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Lasers, Optics, Technology |
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Aktuell |
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Aktuell |
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PHENOM im Schülerlabor |
Products |
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Nano-DST |
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Nano-DST |
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Products |
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LOT-Oriel - Products |
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Optical Filters. Lenses, Accessories |
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Optical Filters. Lenses, Accessories |
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Light Sources, Monochromators, Detectors |
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Light Sources, Monochromators, Detectors |
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Analytics and Spectroscopy, Microscopy |
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Analytics and Spectroscopy, Microscopy |
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Lasers, Laser Optics, Laser Accessories |
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Lasers, Laser Optics, Laser Accessories |
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Imaging, Thermal/High Speed/C-MOS, Metrology |
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Imaging, IR-/HighSpeed/C-MOS, Metrology |
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New Materials, Physical Properties, Magnetometry |
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New Materials, Physical Properties, Magnetometry |
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Optical Filters (UV - FIR) |
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Optical Filters (UV-FIR) |
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Nanotechnology, SPM, AFM |
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Nanotechnology, SPM, AFM |
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Surface Metrology, Thin Films, Biointerfaces |
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Surface Metrology, Thin Films, Biointerfaces |
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Filters for Analyzing Fluorescence |
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Filters for Analyzing Fluorescence |
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Electrical Tunable Filters |
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Electrically Tunable Filters - VariSpec |
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Quartz and Glass Lenses |
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Quartz and Glass Lenses |
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Spatial Light Modulator (SLM) |
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Spatial Light Modulator (SLM) |
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Light Sources for Research, Development and Industry |
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Light Sources for Research, Development and Industry |
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Monochromators and Spectrographs |
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Monochromators and Spectrographs |
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CCD/ICCD/EMCCD Detectors |
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CCD/ICCD/EMCCD Detectors |
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CCD Detectors and InGaAs Photodiode Arrays |
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EUV and X-Ray CCD Detectors |
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EMCCD Detectors |
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ICCD Detectors |
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CCD Line Detectors |
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Spectrographs |
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FT-IR Spectroscopy Accessories |
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FT-IR Spectroscopy Accessories |
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Integrating Spheres |
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Integrating Spheres |
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Standards and Targets |
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Standards and Targets |
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Hollow Cathode Lamps |
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Hollow Cathode Lamps |
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Deuterium Lamps |
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Deuterium Lamps |
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PID Lamps/Line Sources |
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PID Lamps/Line Sources |
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Disc Centrifuge |
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Disc Centrifuge |
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Spin Coater |
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Spin Coater |
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Maestro In-Vivo Imaging System |
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Maestro - In-Vivo Imaging System |
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Nuance |
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Nuance |
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Nd:YAG-Lasers |
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Nd:YAG-Lasers |
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Brilliant, Brilliant B und Brio |
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Briliiant B Press Information |
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Ultra und CFR |
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YG |
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Industrial Laser Yasmin |
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DPSS-Laser Centurion |
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Presseinfo Brilliant Ultra |
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Dye Lasers |
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Dye Lasers TDL90 |
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OPO Systems |
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OPO Systems |
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Cleaning Lasers |
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Cleaning Lasers |
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Diamond Optics |
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Diamond Optics |
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Laser powermeter |
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Laser Powermeter |
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Laser Diagnostics |
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Laser Diagnostics - Wavefront Sensor |
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Propagationsanalyse von Laserstrahlung mit dem Wellenfrontsensor |
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Infrared Camera Systems |
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Infrared Camera Systems |
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Pulsed Thermography |
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Thermal Wave Imaging |
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ThermoScope II |
