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Spectrum - Ausgabe 118 (Juni 2010)
Willkommen bei unserer Fachinformations-Zeitschrift Spectrum.
Auf diesen Seiten finden Sie die Artikel aus unserer Ausgabe 118 (Juni 2010).

Inhalt:
Dünne Schichten – Neue Kombinationsmöglichkeit: QCM-D und Ellipsometrie
Imaging – Spectral Unmixing: eine neue Untersuchungsmethode für die IHC
Imaging – Ultra-High-Speed-Kameras: Rotierender Spiegel für höchste Bildqualität
Imaging – Die Vorteile einer Kühlung bei InGaAs-Matrixkameras
Imaging – Elektronenmikroskopie an nicht leitenden Proben – ein Widerspruch?
Interferometrie – ZYGOs NewView: Allround-Messtechnik für die Mikrosystemtechnik
Interferometrie – ZYGO DynaPhase Form-Messungen trotz Vibrationen und Turbulenzen
Laser – Normgerechte Charakterisierung von Laserstrahlung
Lichtquellen – Durchstimmbare monochromatische Lichtquellen
Lichtquellen – Light Sources & Photonic Tools 2010: Sichern Sie sich Ihr persönliches Exemplar
Magnetometrie – MFM-Messungen für das “Physical Property Measurement System” (PPMS®) von Quantum Design
Magnetometrie – Neues vom VersaLab: Jetzt auch mit Elektro-Transport-Messungen
Magnetometrie – Individuell konfigurierbare Kryostate von HPD
Nanotechnologie – Neue Möglichkeiten zur Carbon Nanotube Detektion
Nanotechnologie – Polyethylenglykol: eine neue Möglichkeit zur Herstellung von metallischen Mikro- und Nanostrukturen
Oberflächenchemie – Bestimmung von Veränderungen der Oberflächenchemie durch Berechnung der freien Oberflächenenergie
Spektroskopie – Nano-IR-Imaging: Neue Dimensionen in der IR-Spektroskopie
Spektroskopie – Aktuelles aus unserem Applikationslabor: UV-Vis-NIR-Spektroradiometer SR-1100
Spektroskopie – Spektroelektrochemische Transmissionsküvette für FTIR
Spektroskopie – Sonderangebot: Monochromator/Spektrograph – Demogerät zu attraktivem Preis
Termine


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→ Registrieren Sie sich hier für das Anasys Nanoscale IR Spectroscopy Webinar, Termin: 15. September 16-17 Uhr
→ Das Spectrum 119 (September 2010) ist online!
→ Optischer "cryogen-free" Kryostat für automatisierte Messungen bei 3 K bis 350 K
→ Spectrum European Edition 11 (June 10) is online!
→ Anasys Instruments: Nanoscale IR spectroscopy and thermal analysis
→ UV-VIS-NIR Spektroradiometer die besonders für radiometrische Messungen und die Charakterisierung künstlicher Lichtquellen
→ Rastersonden-Mikroskop-Einsatz für das QD PPMS®

LOT-Oriel GmbH & Co. KG
E-mail: info@lot-oriel.de

Im Tiefen See 58
D-64293 Darmstadt

Tel.: +49 6151 - 88 06 0
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