LOT-Oriel - Ausgabe 102

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Spectrum - Ausgabe 102 (April 2006)

Willkommen bei unserer Fachinformations-Zeitschrift Spectrum. Auf diesen Seiten finden Sie die Artikel aus unserer aktuellen Ausgabe 102 (April 2006).

Inhalt:

Analytik – Der neue Katalog für die Analytik ist fertig!

Dünne Schichten – Schnelle Biointerface-Charakterisierung mit dem Q-Sense E4

Imaging – Technik im Detail: EMCCD-Kameras (Teil 2)

Imaging – Verbesserte iXon+ Kameras vom Pionier der EMCCD-Technologie

Imaging – Neuer Katalog „Scientific Digital cameras Solutions“

Imaging – Kameras auf der SENSOR+TEST 2006

IR-Kameras – NIR-Kameras im erweiterten Infrarot

Interferometer – Universelles optisches Messgerät NewView 6000

Laser – Materialverdampfung mit Nd:YAG-Lasern

Lichtquellen – Strategische Partnerschaft: LOT-Oriel und LEJ

Lichtquellen – Unser Lichtquellenkatalog geht weg wie warme Semmeln

Nanotechnologie – Die zweite Generation der Routine AFM-Systeme von PNI

Oberflächenchemie – Kontaktwinkel und Oberflächenspannung

Oberflächenchemie – Tensiometer Sigma 702/702ET

Optische Filter – Neue extrem steilflankige Raman-Kantenfilter

Partikelanalyse – Partikelgrößenbestimmungen mit der analytischen Scheibenzentrifuge DC20000

Partikelanalyse – Buchtipp Partikelanalyse

Profilometrie – P-16 – der neue Stylus-Profiler von KLA-Tencor

Spektroskopie – Neu bei LOT-Oriel: Ramanspektrometer von AVALON

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Sonderangebote

Veranstaltungen

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→	www.QDUSA.com

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→	Stellenangebot Materialforschung/Dünnschichtanalyse
→	Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
→	Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
→	Near Infrared Beam Profiler
→	New Ultra High Speed Camera Cheetah


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