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Press Release - Shuttle Inspection |
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IR Lenses |
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IR Lenses |
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Surface Profilers |
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Profilers |
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High Speed Cameras |
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Highspeed Cameras |
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Kerr Magnetometer |
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Kerr Magnetometer NanoMOKE |
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Vibrating Sample Magnetometers |
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Vibrating Sample Magnetometer (VSM) |
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MPMS-XL (Magnetic Property Measurement) |
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MPMS-XL (Magnetic Property Measurement) |
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PPMS |
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PPMS Physical Property Measurement System |
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16 Tesla PPMS |
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P525 Vibrating Sample Magnetometer |
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Model P850 - PPMS Dilution Refrigerator System (DR) |
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PPMS-DynaCool |
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High Temperature Superconducting Magnets, Current Leads and Components |
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HTS-magnets, current leads and components |
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SQUID Measurement Systems |
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SQUID Measurement Systems |
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Cantilevers & AFM Calibration Standards |
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Cantilevers & AFM Calibration Standards |
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Nano- and Micro Hardness Tester |
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Nano- and Micro Hardness Tester |
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ESCA System SAGE |
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ESCA System SAGE |
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SAGE HR |
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Spectroscopic Ellipsometers |
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Spectroscopic Ellipsometers |
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VASE |
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VUV-VASE |
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IR-VASE |
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M-2000 |
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MASE |
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Alpha-SE |
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Spectroscopic Ellipsometers Software |
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Spectroscopic Ellipsometers Application Notes |
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Application oriented Woollam WVASE Trainings Course |
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Surface Chemistry |
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Surface Chemistry |
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KSV 5000 Langmuir Blodgett System |
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KSV 3000 Langmuir Blodgett System |
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KSV 2000 Langmuir Blodgett System |
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KSV Minitrough |
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Special Troughs |
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Review Articles and Publications |
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International KSV Distributors |
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QCM-D Quartz Crystal Microbalance |
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Quartz Crystal Microbalance |
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Q-Sense E4 |
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Measurement Chamber Platform QCP 401 |
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Electronics Unit QE 401 |
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Q-Sense E1 |
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Software QSoft 401 and QTools 2.0 |
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Sensor Crystals |
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Immobilization protocols |
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Brewster Angle Microscope |
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Brewster Angle Microscope |
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CMOS Cameras for scientific and industrial applications |
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CMOS Cameras for scientific and industrial applications |
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Single Channel Detectors |
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Single Channel Detectors |
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Fiber Optics |
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Fiber Optics |
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Nanospectralyzer |
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Nanospectralyzer |
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Intas Gel-Imager |
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Intas Gel-Imager |
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AMI Superconducting Magnet Systems |
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AMI Superconducting Magnet Systems |
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PSM – Potential-Seebeck Microprobe |
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PSM – Potential-Seebeck Microprobe |
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MPMS SQUID VSM |
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MPMS SQUID VSM |
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Abrio Imaging System |
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Abrio/LC-PolScope |
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VersaLab - 3 Tesla Cryogen-free VSM |
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VersaLab - 3 Tesla Cryogen-free VSM |
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Hyperspectral Imaging |
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Hyperspectral Imaging |
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Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) |
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Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) |
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RT-08 from Res-Tec |
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SPR 200 from KSV |
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FEI Phenom Desktop Electron Microscope |
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FEI Phenom Desktop Electron Microscope |
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Photovoltaics Applications |
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Photovoltaic |
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Solar Simlators |
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Solar Simlators |
