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Spectrum - Ausgabe 116 (Oktober 2009)
Willkommen bei unserer Fachinformations-Zeitschrift Spectrum.
Auf diesen Seiten finden Sie die Artikel aus unserer Ausgabe 116 (Oktober 2009).

Inhalt:
Analytik – IR-spektroskopische Untersuchung des thermischen Verhaltens von Germanium
Analytik – Kompaktes Kontaktwinkelmeter CAM100
Analytik – Sonderangebote
Dünne Schichten – Beschichtungsoptimierung für Hochgeschwindigkeitsbearbeitung
Dünne Schichten – Seminar „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“
Dünne Schichten – Mueller-Matrix-Ellipsometrie an mikrostrukturierten Proben
Imaging – Die Funktionalität im Fokus: Citius Imaging Hochgeschwindigkeits-Videokameras
Interferometrie – Medizintechnik – Interferometrie zur Qualitätsischerung
Interferometrie – Zygo erweitert das Angebot an Fizeau-Objektiven
Laser – Hochrepetierende Hochenergie-Nd:YAG-Laser
Mikroskopie – Filter, Mikro- und Nanofasern beobachten und vermessen mit dem neuen Fibermetric System
Magnetometrie – „Cryogen-Free“-AC-Magnet von HTS-110 Ltd. bei Nissin Ion in Japan installiert
Optik – Verzögerungsplatten von VLOC im WaveplateStore online bestellen
Spektroskopie – Raman Imaging Spektrometer von der Firma SPECIM
Spektroskopie – Oculus: Plug&Play USB-Einzelementdetektoren
Spektroskopie – Verbesserte Zeitauflösung durch den Einsatz von EMCCDs in der Spektroskopie
Spektroskopie – Höchstempfindliche Fluoreszenzspektroskopie mittels Oberflächenplasmonen
Spektroskopie – Untersuchung von polymorphen Konversionsprozessen mit Hilfe der THz-Spektroskopie
Wir stellen vor: Natalia Tristan
Wir machen mit: Klima-Zertifikate Freiwillige Kompensation von Treibhausegasemissionen
Sonderangebot: Nanospectralyzer™ für Single-walled Carbon Nanotube (SWNT) Charakterisierung
Termine


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→ Das Spectrum 117 (März 2010) ist online!
→ UV-VIS-NIR Spektroradiometer die besonders für radiometrische Messungen und die Charakterisierung künstlicher Lichtquellen
→ Invitation to the Webinar "Nanoscale Biomaterials Deposition - Learning to Speak the Language of Biology" March 16th, 2010 at 6:00 pm CET
→ European Conference on Nano Films
→ Wir trauern um Gerhard Jockwich
→ OEM CMOS-Kameramodule
→ Rasterelektronenmikroskop PHENOM im Schülerlabor
→ Spectrum - European Edition 10 (November 2009) ist online!
→ Rastersonden-Mikroskop-Einsatz für das QD PPMS®

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E-mail: info@lot-oriel.de

Im Tiefen See 58
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