Home |
 |
Willkommen |
 |
|
Laser, Optik, Technologie |
Produkte |
 |
Produkte |
 |
|
LOT-Oriel - Produkte |
|
Optische Filter, Linsen, Zubehör |
|
|
Optische Filter, Linsen, Zubehör |
|
Lichtquellen, Monochromatoren, Detektoren |
|
|
Lichtquellen, Monochromatoren, Detektoren |
|
Analytik und Spektroskopie, Mikroskopie |
|
|
Analytik und Spektroskopie, Mikroskopie |
|
Laser, Laseroptik, Laserzubehör |
|
|
Laser, Laseroptik, Laserzubehör |
|
Imaging, IR-/HighSpeed/C-MOS, Metrologie |
|
|
Imaging, IR-/HighSpeed/C-MOS, Metrologie |
|
Neue Materialien, Physikalische Eigenschaften, Magnetometrie |
|
|
Neue Materialien, Physikalische Eigenschaften, Magnetometrie |
|
Oberflächen, Dünne Schichten, Biointerfaces |
|
|
Oberflächen, Dünne Schichten, Biointerfaces |
|
Nanotechnologie, SPM, AFM |
|
|
Nanotechnologie, SPM, AFM |
|
Optische Filter (UV - FIR) |
|
|
Optische Filter (UV-FIR) |
|
Filter für die Fluoreszenzanalytik |
|
|
Filter für die Fluoreszenzanalytik |
|
Elektrisch Abstimmbare Filter |
|
|
Elektrisch Abstimmbare Filter – VariSpec |
|
Quarz- und Glaslinsen |
|
|
Quarz- und Glaslinsen |
|
Spatial Light Modulator (SLM) |
|
|
Spatial Light Modulator (SLM) |
|
Lichtquellen für Forschung, Entwicklung und Industrie |
|
|
Lichtquellen für Forschung, Entwicklung und Industrie |
|
Monochromatoren und Spektrographen |
|
|
Monochromatoren und Spektrographen |
|
Integrating Spheres |
|
|
Integrating Spheres and Components |
|
CCD-/ICCD-/EMCCD-Detektoren |
|
|
CCD-/ICCD-/EMCCD-Detektoren |
|
|
CCD Detektoren und InGaAs Photodiodenarrays |
|
|
UV- und Röntgen CCD-Detektoren |
|
|
EMCCD-Detektoren |
|
|
EMCCD Tutorium Interaktiv |
|
|
ICCD-Detektoren |
|
|
ICCD Quanteneffizienzen als Flash-Animation |
|
|
CCD-Zeilendetektoren |
|
|
Spektrographen |
|
|
Seminar in Eindhoven |
|
|
Über Andor |
|
|
Seminar CCD-, ICCD- und EMCCD-Detektoren |
|
|
Quantum Register with Neutral Caesium Atoms |
|
Hohlkathodenlampen |
|
|
Hohlkathodenlampen |
|
Deuteriumlampen |
|
|
Deuteriumlampen |
|
PID-Lampen/Linienstrahler |
|
|
PID-Lampen/Linienstrahler |
|
Scheibenzentrifuge |
|
|
Scheibenzentrifuge |
|
Spin Coater/Dip Coater |
|
|
Spin Coater/Dip Coater |
|
Kameras für Mikroskope |
|
|
Kameras für Mikroskope |
|
Zubehör für Mikroskope |
|
|
Zubehör für Mikroskope |
|
Nuance |
|
|
Nuance |
|
Nd:YAG-Laser |
|
|
Nd:YAG-Laser |
|
|
Brilliant, Brilliant B und Brio |
|
|
Briliiant B Presseinformation |
|
|
Ultra und CFR |
|
|
CFR |
|
|
YG |
|
|
Industrielaser Yasmin |
|
|
BriteLight - Diodengepumpte Nd:YAG-Laser (DPSS) mit hohen Leistungen |
|
|
Presseinfo Brilliant Ultra |
|
|
DPSS-Laser Centurion |
|
Farbstofflaser |
|
|
Farbstofflaser TDL90 |
|
OPO-Komplettsysteme |
|
|
OPO-Komplettsysteme |
|
PIV-Laser |
|
|
Doppelpulslaser Twins / PIV-Laser |
|
Veröffentlichungen Rund um Laser |
|
|
Veröffentlichungen Rund um Laser |
|
Strahlanalysen Messgerät |
|
|
Strahlanalysen Messgerät |
|
Diamantoptiken |
|
|
Diamantoptiken |
|
Infrarot-Kamera-Systeme |
|
|