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Cryo*Con |
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Cryo*Con |
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Photovoltaic Panel Solutions |
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Photovoltaic Panel Solutions |
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CT Systems for the µm and nm range |
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CT Systems for the µm and nm range |
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Photovoltaics: Xenics IR cameras |
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Photovoltaik: Xenics IR cameras |
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Dip Coater |
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Dip Coater |
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Photovoltaic: CCD Detectors |
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Photovoltaic: CCD and EMCCD Detectors |
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Eigenschaften Optischer Materialien |
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Eigenschaften Optischer Materialien |
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Ellipsometers for Photovoltaics |
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Ellipsometers for Photovoltaics |
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Semiconductor Metrology |
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Compound Semiconductor Metrology |
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NanoInk DPN 5000 Desktop NanoFabrication System |
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NanoInk DPN 5000 Desktop NanoFabrication System |
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Probe Stations |
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Probe Stations |
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NanoInk NLP 2000 |
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NanoInk NLP 2000 |
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Photovoltaics: Profilers and Film Stress Measurement Systems |
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Photovoltaics: Profilers and Film Stress Measurement Systems |
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SPM insert for the QD PPMS |
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SPM insert for the QD PPMS |
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THz-spectroscopy and 3D imaging |
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THz-spectroscopy and 3D imaging |
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THz-Spectroscopy system TPS spectra 3000 |
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THZ-imaging systems TPS imaga 1000 & 2000 |
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Special Evolution |
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Special Evolution |
Contacts |
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Contacts |
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Contacts |
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David Appel |
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Thomas Beppler |
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Andreas Bergner |
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Olivier Dubreuil |
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Hassan Farshchi |
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Michael Fichtner |
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Jürgen Fischbach |
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Michael Foos |
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Jochen Hanf |
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Wilfried Helle |
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Rainer Hess |
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Ralph Köhler |
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Olaf Koschützke |
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Marc Kunzmann |
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Florian Liederbach |
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Patrick Lindemann |
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Monica Martinez |
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Jochen Mentges |
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Carsten Pape |
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Thorsten Pieper |
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Inga Potsch |
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Frank Reiser |
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Stefan Riesner |
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Raimund Sauter |
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Jürgen Schlütter |
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Alexander Schrenk |
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Dino Secic |
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Ralf Siegel |
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Joachim Speck |
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Karlheinz Szemeritsch |
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Jörg Tobisch |
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Natalia Tristan |
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Thomas Wagner |
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Joachim Weiss |
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Rainer Weißflog |
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Stefan Wittmer |
Events |
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Events |
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LOT-Oriel - Events |
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Nanoscale Biomaterials Deposition |
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Nanoscale Biomaterials Deposition |
Press |
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Press Releases |
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LOT-Oriel - Press Releases |
Spectrum |
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Spectrum |
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LOT-Oriel - Spectrum |
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Deutsche Ausgabe 117 |
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Inhaltsverzeichnis |
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Die neuen Access Cantilever sind da |
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Neuer Katalog für die Analytik |
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Neues Kontaktwinkelmeter Theta Lite |
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Und sie drehen sich weiter – neuer Spin Coater SCC |
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Wir stellen vor – Platform 3 von Micro Materials |
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Woollam Newsletter – Neue heizbare Ellipsometrie-Flüssigzelle |
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CompleteEASE-Trainingskurs – Schulung zur Auswertung ellipsometrischer Messdaten |
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Phenom – Neue Werkzeuge für das kleinste und schnellste Rasterelektronenmikroskop der Welt |
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Ungekühlte versus gekühlte IR-Kameras |
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Sonderangebote Imaging/IR-Spektroskopie |
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CRi inForm™ – Machine Learning Analyse-Software für Gewebsschnitte |
