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Das neue Fibermetric System der FEI Company ermöglicht eine ultraschnelle und vollautomatische Auswertung von Filtern, Micro- und Nanofasern. Signifikante Zeitersparnis im Entwicklungsprozess und der effiziente Einsatz in der prozessintegrierten Qualitätssicherung zeichnen das neue System aus.
FEI Company, einer der weltweit führenden Hersteller von Elektronenmikroskopen und Analysesystemen, kündigt das neue Fibermetric™ System powered by Phenom™ an. Phenom ist das kleinste und schnellste Elektronenmikroskop der Welt.
Das Fibermetric System wurde entwickelt, um die Struktur und Anzahl von synthetischen woven und non-woven Fasern in Minuten zu analysieren. Das Fibermetric System ermöglicht eine ultraschnelle Beobachtung und hochgenaue Vermessung von Micro- und Nanofasern.
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Bisher wurden bei den Herstellern von Fasermaterial für die Untersuchungen im Submicrometer-Bereich teure und komplexe Elektronenmikroskope eingesetzt, mit der Konsequenz, dass eine prozessintegrierte Qualitätssicherung aufgrund der Probenpräparation und manuellen Auswertung prinzipiell nicht machbar war. Lichtmikroskope kommen aufgrund der sehr eingeschränkten Schärfentiefe und begrenzten Vergrößerung für die exakte Vermessung von dünnen Fasern und mehrschichtigen Filtern nicht in Frage.
Das Fibermetric System ist die erste integrierte "Turnkey"-Lösung, die eine automatisierte Dokumentation und Vermessung von synthetischen Micro- und Nanofasern ermöglicht. Mit dem Fibermetric System können in der Entwicklung und Qualitätsicherung direkt die gewünschten Daten, wie Anzahl, Dicke und Richtung von Fasern, sowie die Anzahl und Größe von Poren, ermittelt werden. Das System sammelt vollautomatisch bis zu 100.000 Messungen pro Bild.
Wofür bisher viele Stunden oder Tage erforderlich waren, sind jetzt Ergebnisse innerhalb weniger Minuten verfügbar.
Das Fibermetric System benötigt weder eine komplexe Laborinfrastruktur noch besonders geschultes Personal. Das System basiert auf dem bewährten Desktop-Elektronenmikroskop PHENOM, das durch seine intuitive Bedienung und die ultraschnelle Proben-Schleusungszeit besticht. PHENOM bietet mit einer physikalischen Auflösung von 4,9nm/Pixel maximale 24.000-fache Vergrößerung. Bei Nanofasern wird die Genauigkeit der Vermessung mit mehr als 97% angegeben.
Das Fibermetric System ist die neueste Entwicklung in der FEI PHENOM Familie. Aufgrund der intuitiven Bedienung, Geschwindigkeit, Zuverlässigkeit und den geringsten Kosten (TCO) seiner Klasse amortisiert sich die Investition in kürzester Zeit und verschafft wichtige Wettbewerbsvorteile, da Entwicklungszeiten und –kosten deutlich reduziert werden können.
PHENOM und das Fibermetric System werden in Deutschland exklusiv von LOT-Oriel in Darmstadt angeboten.
→ Weitere Informationen finden Sie hier |
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