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Nanotechnologie, SPM, AFM
Nano-R2 und Nano-I2 – Die hochwertigen Routine-AFM Systeme für die Messung von Oberflächenstrukturen, Nanopartikeln, Nano-Metrologie und Metallurgie. Nanoink NScriptor™ DPNWriter™ – Dip Pen Nanolithographie™ (DPN™) - Erzeugung kleinster Nanostrukturen mit molekularer "Tinte"
Nano-DST™ – das neue High-End AFM System mit einem high-speed Piezo Scanner für Video-AFM Messungen Cantilever & AFM Kalibrationsstandards
Nanospectralyzer™ für Single-walled Carbon Nanotube (SWNT) Charakterisierung Nanoindentation – mechanische Eigenschaften (Härte, E-Modul) dünner Schichten
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