Articoli


ARTICOLI RASSEGNA STAMPA
TITOLO RIVISTA DATA ARGOMENTO
L.O.T. Oriel: Nelle nanotecnologie, gli strumenti giusti (PDF, 271 KB) PMI Feb 06 Nanotecnologie
L.O.T. Oriel Italia oggi (PDF, 191 KB) PMI Feb 06 L.O.T. Oriel Italia


ARTICOLI COMMERCIALI
TITOLO RIVISTA DATA ARGOMENTO
La Microscopia Confocale Raman nell'analisi degli alimenti (PDF, 1,2 MB) Laboratorio 2000 Dicembre 2006 Nanotecnologie
Profilometro Zygo 3D per Metrologia di Superfici (PDF, 180 KB) Tutto Misure Settembre 06 Metrologia
Microscopio a Forza Atomica Nano-R2™ Pacific Instruments con testa Crystal Scanner™ (PDF, 298 KB) Tutto Misure Feb 02 Microscopia a forza atomica


ARTICOLI RICERCA
TITOLO RIVISTA DATA ARGOMENTO
Volumetric determination of the wear of ceramics for hip joints (PDF, 292 KB) Biomaterials June 2001 Metrologia
Ultrashort laser ablation of solid in vaccum: a comparison between the picosecond and femtosecond regimes (PDF, 269 KB) Journal of Physics B: Atomic, Molecular and Optical Physics Settembre 05 Laser Ablation
Kinetics of Proton Release after Flash Photolysis of 1-(2-Nitrophenyl)ethyl Sulfate (Caged Sulfate) in Aqueous Solution (PDF, 302 KB) JACS Article Jun 05 Spettroscopia
Characterization of laser ablation of solid targets with near-infrared laser pulses of 100 fs and 1 ps duration (PDF, 385 KB) Science Direct Ottobre 05 Laser Ablation
Pulsed laser ablation of SiC in a nitrogen atmosphere: formation of CN (PDF, 1,6 MB) Applied Physics A Nov 03 Spettroscopia
Propagation dynamics of a LaMnO3 laser ablation plume in a oxygen atmosphere (PDF, 792 KB) Journal of Applied Physics 100 luglio 05 Laser Ablation



 International:

 Search:

→ Alphabetical Search Index
→ Sitemap

 Link correlati:
Quantum Design:
→ www.QDUSA.com

 Novità:
→ Nuova Sorgente a Diodo Laser: "BluePhoton488"
→ Ampia gamma di ottiche difrattive per generazione di array di punti, linee, cerchi.
→ Eureka - QCM con connessione USB
→ Surface Plasmon Spectroscopy (SPS)
→ BioMAT™ Workstation: analisi AFM e ottica simultanea su campioni opachi
→ Q-Sense E1
→ Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
→ Laser Quality Monitor
→ CPS Disc Centrifuges
→ Laser a diodo ad alta qualità di fascio
→ Specchi Deformabili (Variable Radius Mirrors - VRM)
→ NewView 600s - Profilometro 3D per metrologia di superfici - Interferometro a luce bianca
→ Laser per la Ricerca
→ Nuovo Ellissometro Spettroscopico Alpha-SE
→ Microscopia a Forza Atomica
→ Spinning disk per microscopia confocale
→ Imaging IR

LOT-Oriel Italia
E-mail: info@lot-oriel.it

Via Costa, 31
20131 Milano
Tel: 02 26822104
Fax: 02 26825007

Via Sapori, 27
00143 Roma
Tel: 06 5004204
Fax: 06 5010389


emotiv design