Accueil |
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Lasers, Optics, Technology |
Produits |
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Produits |
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LOT-Oriel - Produits |
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Composants optiques, Fibres optiques |
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Composants optiques, Fibres optiques |
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Sources lumineuses, Monochromateurs/Spectrographes, Systèmes de détection |
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Sources lumineuses, Monochromateurs/Spectrographes, Systèmes de détection |
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Analyse des Surfaces et Couches Minces |
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Analyse des Surfaces et Couches Minces - AFM – Ellipsomètres – Interféromètres – Profilomètres – Rug |
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Mesures magnétiques |
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Mesures magnétiques |
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Imagerie et Infrarouge |
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Imagerie et Infrarouge |
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Laser et accessoires |
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Laser et accessoires |
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Imagerie pour Biologistes |
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Imagerie pour Biologistes |
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Filtres interférentiels |
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Filtres interférentiels |
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Filtres usuels ou standard |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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filtres passe-bande courants - Spécifications |
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Filtres spéciaux ou 'custom' |
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Spécifications (0,15 - 0,8 nm) |
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Spécifications (1,0 nm) |
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Spécifications (1,5 nm) |
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Spécifications (2,0 nm) |
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Spécifications (3,0 nm) |
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Spécifications (5,0 nm) |
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Spécifications (10 nm) |
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Spécifications (20 nm) |
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Spécifications (40 - 80 nm) |
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Filtres 'Qualité Image' |
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Sources lumineuses continues |
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Light Sources for Research, Development and Industry |
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Polscope |
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PolScope - Imaging System for polarisation-microscopy |
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Monochromateurs/Spectrographes |
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Monochromateurs et Spectrographes |
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Pointes AFM |
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Pointes AFM |
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Sphères intégrantes |
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Sphères intégrantes |
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Fibres optiques |
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Fibres optiques |
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Caméras à détecteurs linéaires |
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Caméras à détecteurs linéaires |
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Zygo NewView 7000: Métrologie des Surfaces |
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Zygo NewView 7000: Métrologie des Surfaces |
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Zygo Verifire XP/D & Verifire AT+: Métrologie des Surfaces |
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Zygo Verifire XP/D & Verifire AT+ Métrologie des Surfaces |
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Ellipsomètres |
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Ellipsomètres |
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VASE - Ellipsomètre multi-longueur d'onde à angle variable |
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M2000 - Ellipsomètre multi longueur d'onde à barette de photodiodes |
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IR-VASE - Ellipsomètre spectroscopique infrarouge |
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Magnétomètre à SQUID |
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Magnétomètre à SQUID |
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Nuance |
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Nuance |
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Maestro |
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Maestro - In-Vivo Imaging System |
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Nanowizard |
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NanoWizard - Microscope à Force Atomique (AFM) |
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Station de travail BioMaterials |
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Détecteurs Mono canal |
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Détecteurs Mono canal |
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Corps noirs |
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Corps noirs |
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Magnétomètres à échantillon vibrant |
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Magnétomètres à échantillon vibrant |
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Caméras CMOS |
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Caméras CMOS |
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Abrio |
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Systèmes d’imagerie en lumière polarisée Abrio et LC-Polscope de CRi |
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Spatial Light Modulators (SLM) |
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Spatial Light Modulators (SLM) |
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Composants Infrarouges |
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Composants Infrarouges |
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Matériaux infrarouges ZnSe, ZnS, Ge, AsGa, CdTe |
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Lentilles |
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Lentilles Scan F-Theta |
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Miroirs |
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Supraconducteur Haute température |
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Supraconducteur Haute température |
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Systèmes à aimant supraconducteur et Composants électroniques |
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Systèmes à aimant supraconducteur et Composants électroniques |
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Trans-illuminateurs pour l’imagerie des gels d’électrophorèse |
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Trans-illuminateurs pour l’imagerie des gels d’électrophorèse |
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Caméras rapides |
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Caméras rapides |
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Granulomètre Centrifuge CPS |
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Granulomètre Centrifuge CPS |
