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Spectrum - Ausgabe 109 (März 2008)

Willkommen bei unserer Fachinformations-Zeitschrift Spectrum.
Auf diesen Seiten finden Sie die Artikel aus unserer Ausgabe 109 (März 2008).

Inhalt:
Dünne Schichten – Neue QCM-D-Einsatzmöglichkeiten mit dem E1
Ellipsometrie – Woollam Newsletter – Neues Ellipsometer mit zwei rotierenden Kompensatoren
Laser – Farbstofflaser TDL90 - Die Wahl der richtigen Konfiguration
Laser – Quantel-News 2007/2008
Laser – Laserstrahldiagnostik im NIR-Bereich
Magnetometrie – AC Suszeptibilität
Materialeigenschaften – Nanoindentation-Härtemessung bei hohen Temperaturen
Oberflächenchemie – Messpaket zur Grenzflächencharakterisierung in Verbindung mit LB-Systemen
Optische Filter – Preissenkung für VariSpec-Filter
Spektroskopie – Bildgebende NIR-Spektroskopie in Chemie und Pharmazie
Spektroskopie – Dünne organische Schichten - Oberflächenplasmonenresonanz (SPR)
Spektroskopie – Wanted: Perkin-Elmer 983 oder 781
Internes – Zusammenschluss zwischen LOT-Oriel Europa und Quantum Design
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Stellenangebot Materialforschung/Dünnschichtanalyse
Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
Near Infrared Beam Profiler
New Ultra High Speed Camera Cheetah

L.O.T.-Oriel AG
E-mail: suisse@lot-oriel.com

Moulin-du-Choc
CH-1122 Romanel-sur-Morges

Tel.: +41 21 869 90 33
Fax: +41 21 869 93 08


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