LOT-Oriel - Spektroskopische Ellipsometer

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Spektroskopische Ellipsometer

LOT-Oriel vertritt europaweit Woollam Co., den Weltmarktführer auf dem Gebiet Spektroskopische Ellipsometrie. Wir bieten Ellipsometer an für Forschung und Produktionsüberwachung, zur Bestimmung optischer Konstanten und Schichtdicken, auch von Vielschichtsystemen, in-situ und ex-situ. Spektroskopische Ellipsometer vom VUV bis FIR, mit der wohl umfangreichsten und komfortabelsten Software.

Bei L.O.T.-Oriel finden Sie eine Vielzahl von spektroskopischen Ellipsometer, für jeden Anwendungsfall das optimale System.


	VASE® (mit Video) Leistungsfähiges Forschungsellipsometer mit grossem Spektralbereich (193 – 2200 nm)		M-2000® (mit Video) Schnelles Rotating Compensator Ellipsometer, verschiedene Spektralbereiche
	VUV-VASE™ (mit Video) Spektralellipsometer für den Spektralbereich von VUV bis NIR. Ideal für Lithographieanwendungen bei 157nm, 193nm und 248nm		MASE™ (mit Video) Neues Mehrwinkelellipsometer, basierend auf M-2000 mit schnellem Winkelwechsel
	IR-VASE® IR-Ellipsometer mit Spektralbereich 2 bis 35µm		Alpha-SE™ (mit Video) Preiswertes Spektralellipsometer, einfach zu bedienen

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Ihr Kontakt:

André Galliker
Tel.: + 41 21 869 90 33
Fax: + 41 21 869 93 08
galliker@lot-oriel.com

Links:


Externe Links:
→	www.jawoollam.com
→	Arbeitskreis Ellipsometrie (AKE) - Paul Drude e.V.
→	5th Workshop Ellipsometry, Zweibrücken, March 2nd - 4th, 2009

Aktuelles:


→	Stellenangebot Materialforschung/Dünnschichtanalyse
→	Large Area Imaging at -100 °C ....the Andor iKon-M (PDF, 246 KB)
→	Merger between LOT-Oriel Europe and Quantum Design (PDF, 56 KB)
→	Near Infrared Beam Profiler
→	New Ultra High Speed Camera Cheetah


	L.O.T.-Oriel AG E-mail: suisse@lot-oriel.com				Moulin-du-Choc CH-1122 Romanel-sur-Morges				Tel.: +41 21 869 90 33 Fax: +41 21 869 93 08		emotiv design