Infrarot-Kamera-Systeme |
|
Pulsthermographie |
|
|
Zerstörungsfreie Prüfung mit Pulsthermographie |
|
Highspeed-Kameras |
|
|
Highspeed-Kameras |
|
Vibrationsmagnetometer |
|
|
Vibrationsmagnetometer (VSM) |
|
|
VSM - Eigenschaften und Optionen |
|
|
VSM - Anwendungen und Modelle |
|
|
VSM - Modellauswahl |
|
Mapper-Systeme |
|
|
Mapper-Systeme |
|
|
Mapper Systems - Eigenschaften und Optionen |
|
|
Mapper-Systeme - Anwendungen und Systeme |
|
MPMS-XL (Magnetic Property Measurement) |
|
|
MPMS-XL (Magnetic Property Measurement) |
|
PPMS |
|
|
PPMS Physical Property Measurement System |
|
|
Nitrolab PPMS |
|
|
16 Tesla PPMS |
|
|
P525 Vibrating Sample Magnetometer |
|
SQUID-Messsysteme |
|
|
SQUID-Messsysteme |
|
Cantilever & AFM Kalibrationsstandards |
|
|
Cantilevers & AFM Calibration Standards |
|
Nano- und Mikrohärte-Testgeräte |
|
|
Nano- und Mikrohärte-Testgeräte |
|
|
Anwendungsorientiertes Seminar |
|
ESCA-System SAGE |
|
|
ESCA System SAGE |
|
|
SAGE HR |
|
Spektroskopische Ellipsometer |
|
|
Spektroskopische Ellipsometer |
|
|
VASE |
|
|
VUV-VASE |
|
|
IR-VASE |
|
|
M-2000 |
|
|
MASE |
|
|
Alpha-SE |
|
|
Spectroskopische Ellipsometer Software |
|
|
Spektroskopische Ellipsometer Anwendungsbeispiele |
|
|
Woollam-Ellipsometrie-Seminar |
|
Oberflächenchemie |
|
|
Oberflächenchemie |
|
|
KSV 5000 Langmuir Blodgett System |
|
|
KSV 3000 Langmuir Blodgett System |
|
|
KSV 2000 Langmuir Blodgett System |
|
|
KSV-Minitrog |
|
|
Spezialtröge |
|
|
Übersichtsartikel und Publikationen |
|
|
International KSV Distributors |
|
Brewster-Winkel-Mikroskop |
|
|
Brewster-Winkel-Mikroskop |
|
QCM-D Quartz Crystal Microbalance |
|
|
Quartz Crystal Microbalance |
|
|
Q-Sense E4 |
|
|
Measurement Chamber Platform QCP 401 |
|
|
Electronics Unit QE 401 |
|
|
Software QSoft 401 and QTools 2.0 |
|
|
Sensor Crystals |
|
|
Q-Sense D300 |
|
|
Immobilisierung Protokolle |
|
Nanonis SPM Controller |
|
|
Nanonis SPM Controller |
|
Nano-Ink NScriptor |
|
|
Nano-Ink NScriptor |
|
NanoFeel Manipulator |
|
|
NanoFeel Manipulator |
|
NanoSolve |
|
|
NanoSolve |
|
HTS-Magnete |
|
|
HTS-Magnete, Stromzuführung und Komponenten |
|
Kerr-Magnetometer |
|
|
Kerr Magnetometer NanoMOKE |
|
Druckzellen für elektrische- und magnetische Messungen |
|
|
Druckzellen für elektrische- und magnetische Messungen |
|
CMOS Kameras für Wissenschaft und Industrie |
|
|
CMOS Kameras für Wissenschaft und Industrie |
|
Einzelelementdetektoren |
|
|
Einzelelementdetektoren |
|
PNI - Nanotechnologie Lösungen |
|
|
Pacific Nanotechnology Inc. - Nanotechnologie, Nano-R Nano-I |
|
Faseroptik |
|
|
Faseroptik |
|
Nanospectralyzer |
|
|
Nanospectralyzer |
|
Reflektive Mikroskopobjektive |
|
|
Reflektive Mikroskopobjektive |
|
fluoroSENS Fluorimeter |
|
|
fluoroSENS Fluorimeter |
|
Maestro In-Vivo Imaging System |
|
|
Maestro - In-Vivo Imaging System |
|
Abrio/LC-PolScope Imaging System |
|
|
Abrio/LC-PolScope |
|
Hyperspectral Imaging |
|
|
Hyperspectral Imaging |
|
Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) |
|
|
Surface Plasmon Spectroscopy (SPS) |
|
Standards und Targets |
|
|
Standards und Targets |
|
Intas Gel-Imager |
|
|
Intas Gel-Imager |
|
UVX-Radiometer |
|
|
UVX-Radiometer |
|
Reinigungslaser |
|
|
Reinigungslaser |
|
Laserdiagnostik |
|
|
Laserdiagnostik - Wellenfrontsensor |
|
|
Propagationsanalyse von Laserstrahlung mit dem Wellenfrontsensor |
|
Laserleistungsmessung |
|
|
Laserleistungsmessung |
|
IR-Objektive |
|
|
IR-Objektive |
|
Profilometer |
|
|
Profilometer |
|
MPMS SQUID VSM |
|
|
MPMS SQUID VSM |
|
VersaLab - Quantum Design’s Cryogen-Free VSM |
|
|
VersaLab - Quantum Design’s Cryogen-Free VSM |
|
AMI Supraleitende Magnetsysteme |
|
|
AMI Supraleitende Magnetsysteme |
|
CRYO Industries - Kryostate, Tieftemperatur-Systeme |
|
|
CRYO Industries - Kryostate, Tieftemperatur-Systeme |
|
IR-Schmelzzonen-Ofen |
|
|
IR-Schmelzzonen-Ofen |
|
PSM – Potential-Seebeck Microprobe |
|
|
PSM – Potential-Seebeck Microprobe |
|
Nano-DST |
|
|
Nano-DST |
Angebote |
|
Angebote |
|
|
LOT-Oriel - Angebote |
Kontakte |
|
Kontakte |
|
|
Kontakte |
|
|
Julien Dumouchel |
|
|
André Galliker |
|
|
Patricia Reinecke |
|
|
Peter Steinmann |
Termine |
|
Termine |
|
|
LOT-Oriel - Termine |
Spectrum |
|
Spectrum |
|
|
LOT-Oriel - Spectrum |
|
Deutsche Ausgabe 109 |
|
|
Inhaltsverzeichnis |
|
|
Neue QCM-D-Einsatzmöglichkeiten mit dem E1 |
|
|
Woollam Newsletter – Neues Ellipsometer mit zwei rotierenden Kompensatoren |
|
|
High Speed NIR-Bildverarbeitung mit der Cheetah |
|
|
Wanted: Perkin-Elmer 983 oder 781 |
|
|
Farbstofflaser TDL90 - Die Wahl der richtigen Konfiguration |
|
|
Quantel-News 2007/2008 |
|
|
Laserstrahldiagnostik im NIR-Bereich |
|
|
Magnetometrie - AC Suszeptibilität |
|
|
Nanoindentation-Härtemessung bei hohen Temperaturen |
|
|
Messpaket zur Grenzflächencharakterisierung in Verbindung mit LB-Systemen |
|
|
Preissenkung für VariSpec-Filter |
|
|
Bildgebende NIR-Spektroskopie in Chemie und Pharmazie |
|
|
Dünne organische Schichten - Oberflächenplasmonenresonanz (SPR) |
|
|
Zusammenschluss zwischen LOT-Oriel Europa und Quantum Design |
|
Deutsche Ausgabe 108 |
|
|
Inhaltsverzeichnis |
|
|
WVASE-Trainings-Kurs |
|
|
CMOS-Kameras von 1,3 bis 14 Megapixel |
|
|
NIR-Kameras für jede Anwendung |
|
|
Kompakter, gepulster SLM-Laser |
|
|
Quantel eröffnet eigenes Büro in Deutschland |
|
|
Monochromatische Lichtquellen - Universelle Arbeitstiere für den Laboreinsatz |
|
|
SQUID, kein Tintenfisch... ein Magnetfeldsensor |
|
|
IR-Schmelzzonen-Ofen von Canon Machinery |
|
|
Hochtemperatur-Nanoindentation - jetzt im LOT-Applikationslabor |
|
|
Carbon Nanotube-Charakterisierung auf Knopfdruck |
|
|
Wir stellen vor: Die Nanotechnologie-Gruppe der LOT |
|
|
Kompaktes Kontaktwinkelmeter CAM100 |
|
|
Minitrog für Rheometer |
|
|
Sonderangebot Dip Coater |
|
|
Extrem steilflankige Kurzpass-Ramanfilter |
|
|
Partikelgrößen im sub-µm-Bereich mit der Zentrifuge |
|
|
Golden Gate-System zur Untersuchung superkritischer Flüssigkeiten |
