α-SE™ –
alpha-Spektralellipsometer

Schnelles, preiswertes System zur Bestimmung von Schichtdicken und optischen Konstanten. Das Gesamtsystem ist beeindruckend klein und kompakt ohne zusätzliche Steuereinheiten. Es ist somit das ideale Tischgerät. Die Rechneransteuerung erfolgt über USB. Einfache Bedienung: Knopfdruckbedienung mit leistungsfähiger Software Flexibel: Untersuchung von verschiedensten Materialien – Dielektrika, Halbleiter, Metalle, organische Schichten...

Leistungsfähig: hohe Messgenauhigkeit durch RCE-Methode; Messung von Depolarisation und Müller Matrix

Preiswert: die Leistungsfähigkeit eines SE für niedrigen Preis

Schnell: > 100 Wellenlängen simultan innerhalb von wenigen Sekunden – sofortige Fitergebnisse

Alpha-SE™ Software

Wählen Sie Ihr Auswertemodell aus der Drop-Down-Liste, ein 'Projekt', in das die Ergebnisse gespeichert werden und klicken Sie den Knopf 'Measure'. Das ist alles!

Modellfunktionen

Dispersionsfunktionen zur Beschreibung der optischen Konstanten aller Materialien: Cauchy, Sellmeier, Lorentz, Gauss, Tauc-Lorentz, Drude, etc.

Indexgradient

Ober- und Grenzlächenrauhigkeit

Spezifikationen

Spektralbereich: 380 nm bis 900 nm (180 Wellenlängen)

Einfallswinkel: 65°, 70° und 75°

Computerverbindung: USB (1.1 oder höher)

Automatisierte Probenhöhenjustagen

Messzeit:

- 3 Sek. (Fast Mode)

- 10 Sek. (Standard Mode)

- 30 Sek. (Long Mode)

Video

Alpha-SE Video (WMV, 1,3 MB)

PDF Downloads

Alpha SE Broschüre (PDF, 1,1 MB)

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International:

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Ihr Kontakt:

Dr. Thomas Wagner
Tel.: +49 6151 880668
Fax: +49 6151 896667
wagner@lot-oriel.de

Links:


Quantum Design:
→	www.qd-international.com


Externe Links:
→	www.jawoollam.com
→	Arbeitskreis Ellipsometrie (AKE) - Paul Drude e.V.
→	5th Workshop Ellipsometry, Zweibrücken, March 2nd - 4th, 2009

Aktuelles:


→	Spectrum European Edition 11 (June 10) is online!
→	Das Spectrum 118 (Juni 2010) ist online!
→	Anasys Instruments: Nanoscale IR spectroscopy and thermal analysis
→	UV-VIS-NIR Spektroradiometer die besonders für radiometrische Messungen und die Charakterisierung künstlicher Lichtquellen
→	Rastersonden-Mikroskop-Einsatz für das QD PPMS®


	LOT-Oriel GmbH & Co. KG E-mail: info@lot-oriel.de				Im Tiefen See 58 D-64293 Darmstadt				Tel.: +49 6151 - 88 06 0 Fax: +49 6151 - 896667		emotiv design

α-SE™ – alpha-Spektralellipsometer

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