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Zygo NewView 600s: Métrologie des Surfaces |
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NewView 600s: Métrologie des Surfaces |
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Zygo GPI Flash Phase: Métrologie des Surfaces |
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GPI Flash Phase: Métrologie des Surfaces |
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Zygo PTI250: Métrologie des Surfaces |
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PTI250: Métrologie des Surfaces |
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Microscopie AFM |
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Microscopie AFM - Pacific NanoTechnology – JPK Instruments |
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Microscopie Interférométrique |
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Microscopie Interférométrique - ZYGO NewView – Rugosimètres/Profilomètres 3D |
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Interférométrie – Profilométrie |
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Interférométrie – Profilométrie |
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Mises à jour Zygo pour GPI et Mark |
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Mises à jour Zygo pour GPI et Mark |
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Détecteurs CCD/EMCCD/CMOS |
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Détecteurs CCD/EMCCD/CMOS |
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Détecteurs CCD |
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Détecteurs EMCCD |
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Cour intéractif EMCCD |
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Caméras à détecteurs linéaires |
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Spectrographes |
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Polariseur colorPol® - Polariseurs dichroïque |
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Polariseur colorPol® - Polariseurs dichroïque |
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Polariseur colorPol Laserline |
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Caméra OPTRION : Holographie Interférométrique |
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Caméra OPTRION : Holographie Interférométrique |
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Imagerie hyperspectrale |
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Imagerie hyperspectrale |
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NScriptor de NanoInk |
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NScriptor de NanoInk |
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Microbalances à Quartz QCM-D Q-Sense |
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Microbalances à Quartz QCM-D Q-Sense |
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Q-Sense E4 |
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Q-Sense D300 |
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Cristaux de quartz |
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Protocoles d'immobilisation |
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Modules de mesure Q-Sense |
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Zygo Verifire PE : anti-vibrations |
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Zygo Verifire PE : anti-vibrations |
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ZYGO Verifire Asphere |
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ZYGO Verifire Asphere |
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ZYGO : optiques de références (TF & TS) |
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ZYGO : optiques de références (TF & TS) |
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ZYGO : optiques de haute précision |
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ZYGO : optiques de haute précision |
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NanoTracker |
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NanoTracker |
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Nanotechnology, SPM, AFM |
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Nanotechnologies |
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Mesure de FTM |
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Mesure de FTM |
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Caméra Photométrique |
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Caméra Photométrique |
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Special Evolution |
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Special Evolution |
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Corps gris |
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Corps gris |
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Sources étendues |
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Sources étendues |
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Sources étendues CES100 |
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Sources étendues LES100 |
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Sources étendues CES200 |
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Sources étendues CES600 & CES800 |
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Caméras infrarouges |
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Caméras infrarouges |
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Caméra de thermographie |
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Xenics Caméras Xmid |
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Xenics Caméras Xeva |
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Xenics Caméras Gobi |
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Xenics Caméras Onca |
Contacts |
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Contacts |
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Contacts |
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Anne Duprat (Ingénieur technico-commercial) |
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Stéphane Marin (Responsable SAV) |
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Isabelle Serre (Ingénieur technico-commercial) |
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Isabelle Soares (Assistante commerciale) |
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Lionel Sudrie (Ingénieur technico-commercial) |
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Nicolas Tcherbak (Ingénieur technico-commercial) |
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Georges Vejnar (Gérant) |
Evenements |
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Evénements |
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LOT-Oriel - Events |
Spectrum |
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Spectrum |
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LOT-Oriel - Spectrum |
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European Edition 9 |
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New Cantilever Catalog |
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Ellipsometry-workshop 2009 |
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Training course on ellipsometry data analysis: CompleteEASE software |
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Quantitative force measurements with optical tweezers: The JPK NanoTracker™ |
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Immunohistochemistry – Multi-label microscopy without spectral or spatial cross-talk |
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Centurio C 100 – High-speed camera with new „data logger“ |
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Zygo fizeau interferometer to measure the shape of optical surfaces |
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Medical implant process control with ZYGO interferometers |