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CMOS OEM-Kameramodule ermöglichen eine flexible Kameraentwicklung |
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40 Jahre Messtechnik-Erfahrung im NewView 7100 – der neue Allrounder |
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Farbstofflaser TDL+ vollständig motorisiert und computergesteuert |
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Partikelgrößenmessungen am unteren Limit |
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Continuous wave THz-Spektrometer mit Imaging-Möglichkeit |
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Zuwachs in der Spektroskopielinie – Shamrock 500i & 750 |
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Neu bei LOT – Spektroradiometer von 320 nm bis 2500 nm |
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SPR-Spektroskopie in den Materialwissenschaften |
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newton CCD- und EMCCD-Detektoren von Andor Technology jetzt noch schneller |
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Ortsaufgelöste Spektroskopie in Chemie, Pharmazie und Lebensmitteltechnologie |
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Wir stellen vor: Das neue QD-Vertriebsteam |
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Wir trauern um Gerhard Jockwich |
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Deutsche Ausgabe 116 |
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Deutsche Ausgabe 116 |
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IR-spektroskopische Untersuchung des thermischen Verhaltens von Germanium |
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Kompaktes Kontaktwinkelmeter CAM100 |
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Analytik - Sonderangebote |
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Beschichtungsoptimierung für Hochgeschwindigkeitsbearbeitung mit modernen nanomechanischen Testmeth |
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Seminar „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“ |
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Mueller-Matrix-Ellipsometrie an mikrostrukturierten Proben |
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Die Funktionalität im Fokus: Citius Imaging Hochgeschwindigkeits-Videokameras |
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Medizintechnik – Interferometrie zur Qualitätsischerung |
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Zygo erweitert das Angebot an Fizeau-Objektiven |
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Hochrepetierende Hochenergie-Nd:YAG-Laser – die günstige Alternative zu DPSS-Lasern |
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Filter, Mikro- und Nanofasern beobachten und vermessen mit dem neuen Fibermetric System |
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„Cryogen-Free“-AC-Magnet von HTS-110 Ltd. |
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Verzögerungsplatten von VLOC im WaveplateStore online bestellen |
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Raman Imaging Spektrometer von der Firma SPECIM |
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Oculus: Plug&Play USB-Einzelementdetektoren |
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Verbesserte Zeitauflösung durch den Einsatz von EMCCDs in der Spektroskopie |
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Höchstempfindliche Fluoreszenzspektroskopie mittels Oberflächenplasmonen |
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Untersuchung von polymorphen Konversionsprozessen mit Hilfe der THz-Spektroskopie |
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Wir stellen vor: Natalia Tristan |
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Wir machen mit: Klima-Zertifikate Freiwillige Kompensation von Treibhausegasemissionen |
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Sonderangebot: Nanospectralyzer™ für Single-walled Carbon Nanotube (SWNT) Charakterisierung |
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Deutsche Ausgabe 115 |
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Inhaltsverzeichnis |
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Silver Gate Evolution – jetzt mit austauschbaren Kristallplatten |
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Golden Gate bis 300 °C |
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Automatisches Tensiometer Sigma 702 |
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Seminar „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“ |
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CompleteEASE-Software-Trainingkurs |
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E4 Auto – Automatisierung für das QCM-D |
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Auswirkung des spezifischen Abriebs an amorphen kohlenstoffbasierten Beschichtungen |
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Ellipsometrie-Seminar 2009 |
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Probe-Station – Testsysteme für Chips & Wafer |
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Weißlichtinterferometrie zur wirtschaftlichen Rautiefenmessung an Zahnimplantaten |
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Vollautomatische Inspektion, Analyse und statistische Auswertung |
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Gute (Nacht)sicht mit SWIR InGaAs-Kameras |
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Lichtquellen kauft man bei LOT |
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Das NanoMOKE2 – ein magneto-optisches Kerr-Magnetometer |
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DynaCool™ – Das neue Flaggschiff von Quantum Design |
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Die neue (Oberflächen)-Dimension im Physical Property Measurement System (PPMS-SPM) |
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Nanoarrays aus Hydrogel mittels DPN-Technologie |
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Spezial wird Standard – elektrisch abstimmbares VariSpec Filter (550 nm bis 1000 nm) |
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Die Terahertz-Lücke ist Vergangenheit – THz-Spektroskopie und THz-Imaging |
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Deutsche Ausgabe 114 |
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Inhaltsverzeichnis |
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Neues 2-Kanal-SPR-System von KSV |
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WVASE Trainingskurs - Schulung zur Auswertung ellipsometrischer Messdaten |
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Win XP-Upgrade für Tencor-Profilometer |
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ZYGO NewView 600 – Rauheitsmessungen an polierten Optiken |
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ZYGO PTI250 – 3D-Messung von Hüft- und Bandscheiben-Implantaten |
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High Speed-Kamera |
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LWIR-Hyperspektralkameras |
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Immunohistochemie – Multi-Label-Mikroskopie ohne spektralen oder räumlichen Überlapp |
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Optimierung der Pixelhomogenität in FPA-Detektoren von XenICs |
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„Phenom“-enales Bild fes Monats |
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Quantel auf der Laser 2009 |
