LOT-Oriel - Kameras auf der SENSOR+TEST 2006

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Kameras auf der SENSOR+TEST 2006 Auf der Messe SENSOR+TEST 2006 wird Ihnen LOT-Oriel einen Auszug aus dem breiten Programm an Spezialkameras zeigen!

Zu sehen sind die NIR-Kameras mit InGaAs-FPA für den Wellenlängenbereich 900 nm bis 1700 nm. Highlight wird dabei die großformatige XEVA Large mit 640 x 512 Pixeln sein, aber auch eine XEVA Super High-Speed mit 350 Bildern pro Sekunde ist mit dabei. Natürlich werden weder die XEVA-MCT für den Wellenlängenbereich 850 nm bis 2500 nm, noch die hochauflösende Wärmebildkamera XMid auf InSb-Detektorbasis (3 bis 5 µm) fehlen, von der es auch eine großformatige Version mit 640 x 512 Pixeln, sowie die Super High Speed-Variante mit 350 Vollbildern pro Sekunde gibt. Die Mikrobolometerkamera XPort rundet unsere IR-Kameratechnik ab.

Erstmalig in Deutschland gezeigt wird unsere CMOS-Kamera CCT14M für den Kunden aus Forschung und Entwicklung, die 14 Megapixel (4536 x 3024) in kompakter Bauweise mit 12 Bit Auflösung und hohem Signal/Rausch-Verhältnis vereint. Neben den Standard 1,3 MPixel-Versionen mit hoher Dynamik und Kontrast, bei geringer Baugröße und niedrigem Preis, ist besonders auch unsere 6,6 MPixel-Kamera interessant, ebenso wie die High Speed-Kameras auf CCD- und CMOS-Basis.

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André Galliker
Tel.: + 41 21 869 90 33
Fax: + 41 21 869 93 08
galliker@lot-oriel.com

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→	Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
→	Near Infrared Beam Profiler
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