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SiN-Cantilever
Bei uns finden Sie verschiedene SiN-Cantilever die sowohl unbeschichtet als auch beschichtet bestellt werden können. Mit sehr geringen Kraftkonstanten eignen sich SiN-Cantilever hervorragend zur Messung von weichen Proben im Contact Modus, was gerade bei der Vermessung von biologischen Proben in Flüssigkeiten ein Vorteil gegenüber herkömmlichen Non-Contact Cantilevern aus Silizium sein kann. |
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Cantilever von Applied NanoStructures
Bei uns finden Sie mit den Silizium Cantilevern der Firma Applied NanoStructures genau die Cantilever, die Sie benötigen. Neben den Standardcantilevern für Contact- bzw. Non-Contact Modus, finden Sie bei uns auch Cantilever für MFM, EFM, den Force-Modulation Modus, sowie High Aspect Ratio Cantilever. Alle Cantilever bieten ein hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis, bestechen durch ihre äußerst scharfen Spitzen und passen in alle herkömmlichen AFM System. Wir bieten standardmäßig eine Aluminium Reflex Beschichtung an, wobei weitere Beschichtungen auf Anfrage möglich sind. |
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| AFM Kalibrierungsstandards von NanoDevices |
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