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Magnetische Größen und Einheiten |
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Das neue NLP 2000 – Simple Nanofabrication |
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Das neue Dip Pen Nanolithographie-Flaggschiff DPN 5000 |
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Unser neuer Cantilever-Katalog ist online |
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Dip Coater – auch für große Substrate |
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Theta – Kontaktwinkel und Oberflächenspannung |
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Vorankündigung: Q-Sense E4 Auto |
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Infrarot (2-14 µm) Neutral-Dichte-Filter |
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Economy Class IR-Polarisatoren |
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Quanteneffizienz: IPCE-Messung an Photovoltaik-Zellen |
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Solarsimulation mit verbesserter optical engine |
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Verkauf zweier Demosysteme (Nano-R2 uns NScriptor) |
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Deutsche Ausgabe 113 |
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Deutsche Ausgabe 113 |
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HYDRA-Cantilever von Applied Nanostructures |
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QCM-D - Charakterisierung von Tensiden |
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Zygo Fizeau-Interferometer zur Formprüfung optischer Oberflächen |
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Nd:Glas Laserketten zur optischen Anregung von Petawatt Ti:Saphir-Verstärkern |
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Laserstrahldiagnostik NIR - Vis - UV |
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Cryogen Free-Magnetsysteme von der American Magnetics Incorporation (AMI) |
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SQUID-Magnetometer - Bewährtes und Neues |
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Phenom, das schnellste Elektronenmikroskop der Welt |
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Infrarot-Langpassfilter von Andover |
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Spektroskopische Ellipsometrie in der Photovoltaik |
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Kalibrierte Referenzzellen für die Photovoltaik |
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ZYGO NewView für Dünnfilm-Solarzellen |
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CCD-Detektoren für die Qualitätskontrolle von Solarzellen |
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SisuChema - ortsaufgelöste Spektroskopie in Chemie, Pharmazie und Lebensmitteltechnologie |
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FTIR-Spektroskopie-Zubehör - jetzt preisgünstig kaufen |
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Sonderangebote |
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Deutsche Ausgabe 112 |
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Inhaltsverzeichnis |
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Strukturänderung in adsorbierten Proteinen - eine QCM-D-Studie |
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Neue Kombinationsmöglichkeiten für die QCM-D-Technologie |
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QCM-D-Sensorkristalle - Sonderaktion bis zum 31. Dezember 2008 |
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Echtzeit-Ellipsometrie: Verfolgung des Oxidationsprozesses dünner organischer Schichte |
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Nicht-invasive 3D-Bilderzeugung an biologischem und High-tech-Material |
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XenICs weiterhin europäischer Technologieführer bei InGaAs-Kameras |
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NewView 7000 für die industrielle Rautiefen- und Formmessung von Präzisionsteilen |
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Strom-Spannungs-Messung an PV-Solarzellen |
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Durchstimmbare monochromatische Lichtquellen |
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Lichtquellen kauft man bei LOT |
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Phenom Desktop-SEM - Topographie und Materialkontrast |
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Biofunktionale DNA-Nanostrukturen |
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Erzeugung von Bio-Nanostrukturen: „Just add DNA“ |
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Manuelles Tensiometer |
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Cantilever für nahezu jede Anwendung |
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Die Scheibenzentrifuge ist jetzt noch empfindlicher |
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Preiswerte CCD-Zeilenkameras für die Spektroskopie |
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Single Wall Carbon Nanotubes - ein neuer Trend in der Biotechnologie? |
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Modulares SPR-Spektrometer - jetzt im Applikationslabor |
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Sonderangebot Atlas-Presse |
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Deutsche Ausgabe 111 |
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Inhaltsverzeichnis |
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Die neuen HYDRA-Cantilever sind da |
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Bonusaktion für Cantilever |
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Ein hochauflösendes AFM für das PPMS |
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High-End-AFM Nano-DST jetzt im Applikationslabor |
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Sonderangebot Atlas-Presse |
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Seminar „CCD-, ICCD- und EMCCD-Detektoren in Spektroskopie und Imaging“ |
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Nanofretting |
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Seminar Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten |
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Sonderangebot Q-Sense E4 |
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Newsletter von KSV |
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Ellipsometrie-Seminar 2008 |
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Andor CCD-Kamera für Elektro- und Photolumineszenz |
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|
PiZzicato – der neue Pikosekunden Nd:YAG Laser mit Festkörper-Modenkopplung |
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Lichtquellen kauft man bei LOT |
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Kieselalgen mit dem Desktop-SEM |
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Filter für die Fluoreszenzspektroskopie |
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P6 – der neue Stylus-Profiler von KLA-Tencor |
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Ortsaufgelöste Spektroskopie |
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Glasübergangstemperatur in dünnen Polymerschichten mit SPR-Spektroskopie |
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CryoCon – der Name ist Programm |
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|
Heliumverflüssiger – einfach cool |
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Deutsche Ausgabe 110 |
