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Spectrum - Ausgabe 114 (Mai 2009)

Willkommen bei unserer Fachinformations-Zeitschrift Spectrum.
Auf diesen Seiten finden Sie die Artikel aus unserer Ausgabe 114 (Mai 2009).

Inhalt:
Dünne Schichten – Neues 2-Kanal-SPR-System von KSV – SPR200 für Messungen in Gasen und Flüssigkeiten
Dünne Schichten – WVASE Trainingskurs – Schulung zur Auswertung ellipsometrischer Messdaten
Dünne Schichten – Win XP-Upgrade für Tencor-Profilometer
Interferometrie – ZYGO NewView 600 – Rauheitsmessungen an polierten Optiken
Interferometrie – ZYGO PTI250 – 3D-Messung von Hüft- und Bandscheiben-Implantaten
Imaging – High Speed-Kamera
Imaging – LWIR-Hyperspektralkameras – neu bei Specim
Imaging – Immunohistochemie – Multi-Label-Mikroskopie ohne spektralen oder räumlichen Überlapp
Imaging – Die Optimierung der Pixelhomogenität in FPA-Detektoren von XenICs
Imaging – „Phenom“-enales Bild des Monats
Laser – 15. bis 18. Juni in München: Quantel auf der Laser 2009
Magnetometrie – Magnetische Größen und Einheiten
Nanotechnologie – Das neue NLP 2000 – Simple Nanofabrication
Nanotechnologie – Das neue Dip Pen Nanolithographie-Flaggschiff DPN 5000
Nanotechnologie – Unser neuer Cantilever-Katalog ist online
Oberflächenchemie – Dip Coater – auch für große Substrate
Oberflächenchemie – Theta – Kontaktwinkel und Oberflächenspannung
Oberflächenchemie – Vorankündigung: Q-Sense E4 Auto
Optik – Infrarot (2-14 µm) Neutral-Dichte-Filter
Optik – Economy Class IR-Polarisatoren
Photovoltaik – Quanteneffizienz: IPCE-Messung an Photovoltaik-Zellen
Sonnensimulation – Zwei Sonnen auf 30 x 30 cm2 – Solarsimulation mit verbesserter optical engine
Verkauf zweier Demosysteme (Nano-R2 uns NScriptor)
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 Aktuelles:
Das Spectrum 117 (März 2010) ist online!
UV-VIS-NIR Spektroradiometer die besonders für radiometrische Messungen und die Charakterisierung künstlicher Lichtquellen
Invitation to the Webinar "Nanoscale Biomaterials Deposition - Learning to Speak the Language of Biology" March 16th, 2010 at 6:00 pm CET
European Conference on Nano Films
Wir trauern um Gerhard Jockwich
OEM CMOS-Kameramodule
Rasterelektronenmikroskop PHENOM im Schülerlabor
Spectrum - European Edition 10 (November 2009) ist online!
Rastersonden-Mikroskop-Einsatz für das QD PPMS®

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E-mail: info@lot-oriel.de

Im Tiefen See 58
D-64293 Darmstadt

Tel.: +49 6151 - 88 06 0
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