SPECTRUM:
 Spectrum
 Deutsche Ausgabe 119
 Deutsche Ausgabe 118
 Deutsche Ausgabe 117
 Deutsche Ausgabe 116
 Deutsche Ausgabe 115
 Deutsche Ausgabe 114
 Deutsche Ausgabe 113
 Deutsche Ausgabe 112
 Deutsche Ausgabe 111
 Deutsche Ausgabe 110
 Deutsche Ausgabe 109
 Deutsche Ausgabe 108
 Deutsche Ausgabe 107
 Deutsche Ausgabe 106
 Deutsche Ausgabe 105
 Subscription
 PDF Download
 European Edition 11
 European Edition 10
 European Edition 9
 European Edition 8
 European Edition 7
 European Edition 6

  Choose a page from "Deutsche Ausgabe 118"




Spectrum - Ausgabe 118 (Juni 2010)
Willkommen bei unserer Fachinformations-Zeitschrift Spectrum.
Auf diesen Seiten finden Sie die Artikel aus unserer Ausgabe 118 (Juni 2010).

Inhalt:
Dünne Schichten – Neue Kombinationsmöglichkeit: QCM-D und Ellipsometrie
Imaging – Spectral Unmixing: eine neue Untersuchungsmethode für die IHC
Imaging – Ultra-High-Speed-Kameras: Rotierender Spiegel für höchste Bildqualität
Imaging – Die Vorteile einer Kühlung bei InGaAs-Matrixkameras
Imaging – Elektronenmikroskopie an nicht leitenden Proben – ein Widerspruch?
Interferometrie – ZYGOs NewView: Allround-Messtechnik für die Mikrosystemtechnik
Interferometrie – ZYGO DynaPhase Form-Messungen trotz Vibrationen und Turbulenzen
Laser – Normgerechte Charakterisierung von Laserstrahlung
Lichtquellen – Durchstimmbare monochromatische Lichtquellen
Lichtquellen – Light Sources & Photonic Tools 2010: Sichern Sie sich Ihr persönliches Exemplar
Magnetometrie – MFM-Messungen für das “Physical Property Measurement System” (PPMS®) von Quantum Design
Magnetometrie – Neues vom VersaLab: Jetzt auch mit Elektro-Transport-Messungen
Magnetometrie – Individuell konfigurierbare Kryostate von HPD
Nanotechnologie – Neue Möglichkeiten zur Carbon Nanotube Detektion
Nanotechnologie – Polyethylenglykol: eine neue Möglichkeit zur Herstellung von metallischen Mikro- und Nanostrukturen
Oberflächenchemie – Bestimmung von Veränderungen der Oberflächenchemie durch Berechnung der freien Oberflächenenergie
Spektroskopie – Nano-IR-Imaging: Neue Dimensionen in der IR-Spektroskopie
Spektroskopie – Aktuelles aus unserem Applikationslabor: UV-Vis-NIR-Spektroradiometer SR-1100
Spektroskopie – Spektroelektrochemische Transmissionsküvette für FTIR
Spektroskopie – Sonderangebot: Monochromator/Spektrograph – Demogerät zu attraktivem Preis
Termine


↑ Back to Top ↑

 International:

 Search:

→ Alphabetical Search Index
→ Sitemap
→ Impressum

 News:
→ Please register for our Free Anasys Nanoscale IR Spectroscopy Webinar, Sept 15th 3-4pm BST
→ Das Spectrum 119 (September 2010) ist online!
→ Cryostat for effective optical and electrical measurements from 3 K to 350 K
→ Spectrum European Edition 11 (June 10) is online!
→ Anasys Instruments: Nanoscale IR spectroscopy and thermal analysis
→ UV-VIS-NIR spectroradiometers designed for radiometric measurements and characterisation of artificial light sources and solar simulators
→ SPM insert for the QD PPMS®

LOT-Oriel GmbH & Co. KG
E-mail: info@lot-oriel.de

Im Tiefen See 58
D-64293 Darmstadt

Phone: +49 6151 - 88 06 0
Fax: +49 6151 - 896667


emotiv design