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Inhaltsverzeichnis |
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Atlas-Presse - auch voll programmierbar |
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Golden Gate - jetzt noch heißer |
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Preissenkung bei HKL-Lampen |
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Neue großformatige iKon-L CCD-Detektoren von Andor Technology |
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Neues Elektrochemie-Modul von Q-Sense |
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Noch mehr Neues für die Elektrochemie |
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Seminar „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“ |
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Gobi – nicht die Wüste, sondern die neue Miniaturwärmebildkamera |
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Universelles Weisslichtinterferometer NV7000™ |
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Lichtquellen kauft man bei LOT |
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PSM – die Potential-Seebeck-Mikrosonde |
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Erste Anwenderseminare Korngrößenmessung |
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AMI – Nutzen Sie den sehr günstigen Dollarkurs! |
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Reflektive Mikroskopobjektive – Preissenkung |
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Phenom: Hochauflösende Mikroskopie in einer neuen Dimension |
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Testen Sie unser AFM-System |
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Sonderaktion: AFM-Cantilever von Applied Nanostructures |
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ZnSe/ZnS – Rohmaterial von II-VI Incorporated |
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Neues Stylus-Profilometer P6 |
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Ellipsometrie-Seminar 2008 |
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Verzögerungsplatten von VLOC im WaveplateStore online bestellen |
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Jetzt geht die Sonne auf |
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Wir stellen vor: Monica Martinez |
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Deutsche Ausgabe 109 |
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Inhaltsverzeichnis |
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Neue QCM-D-Einsatzmöglichkeiten mit dem E1 |
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Woollam Newsletter – Neues Ellipsometer mit zwei rotierenden Kompensatoren |
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High Speed NIR-Bildverarbeitung mit der Cheetah |
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Wanted: Perkin-Elmer 983 oder 781 |
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Farbstofflaser TDL90 - Die Wahl der richtigen Konfiguration |
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Quantel-News 2007/2008 |
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Laserstrahldiagnostik im NIR-Bereich |
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Magnetometrie - AC Suszeptibilität |
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Nanoindentation-Härtemessung bei hohen Temperaturen |
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Messpaket zur Grenzflächencharakterisierung in Verbindung mit LB-Systemen |
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Preissenkung für VariSpec-Filter |
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Bildgebende NIR-Spektroskopie in Chemie und Pharmazie |
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Dünne organische Schichten - Oberflächenplasmonenresonanz (SPR) |
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Zusammenschluss zwischen LOT-Oriel Europa und Quantum Design |
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Deutsche Ausgabe 108 |
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Inhaltsverzeichnis |
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WVASE-Trainings-Kurs |
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CMOS-Kameras von 1,3 bis 14 Megapixel |
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NIR-Kameras für jede Anwendung |
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Kompakter, gepulster SLM-Laser |
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Quantel eröffnet eigenes Büro in Deutschland |
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Monochromatische Lichtquellen - Universelle Arbeitstiere für den Laboreinsatz |
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SQUID, kein Tintenfisch... ein Magnetfeldsensor |
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Hochtemperatur-Nanoindentation - jetzt im LOT-Applikationslabor |
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Carbon Nanotube-Charakterisierung auf Knopfdruck |
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Wir stellen vor: Die Nanotechnologie-Gruppe der LOT |
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Kompaktes Kontaktwinkelmeter CAM100 |
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Minitrog für Rheometer |
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Sonderangebot Dip Coater |
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Extrem steilflankige Kurzpass-Ramanfilter |
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Partikelgrößen im sub-µm-Bereich mit der Zentrifuge |
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Golden Gate-System zur Untersuchung superkritischer Flüssigkeiten |
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IR-Starter-Set - da ist alles drin |
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Wirbelstürme zum Kaufen - Langweggasküvetten |
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Deutsche Ausgabe 107 |
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Inhaltsverzeichnis |
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Schnelle Biointerface-Charakterisierung mit dem Q-Sense E4 |
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Sechstes QCM-D-Usermeeting |
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Infoseminar „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“ |
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Hyperspektrale Analyse - Bildgebende Spektrometer aus Finnland |
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High Speed-Kameras von Citius in der Papiermühle |
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Quantitative Vermessung thermischer Linsen |
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Vibrationsmagnetometer von Quantum Design |
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Tiefste Temperaturen |
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VersaLab - 3 Tesla Cryogen-free VSM |
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Nano-Impakt-Untersuchungen an Oberflächen |
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Ellipsometrie-Seminar 2007 |
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Nano-DST - Das neue High-End AFM-System |
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Manuelles Tensiometer für QC und Ausbildung |
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Hochtransmissive Filter für die Fluoreszenzspektroskopie |
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Preissenkung bei HKL-Lampen |
