PRODUITS:
 Composants optiques, Fibre...
 Sources lumineuses, Monoch...
 Analyse des Surfaces et Co...
 Mesures magnétiques
 Imagerie et Infrarouge
 Imagerie pour Biologistes
 Laser et accessoires
 Nanotechnologies
 Granulomètre Centrifuge C...








Analyse des Surfaces et Couches Minces

Microscopie AFM et Nanotechnologie
Pacific NanoTechnology – JPK Instruments – NanoInk
Microscopie Interférométrique
ZYGO NewView –
Rugosimètres/Profilomètres 3D
Ellipsométrie Spectroscopique
Woollam
Interférométrie - Profilométrie
ZYGO Verifire, GPI & PTI250
Interférométrie Holographique
OPTRION Caméra haute-résolution
Microbalances à Quartz QCM-D
Q-Sense
UV-VIS-NIR Spectroradiometer  



 International:

 Recherche:

Recherche alphabétique
Plan du site

 Liens:
Quantum Design:
www.qd-international.com

 Actualités:
Optikos : caractérisation des optiques
X-Radia
CamScan
Teraview
Witec
Asmec

LOT Oriel France
E-Mail: contact@lot-oriel.fr

ZAC de la Bonde
15 rue du Buisson aux Fraises
Bâtiment C
91 300 Massy

Tel: 01 69 19 49 49
Fax: 01 69 19 49 30


emotiv design