|
|
IR-Starter-Set - da ist alles drin |
|
|
Wirbelstürme zum Kaufen - Langweggasküvetten |
|
|
fluoroSENS – ein kompaktes Fluorimeter mit Einzelphotonen-Empfindlichkeit |
|
Deutsche Ausgabe 107 |
|
|
Inhaltsverzeichnis |
|
|
Schnelle Biointerface-Charakterisierung mit dem Q-Sense E4 |
|
|
Sechstes QCM-D-Usermeeting |
|
|
Infoseminar „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“ |
|
|
Hyperspektrale Analyse - Bildgebende Spektrometer aus Finnland |
|
|
High Speed-Kameras von Citius in der Papiermühle |
|
|
Quantitative Vermessung thermischer Linsen |
|
|
Vibrationsmagnetometer von Quantum Design |
|
|
Tiefste Temperaturen |
|
|
VersaLab - 3 Tesla Cryogen-free VSM |
|
|
Nano-Impakt-Untersuchungen an Oberflächen |
|
|
Ellipsometrie-Seminar 2007 |
|
|
Nano-DST - Das neue High-End AFM-System |
|
|
Manuelles Tensiometer für QC und Ausbildung |
|
|
Hochtransmissive Filter für die Fluoreszenzspektroskopie |
|
|
Preissenkung bei HKL-Lampen |
|
|
Lichtquellen |
|
|
Neue InGaAs-Detektoren für die NIR-Spektroskopie |
|
Deutsche Ausgabe 106 |
|
|
Deutsche Ausgabe 106 |
|
|
Preissenkung bei HKL-Lampen |
|
|
QCM-D - Hämokompatibilität von Hydroxylapatit |
|
|
International Conference on Spectroscopic Ellipsometry |
|
|
Centurio – High Speed-Kamera mit mittlerer Aufnahmegeschwindigkeit |
|
|
NIR-Kameras hoher Qualität – zu sehen auf der Laser 2007 |
|
|
Abbildende NIR-Spektroskopie mit der XEVA-Kamera von XenICs |
|
|
Neu bei Zygo – Asphären-Interferometer |
|
|
LOT-Oriel auf der LASER 2007 in München |
|
|
Laserleistungsmessung bei LOT-Oriel |
|
|
Opti-MAxes™ – ein supraleitendes Vektorfeld-Magnetsystem von AMI |
|
|
Neuer NanoTest NTX-Controller von MicroMaterials |
|
|
Nanopartikel-Charakterisierung mit dem Nano-Rp™-System |
|
|
Eine Wiege für Kontaktwinkelmeter |
|
|
Dip Coater jetzt wesentlich günstiger |
|
|
Newsletter von KSV |
|
|
Neuer Filterkatalog von Andover |
|
|
Laserartige XUV-Strahlung: Charakterisierung und Handhabung von Gasharmonischen |
|
|
Modulare optische Spektroskopie auf der Laser 2007 |
|
Deutsche Ausgabe 105 |
|
|
Inhaltsverzeichnis |
|
|
20 Jahre Woollam Co. |
|
|
In-situ-Ellipsometrie zur Schichtkontrolle mit ALD (Atomic Layer Deposition) |
|
|
14 Megapixel-CMOS-Kamera |
|
|
In-vivo-Fluoreszenz |
|
|
Passe- und Ebenheitsmessung trotz Schwingungen |
|
|
NewView 600 |
|
|
3He-Einsatz für SQUID-Magnetometer |
|
|
Messung magnetischer Momente |
|
|
Flüssigzelle für Nanoindentation |
|
|
Dip Pen-Nanolithography |
|
|
HYDRA - die neue Cantilever-Generation |
|
|
Neuer, verlängerter KSV-Minitrog |
|
|
Reflektive Mikroskopobjektive |
|
|
Diamantfenster werden bezahlbar |
|
|
Ealing Catalog Inc. und LOT-Oriel |
|
|
Solarsimulation zweite Generation |
|
|
fluoroSENS - Neues Benchtop-Fluorimeter |
|
|
Monochromatoren/Spektrografen von Gilden Photonics |
|
|
Golden Gate mit erweitertem Spektralbereich |
|
Deutsche Ausgabe 104 |
|
|
Inhaltsverzeichnis |
|
|
Sonderangebot Atlas-Presse |
|
