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Spectrum - Ausgabe 111 (September 2008)
Willkommen bei unserer Fachinformations-Zeitschrift Spectrum.
Auf diesen Seiten finden Sie die Artikel aus unserer Ausgabe 111 (September 2008).

Inhalt:
AFM – Die neuen HYDRA-Cantilever sind da
AFM – Unsere Bonusaktion für Cantilever wird verlängert!
AFM – Ein hochauflösendes AFM für das PPMS®
AFM – High-End-AFM „Nano-DST“ – jetzt im Applikationslabor
Analytik – Sonderangebot Atlas-Presse
CCD-Detektoren – Einladung zum Seminar „CCD-, ICCD- und EMCCD-Detektoren in Spektroskopie und Imaging“
Dünne Schichten – Nanofretting – was ist denn das?
Dünne Schichten – Seminar „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“
Dünne Schichten – Sonderangebot Q-Sense E4
Dünne Schichten – Newsletter von KSV
Ellipsometrie – Ellipsometrie-Seminar 2008
Imaging – Andor CCD-Kamera für Elektro- und Photolumineszenz
Laser – PiZzicato – der neue Pikosekunden Nd:YAG Laser mit Festkörper-Modenkopplung
Lichtquellen – Lichtquellen kauft man bei LOT
Mikroskopie – Kieselalgen mit dem Desktop-SEM
Optische Filter – Filter für die Fluoreszenzspektroskopie – jetzt ab Lager Darmstadt lieferbar
Profilometrie – P6 – der neue Stylus-Profiler von KLA-Tencor
Spektroskopie – Ortsaufgelöste Spektroskopie eröffnet neue Einblicke
Spektroskopie – Glasübergangstemperatur in dünnen Polymerschichten mit SPR-Spektroskopie
Tiefe Temperaturen – CryoCon – der Name ist Programm
Tiefe Temperaturen – Heliumverflüssiger – einfach cool


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Quantum Design:
→ www.QDUSA.com

 Aktuelles:
→ Stellenangebot Materialforschung/Dünnschichtanalyse
→ Das Spectrum 112 (Oktober 2008) ist online!
→ iKon-L – großflächige Imaging CCD-Detektoren mit Kühlung bis –100°C (PDF, 246 KB)
→ Zusammenschluss zwischen LOT-Oriel Europa und Quantum Design (PDF, 56 KB)
→ Beam Profiler mit Nahinfrarotdetektoren
→ Neu die schnellste hochauflösende NIR Kamera der Welt : Cheetah

LOT-Oriel GmbH & Co. KG
E-mail: info@lot-oriel.de

Im Tiefen See 58
D-64293 Darmstadt

Tel.: +49 6151 - 88 06 0
Fax: +49 6151 - 896667


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