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Lichtquellen |
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Neue InGaAs-Detektoren für die NIR-Spektroskopie |
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Deutsche Ausgabe 106 |
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Deutsche Ausgabe 106 |
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Preissenkung bei HKL-Lampen |
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QCM-D - Hämokompatibilität von Hydroxylapatit |
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International Conference on Spectroscopic Ellipsometry |
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Centurio – High Speed-Kamera mit mittlerer Aufnahmegeschwindigkeit |
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NIR-Kameras hoher Qualität – zu sehen auf der Laser 2007 |
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Abbildende NIR-Spektroskopie mit der XEVA-Kamera von XenICs |
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Neu bei Zygo – Asphären-Interferometer |
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LOT-Oriel auf der LASER 2007 in München |
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Laserleistungsmessung bei LOT-Oriel |
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Opti-MAxes™ – ein supraleitendes Vektorfeld-Magnetsystem von AMI |
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Neuer NanoTest NTX-Controller von MicroMaterials |
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Nanopartikel-Charakterisierung mit dem Nano-Rp™-System |
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Eine Wiege für Kontaktwinkelmeter |
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Dip Coater jetzt wesentlich günstiger |
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Newsletter von KSV |
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Neuer Filterkatalog von Andover |
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Laserartige XUV-Strahlung: Charakterisierung und Handhabung von Gasharmonischen |
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Modulare optische Spektroskopie auf der Laser 2007 |
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Deutsche Ausgabe 105 |
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Inhaltsverzeichnis |
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20 Jahre Woollam Co. |
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In-situ-Ellipsometrie zur Schichtkontrolle mit ALD (Atomic Layer Deposition) |
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14 Megapixel-CMOS-Kamera |
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In-vivo-Fluoreszenz |
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Passe- und Ebenheitsmessung trotz Schwingungen |
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NewView 600 |
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3He-Einsatz für SQUID-Magnetometer |
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Messung magnetischer Momente |
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Flüssigzelle für Nanoindentation |
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Dip Pen-Nanolithography |
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HYDRA - die neue Cantilever-Generation |
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Neuer, verlängerter KSV-Minitrog |
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Reflektive Mikroskopobjektive |
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Diamantfenster werden bezahlbar |
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Ealing Catalog Inc. und LOT-Oriel |
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Solarsimulation zweite Generation |
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Monochromatoren/Spektrografen von Gilden Photonics |
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Golden Gate mit erweitertem Spektralbereich |
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Subscription |
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Subscription |
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PDF Download |
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PDF Download |
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European Edition 10 |
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European Edition 10 |
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Non-invasive 3D imaging in high resolution |
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Applications for SWIR InGaAs cameras |
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Citius imaging high speed video cameras |
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UV sensitive imaging with (EM) electron multiplication |
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PTI250 – 3D measurement of hip and intervertebral disc implants |
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Interferometric metrology - VeriFire Asphere |
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Extended range of Fizeau objectives |
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PPMS-SPM – A brand new surface dimension in our Physical Property Measurement System |
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HTS-110 cryogen-free superconducting AC magnet |
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DynaCool™ – Quantum Design’s new flagship product |
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Nanoarrays made of hydrogel by DPN technology |
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Special offer: Nanospectralyzer™ for single-walled carbon nanotubes |
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In-situ combination of QCM-D and ellipsometry |
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Probe stations – test systems for chips and wafers |
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Specim launches Raman Spectrographs |
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High-sensitivity fluorescence spectroscopy with surface plasmons |
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European Edition 9 |
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European Edition 9 |
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New Cantilever Catalog |
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Ellipsometry-workshop 2009 |
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Training course on ellipsometry data analysis: CompleteEASE software |
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Quantitative force measurements with optical tweezers: The JPK NanoTracker™ |
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Immunohistochemistry – Multi-label microscopy without spectral or spatial cross-talk |
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Centurio C 100 – High-speed camera with new „data logger“ |
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Zygo fizeau interferometer to measure the shape of optical surfaces |
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Medical implant process control with ZYGO interferometers |
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ZYGO NewView for thin film solar cells |
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The new NLP 2000 – Nanofabrication made easy |
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DPN 5000 – The new flagship of Dip Pen Nanolithography |
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Characterisation of solar cells – Quantum efficiency measurements |
