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Alpha 300R, è un Microscopio a Scansione Confocale Raman ad altissima risoluzione in grado di acquisire :
 | Imaging Spettrale Raman (acquisizione di spettri completi Raman ad ogni pixel)
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| MicroRaman : acquisizione di spettri su aree selezionate
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| Raman Fast Imaging : Imaging Raman 3d alta risoluzione a numeri d'onda fissi
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E’ inoltre possibile eseguire scansioni in profondità lungo linee arbitrarie, acquisire serie temporali, e condurre esperimenti in modalità SERS (Spettroscopia superficiale potenziata Raman), la quale permette la rilevazione di segnali Raman provenienti anche da una singola molecola.
La combinazione ad alta efficienza tra i componenti ottici del microscopio e lo spettrografo, e l’uso di rivelatori ad altissima sensibilità riducono il tempo di integrazione tipico nell’ordine dei millisecondi per pixel. Conseguentemente la registrazione di una completa immagine richiede solo pochi minuti.
L’elettronica di controllo digitale a tecnologia FPGA (Field Programmable Gate Array) ed il nuovo detector EMCCD (electron multiplying charge coupled devices) hanno ulteriormente migliorato le prestazioni dello strumento in termini di sensibilità e velocità di acquisizione. Rispetto ad una convenzionale CCD retro-illuminata, la versione EMCCD consente infatti di ridurre i tempi di integrazione fino a un fattore 10 con inalterata sensibilità.
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Tutti gli spettri e le immagini vengono salvati, immagazzinati e processati mediante il potente software Witec Project, che consente, tra le altre funzioni, le interazioni tra diverse immagini ed una serie di operazioni matematiche e procedure di fitting.
L’architettura modulare dell’Alpha300R lo rende facilmente estendibile alle tecniche AFM e Near-Field. |
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| PDF Download |
| alpha300 R – Confocal Raman Microscope (PDF, 1 MB) |
| alpha500 – Automated Confocal Raman & Atomic Force Microscope (PDF, 1,5 MB) |
| alphaControl - Digital Controller for Scanning Probe & Confocal Raman Microscopy (PDF, 762 KB) |
| WITec Software (PDF, 1,3 MB) |
| Customer Report: SurModics Inc. – Bringing Solutions to the Surface (PDF, 874 KB) |
| CR-AFM 1 - Stress in Si (PDF, 1,7 MB) |
| High Resolution Imaging and Chemical Characterization of Heterogeneous Materials (PDF, 255 KB) |
| Chemical Imaging without Dyeing (PDF, 324 KB) |
| Carbon Nanotubes – A Study Based on Confocal Raman Microscopy and AFM (PDF, 983 KB) |
| Nondestructive, High-Resolution Materials Characterization with the Confocal Raman-AFM (PDF, 589 KB) |
| Cell wall Characterisation of Reaction Wood by Confocal Raman Microscopy (PDF, 342 KB) |
| Sweeping the Skies: Stardust and the Origin of Our Solar System (PDF, 330 KB) |
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