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Das Nano-DST™ ist das Flaggschiff der Firma Pacific Nanotechnology. Es stellt ein high-performance AFM System da, welches für äußerst anspruchsvolle Forschungsanwendungen gebaut wurde. Das komplette System beinhaltet neben einer leistungsstarken Software und einer Kontrolleinheit, die keine Wünsche offen ebenfalls eine wirkungsvolle Schwingungsdämpfung und äußerst präzise AFM Scanner.
Besondere Kennzeichen des Nano-DST™ sind:
Dual Scanner Control (DST) : Das System verfügt sowohl über einen Sample-Scanner, als auch über einen Tip-Scanner. Beide Scanner können individuell betrieben werden, so dass neben hochauflösenden Aufnahme auch Messungen mit einer Messgeschwindigkeit von bis zu 250 Hz pro Linie möglich sind.
Modulares Kontrollsystem: Das Kontrollsystem des Nano-DST™ bietet auf Grund seines modularen Aufbaus vielfältige Möglichkeiten für neue Messmodi und Experimente. | |
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Flexure Scanner mit 3-D Kalibrationssensoren: Das Flexure-Scanner-Design gewährleistet eine sehr hohe Messgenauigkeit, so dass selbst große Messbereiche (bis zu 350 µm) möglich sind.
Leistungsstarke A/D-Wandler: Aufgrund der 24-bit Kontrolleinheit, sowie der 400 MHz, rauscharmen und sehr stabilen Elektronik bietet das Nano-DST™ die höchsten auf dem Markt möglichen Spezifikationen eines AFM Systems.
Mögliche Messmodi: Neben den Standardmessmodi wie Kontakt- oder Oszillationsmode bietet das Nano-DST™ auch die Möglichkeit weitere Messmodi wie SThM, MFM, EFM, STM oder auch SKPM durchzuführen.
Motorisierte Probenstage: Die Nano-DST™ Stage beinhaltet 7 Schrittmotoren zur Steuerung der Probenposition, des optischen Zooms und Fokuses, sowie der Z-Position des Tip-Scanners.
Nano-DST™ Stage: Die Stage des AFM Systems ist aus hochwertigem Granit hergestellt, welches ein sehr gute Schwingungsisolation gewährleistet. Das gesamte optische Mikroskop, sowie der Light Lever AFM Scanner sind über eine Gerüstaufhängung mit dem Granitblock verbunden, was zu einem besonders stabilen und somit rauscharmen Aufbau des Systems führt. |
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| Light Lever Tip-Scanner: Der AFM Scanner im Flexure-Design bietet eine sehr hohe Messgenauigkeit, geringem Crosstalk und hohe Linearität. In Kombination mit XYZ-Kalibrationssensoren können Sie ohne große Probleme von Übersichtsaufnahmen hin zu Zoomaufnahmen wechseln. Der sehr einfache Cantilerwechsel durch vormontierte Spitzen ist äußerst Bedienerfreundlich und bietet gerade unerfahrenen Benutzern ein hohes Maß an Sicherheit. Selbstverständlich können mit Hilfe eines Cantilveradapters auch alle anderen Arten von Cantilevern benutzt werden. Durch den Einsatzt einer 4-Quadranten-Diode mit einer hohen Bandbreite können selbst hochfrequente Oszillationsmessungen, als auch sehr sensitive Reibungsmessungen durchgeführt werden. Anschlussmöglichkeiten für elektrische Messmodi runden diesen Scanner ab. |
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| High Speed Sample-Scanner |
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| High Speed Sample-Scanner Der zweite AFM Scanner des Nano-DST™ stellt einen Probenscanner dar. Dieser Tube-Scanner wurde speziell für schnelle Messgeschwindigkeiten entwickelt (bis zu 250 Hz/Linie). |
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| Schneller Spitzen Austausch – A: Messposition des Scanners; B: Position des Scanners zum Spitzenwechsel |
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| Schneller Spitzen Austausch: Über einen so genannten Flip-Scanner Mechanismus stellt das Wechseln des Cantilvers keine Probleme mehr da. Weder können die Cantilever noch der Scanner an sich bei dem Austausch beschädigt werden und durch die Softwareunterstützung können dank gespeicherter Proben- und Fokuspositionen die Messungen sehr schnell und mit hoher Genauigkeit weitergeführt werden. |
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| Probenhalter: Auf Grund seines modularen Aufbaus kann der Probenhalter für unterschiedliche Probengrößen verwendet werde. So lassen sich einzelne Platten aus dem Halter entfernen, was auch das Messen sehr hoher Proben ermöglicht. Mittels eines zentrierten Magneten im Probenhalter können die Proben (falls auf einem Metallmessplättchen montiert) sicher und effektiv montiert werden. |
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| XY Positioniereinheit: Der Probenhalter bzw. der High Speed Sample-Scanner können über eine Software gesteuerte Positioniereinheit verschoben werden. Dies ermöglicht eine sehr genaue Probenplazierung, sowie mittels Software unterstützten Messroutinen eine automatisierte Probenvermessung. |
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