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SisuChema – Spatially resolved spectroscopy in chemistry, pharmacy and food technology |
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Explore the power of evanescent fields – Glass transition temperature in thin polymer films |
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CCD detectors for the quality control of solar cells |
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New from Andor: Microspectroscopy using dynamic slit |
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Structural change of adsorbed protein layer |
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Taking the chore out of running QCM-D experiments |
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European Edition 8 |
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Table of contents |
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Dip Pen nanolithography generates biofunctional nanostructures |
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HYDRA cantilevers for BioAFM |
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High-resolution imaging with the Bio-AFM system NanoWizard II |
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Photovoltaic in ellipsometry |
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Non-invasive 3D imaging of biological to advanced materials in high resolution |
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Extended coverage of XEVA and XS cameras from SWIR into the visible |
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Low cost CCD cameras with EM (electron multiplication) technology |
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Everything you want to know about light sources |
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The Cryogenic Control Systems – state-of-the-art electronic equipment |
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Quantum Design’s MPMS and PPMS – application notes online |
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VersaLab VSM magnetometer – a new workhorse for magnetic material characterization |
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Optical filters UV – FIR |
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Multispectral imaging – quick and easy |
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New light source – the CPS disc centrifuge is now even more sensitive |
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Solar cell IV-curve characterization – virtually any application possible |
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Single wall carbon nanotubes: a new trend in biotechnology? |
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CCD line array cameras at good value for money |
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The RT-08 SPR spectrometer has arrived |
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QCM-D: The power of combination |
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European Edition 7 |
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European Edition 7 |
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Applied Nanostructures - AFM cantilevers |
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The Nano-DST™ - high-speed AFM with atomic resolution |
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The new Nano-E™ AFM system for standard research and education |
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Ellipsometry-Workshop 2008 |
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Photovoltaic applications of spectroscopic ellipsometry |
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Ellipsometry workshop, July 2nd 2008 in Spain |
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NewView 7000 series - advanced, high performance 3D optical profilers |
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High end Cheetah aims at high speed SWIR imaging |
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Everything you want to know about light sources |
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Magnetometry & More |
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Nano impact testing of surfaces |
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Informal seminar on measurements of mechanical properties |
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New Andover filter catalog |
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Visit the VLOC Waveplate Store |
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Disc centrifuge for high resolution particle size measurement |
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Thin film characterization by Surface Plasmon Resonance (SPR) |
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Studying cell interactions using the Q-Sense window module |
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European Edition 6 |
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Table of Contents |
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Nano-DST |
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AFM cantilevers |
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Nano-Rp capabilities in particles characterization |
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BioMat workstation - imaging opaque samples |
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Training course on Ellipsometry data analysis |
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Ellipsometry workshop 2008 in Spain |
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New camera developments in NIR and IR imaging |
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Citius high speed cameras |
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Monochromatic light sources |
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The iHelium-3 magnetometer |
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PPMS - The Swiss knife for your physical laboratory |
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High temperature nanoindentation |
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High throughput filters for fluorescence spectroscopy |
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Ultra steep short pass filters |
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New InGaAs detectors for NIR spectroscopy |
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QCM-D E4: Tracking changes at the surface |
About Us |
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About Us |
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About Us |
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ISO 9001 |
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ISO 9001 |
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Laboratory |
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Laboratory |
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Jobs |
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Jobs |
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Travelling Directions |
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Travelling Directions |
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Links |
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Impressum |
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General Terms and Conditions |
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Useful Tips |
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Useful Tips |
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Properties of Optical Materials |
