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Pacific Nanotechnology Inc.- Nanotechnologie Lösungen

Pacific Nanotechnology Inc. ist eine innovative Nanotechnologie Firma aus Santa Clara, Kalifornien mit einer weitreichenden Erfahrung in der Produktion und Entwicklung von Rasterkraftmikroskopen.

Die Rasterkraftmikroskope von Pacific Nanotechnologie vereinen eine hohe Leistungsfähigkeit mit einer leicht zu bedienenden Handhabung. Herausragende Merkmale des Nano-R2 und seiner großen Schwester Nano-Im sind ein hochauflösendes, motorisiertes Videomikroskop, ein x-y motorisiertes Positioniersystem der Probe sowie ein ausgeklügeltes, schnelles und sicheres Cantilever-Ausstausch System. In nur wenigen Schritten führt Sie das integrierte Software Packet über eine benutzerfreundliche Bedienoberfläche zu qualitativ hochwertigen Nanoaufnahmen Ihrer Probe. Mögliche Anwendungsgebiete sind:



Der schnellste und sicherste Tip Exchange der AFM-Welt

Partikel Analyse
Untersuchung von Mikro/Nanostrukturen
Untersuchung von Polymeren
Charakterisierung von Wafern

Der neu entwickelte Crystal Scanner für das Nano-R2 System benötigt auf Grund eines neuartigen Kraftsensors keine komplexe Laserjustage mehr und richtet sich gerade an unerfahrene Benutzer auf dem Gebiet der Nanotechnologie.

Mit dem Nano-R2 und dem Nano-Im bieten wir sowohl industriellen Kunden, als auch Forschungseinrichtungen das ideale Instrument für Ihre nanotechnologische Forschung, Entwicklung und Prozesskontrolle. Pacific Nanotechnology Inc.:

Innovativ

Easy to use

Produktiv

Informationsbroschüren
Nano-R2 (PDF, 1,1 MB)
Nano-Im (PDF, 447 KB)
Nano-E™ (PDF, 1,7 MB)

Anwendungen
General Turorial of Atomic Force Microscopy (PDF, 170 KB)
Nanoscience and Nanotechnology (PDF, 115 KB)
AFM Image Artifacts (PDF, 538 KB)
Surface Derivatization for Biosensor Applications (PDF, 155 KB)
Defect Inspection (PDF, 160 KB)
Nano-Surface Texture/Roughness (PDF, 156 KB)
DVD Analysis (PDF, 101 KB)
Nanostructures (PDF, 261 KB)
Metallurgy (PDF, 271 KB)
Polymer Applications (PDF, 205 KB)
NanoTribology Applications (PDF, 215 KB)
History of Atomic Force Microscopy (PDF, 81 KB)

Messungen als Dienstleistungen


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