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ZYGO NewView for thin film solar cells |
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The new NLP 2000 – Nanofabrication made easy |
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DPN 5000 – The new flagship of Dip Pen Nanolithography |
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Characterisation of solar cells – Quantum efficiency measurements |
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SisuChema – Spatially resolved spectroscopy in chemistry, pharmacy and food technology |
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Explore the power of evanescent fields – Glass transition temperature in thin polymer films |
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CCD detectors for the quality control of solar cells |
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New from Andor: Microspectroscopy using dynamic slit |
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Structural change of adsorbed protein layer |
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Taking the chore out of running QCM-D experiments |
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European Edition 8 |
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HYDRA cantilevers for BioAFM |
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High-resolution imaging with the Bio-AFM system NanoWizard II |
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Photovoltaic in ellipsometry |
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Non-invasive 3D imaging of biological to advanced materials in high resolution |
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Extended coverage of XEVA and XS cameras from SWIR into the visible |
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Low cost CCD cameras with EM (electron multiplication) technology |
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Everything you want to know about light sources |
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The Cryogenic Control Systems – state-of-the-art electronic equipment |
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VersaLab VSM magnetometer – a new workhorse for magnetic material characterization |
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Optical filters UV – FIR |
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Multispectral imaging – quick and easy |
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New light source – the CPS disc centrifuge is now even more sensitive |
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Solar cell IV-curve characterization – virtually any application possible |
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Single wall carbon nanotubes: a new trend in biotechnology? |
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CCD line array cameras at good value for money |
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The RT-08 SPR spectrometer has arrived |
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European Edition 7 |
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Applied Nanostructures - AFM cantilevers |
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The Nano-DST™ - high-speed AFM with atomic resolution |
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The new Nano-E™ AFM system for standard research and education |
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Ellipsometry-Workshop 2008 |
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Photovoltaic applications of spectroscopic ellipsometry |
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Ellipsometry workshop, July 2nd 2008 in Spain |
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NewView 7000 series - advanced, high performance 3D optical profilers |
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High end Cheetah aims at high speed SWIR imaging |
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Everything you want to know about light sources |
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Magnetometry & More |
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Nano impact testing of surfaces |
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Informal seminar on measurements of mechanical properties |
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New Andover filter catalog |
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Visit the VLOC Waveplate Store |
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Disc centrifuge for high resolution particle size measurement |
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Thin film characterization by Surface Plasmon Resonance (SPR) |
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Studying cell interactions using the Q-Sense window module |
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European Edition 6 |
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Nano-DST |
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AFM cantilevers |
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Nano-Rp capabilities in particles characterization |
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BioMat workstation - imaging opaque samples |
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Training course on Ellipsometry data analysis |
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New camera developments in NIR and IR imaging |
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Citius high speed cameras |
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The iHelium-3 magnetometer |
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PPMS - The Swiss knife for your physical laboratory |
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High temperature nanoindentation |
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High throughput filters for fluorescence spectroscopy |
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Ultra steep short pass filters |
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New InGaAs detectors for NIR spectroscopy |
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QCM-D E4: Tracking changes at the surface |
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Spectrum - Inscription |
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Spectrum - Inscription |
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European Edition 10 |
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Non-invasive 3D imaging in high resolution |
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Applications for SWIR InGaAs cameras |
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Citius imaging high speed video cameras |
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PTI250 – 3D measurement of hip and intervertebral disc implants |
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Interferometric metrology - VeriFire Asphere |
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Extended range of Fizeau objectives |
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PPMS-SPM – A brand new surface dimension in our Physical Property Measurement System |
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HTS-110 cryogen-free superconducting AC magnet |
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Nanoarrays made of hydrogel by DPN technology |
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Special offer: Nanospectralyzer™ for single-walled carbon nanotubes |
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In-situ combination of QCM-D and ellipsometry |
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Probe stations – test systems for chips and wafers |
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Specim launches Raman Spectrographs |
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High-sensitivity fluorescence spectroscopy with surface plasmons |
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