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Für Ihren Laser das richtige Werkzeug zur Strahlcharakterisierung - LOT-Oriel bietet ein breites Produktspektrum:

Wellenfrontmessung
Messung von Strahlprofil und -kaustik
Strahlprofilmessung




Wellenfrontmessung nach Hartmann-Shack

Im Überblick
Wellenfrontparameter nach ISO 15367
Sämtliche Strahlparameter inklusive M2 und Strahlpropagation (Nah- und Fernfeld, Strahltaille)
Angaben in Echtzeit
Integriertes Mikrolinsenarray, optimiert für Wellenfrontmessung
Umfangreiche Software für Strahlprofil- und Wellenfrontdiagnostik
Kompakte Kamera mit USB2.0
Geeignet für cw- und Pulslaser
Test und Vermessung von Optiken (Zernike-Analyse)
Wellenfrontkorrektur in Echtzeit, Einsatz von räumlichen Modulatoren (SLM)
Laserjustage und Strahldiagnostik

Das System beinhaltet neben der Kamera mit dem integrierten Mikrolinsenarray die BEAM-Software zur Analyse von Strahlprofil und Strahlpropagation. Es stehen mehrere Kamerakonfigurationen zur Auswahl.





Kaustikmessplatz

Verfahrbare Kamera zur Profilmessung im Bereich um die Taille hinter einer Linse (Strahlkaustik)

M2-Messung
Auswertung der Strahleigenschaften nach ISO11146
10bit- oder 12bit-CCD-Kamera
Spektralbereich von 350 – 1100 nm
Motorisierter Verschiebetisch
Software für Strahlprofildiagnostik und Propagationsanalyse
USB-Anschluss für 10bit-Kamera, „Frame Grabber“ für 12bit-Kamera





Strahlprofilmessung

Strahlprofil in Echtzeit
CMOS- oder CCD-Kamera
Spektralbereich von 350 – 1100 nm
UV-Version 190 – 1100 nm, EUV/ XUV
Umfangreiche Software für Strahlprofildiagnostik
Direkte Auswertung von Strahlkenngrößen im Labor- und Strahlkoordinatensystem gemäß ISO 11146
Anschlussbereit über USB
Belichtungszeit von 50 μs bis 5 s stufenlos einstellbar – auch über automatische Belichtung




Strahlpropagation eines aberrierten He-Ne-Lasers, berechnet aus den Wellenfrontmessdaten.

PDF-Download
Wellenfrontsensor (PDF, 389 KB)
NIR Beam Profiler (PDF, 454 KB)


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Tel.: +41 21 869 90 33
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