Produkte

Optische Filter
Linsen
Zubehör		 Lichtquellen
Monochromatoren
Detektoren
Analytik und Spektroskopie
Mikroskopie
Partikelgrößenmessung		 Laser
Laseroptik
Laserzubehör
Imaging
Hyperspectral Imaging
IR-/High Speed/ CMOS...
Metrologie		 Neue Materialien
Physikalische Eigenschaften
Magnetometrie
Oberflächen
Dünne Schichten
Biointerfaces		 Nanotechnologie
SPM
AFM
Photovoltaik  



 International:

 Suche:

→ Alphabetischer Suchindex
→ Sitemap

 Links:
Quantum Design:
→ www.QDUSA.com

 Aktuelles:
→ Stellenangebot Materialforschung/Dünnschichtanalyse
→ Das Spectrum 112 (Oktober 2008) ist online!
→ iKon-L – großflächige Imaging CCD-Detektoren mit Kühlung bis –100°C (PDF, 246 KB)
→ Zusammenschluss zwischen LOT-Oriel Europa und Quantum Design (PDF, 56 KB)
→ Beam Profiler mit Nahinfrarotdetektoren
→ Neu die schnellste hochauflösende NIR Kamera der Welt : Cheetah

LOT-Oriel GmbH & Co. KG
E-mail: info@lot-oriel.de

Im Tiefen See 58
D-64293 Darmstadt

Tel.: +49 6151 - 88 06 0
Fax: +49 6151 - 896667


emotiv design