiale
Potente - Tecnologia derivata dai sistemi Woollam di punta
Veloce - 180 lunghezze d'onda misurate simultaneamente
Economico - Paragonabile ai sistemi a singola lunghezza d'onda




Tecniche di misura:

Ellissometria in riflessione
Angolo variabile manualmente
Spessori e Indici di rifrazione di film sottili multistrato


Caratteristiche Tecniche

Intervallo spettrale: 370 - 900 nm (180 lunghezze d'onda)
Angoli di incidenza: 70° o 90°
Interfaccia Computer: USB Allineamento automatico del campione
Tempo di misura: 3 secondi (Fast mode) - 10 secondi (Standard mode) - 30 secondi (Long mode)




PDF Download
alpha-SE Brochure (PDF, 733 KB)

Video
Alpha-SE Video (WMV, 1,3 MB)


torno all'inizio

 International:

 Search:

Alphabetical Search Index
Sitemap

 Il Vostro contatto:


Stefano Schutzmann
Tel: 06 5004204
Fax: 06 5010389
schutzmann@lot-oriel.it



Diego Vitaglione
Tel: 06 5004204
Fax: 06 5010389
vitaglione@lot-oriel.it

 Link correlati:
Quantum Design:
www.QDUSA.com

 Novità:
Nuova Sorgente a Diodo Laser: "BluePhoton488"
Ampia gamma di ottiche difrattive per generazione di array di punti, linee, cerchi.
Eureka - QCM con connessione USB
Surface Plasmon Spectroscopy (SPS)
BioMAT™ Workstation: analisi AFM e ottica simultanea su campioni opachi
Q-Sense E1
Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
Laser Quality Monitor
CPS Disc Centrifuges
Laser a diodo ad alta qualità di fascio
Specchi Deformabili (Variable Radius Mirrors - VRM)
NewView 600s - Profilometro 3D per metrologia di superfici - Interferometro a luce bianca
Laser per la Ricerca
Nuovo Ellissometro Spettroscopico Alpha-SE
Microscopia a Forza Atomica
Spinning disk per microscopia confocale
Imaging IR

LOT-Oriel Italia
E-mail: info@lot-oriel.it

Via Costa, 31
20131 Milano
Tel: 02 26822104
Fax: 02 26825007

Via Sapori, 27
00143 Roma
Tel: 06 5004204
Fax: 06 5010389


emotiv design