Willkommen bei unserer Fachinformations-Zeitschrift Spectrum.
Auf diesen Seiten finden Sie die Artikel aus unserer Ausgabe 124 (Oktober 2011).
CCD-Kameras |
Charakterisierung von Polymer-Solarzellen und Modulen
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Kameras zur Detektion von RöntgenstrahlungNeben den oft vorgestellten Kameras und Detektoren für das Scientific Imaging und die Spektroskopie, bietet Andor Technology auch Kameras für den direkten und indirekten Nachweis von Röntgenstrahlung an. |
Ein neuer Millionär! UltrahighspeedkamerasIm August wurde von uns die weltweit erste Cordin Ultrahighspeed-Kamera der Modellreihe 535D an der Universität in Lodz in Polen installiert. |
Dünne Schichten |
Präzise Tiefenmessung von flachen SIMS-Kratern mit dem Stylus Profilometer von KLA TencorSIMS-Krater tiefer als 0,1 mm können mit dem P16+ routinemäßig mit einer Wiederholstandardabweichung von kleiner 1% gemessen werden. |
FLX-2320-S Dünnschicht-StressmesssystemDas FLX-2320-S liefert Stressmessungen an verschiedenen Schichten und Substraten. |
Biotin und His-Tag – neue QCM-D-Sensoren für die BiotechnologieQ-Sense hat für seine QCM-D-Systeme zwei neue Sensor-Typen entwickelt. |
Nanotechnologie |
Optische Pinzetten auf dem Sprung zur etablierten Technologie?Die Grundlagen der optischen Pinzette sind seit den Arbeiten von Arthur Ashkin aus dem Jahr 1970 bekannt, wo er als erster die Möglichkeit beschrieben hat, kleine Partikel in einer optischen Falle festzuhalten. |
Durham Magneto Optics im neuen GewandUnser langjähriger Lieferant Durham Magneto Optics (DMO) aus Durham, England präsentiert sich seit kurzem mit einem neuen Internetauftritt. |
Prozessoptimierung und FehleranalyseDa die Produktionsfehler häufig innerhalb der 3D-Struktur „verschwinden“, steigt der Bedarf an neuen 3D-Charakterisierungstechniken, mit denen die Fehlerursachen gefunden und isoliert werden können. |
Lokale Deposition von Biomolekülen zur Erhöhung der Sensitivität von SensorenIn den letzten zwei Jahrzehnten hat es große Fortschritte bei der Entwicklung von sogenannten Mikroelektromechanischen Systemen (engl. MEMS) zum Einsatz als chemische Sensoren gegeben. |
Tiefe Temperaturen |
Neue Optionen für die Kryo-StationDie Kryo-Station von Montana Instruments ist ein optischer Kryostat mit geschlossenem Helium-Kreislauf, welcher sich durch ein geringes Vibrationslevel (5 nm), hohe Temperaturstabilität (10 mK) und einfachste Bedienung (vollständige Automation, leichter Probenzugang, optionale Labview- |
Partikelanalyse |
Partikelgrößen eng verteilt und doch aufgelöst!Die Scheibenzentrifuge ist anerkannt die Partikelgrößenmesstechnik mit der höchsten Auflösung am Markt. |
Photovoltaik |
AFM-IR: Analyse von organischen Photovoltaik-MaterialienIm Rahmen der aktuellen Diskussionen zur Entwicklung neuartiger Materialien für die Photovoltaik nehmen organische Verbindungen eine wesentliche Rolle ein. Wichtiger Parameter bei der Entwicklung dieser neuen Materialien ist natürlich die Energieeffizienz bei gleichzeitig niedrigen Herstellungskosten. |
Wissenswertes über Solar-ReferenzzellenEin kleines aber entscheidendes Bauteil eines IV-Messplatzes ist die Referenzzelle zur Kalibrierung der Intensität eines Solarsimulators. |
Profilometer |
Weltneuheit: ZeGage, der robuste optische 3D-ProfilerZeGage ist das ideale berührungslose optische Profilometer für quantitative 3D-Messungen von Form und Rauheit feinst bearbeiteter Oberflächen. |
Präzise Tiefenmessung von flachen SIMS-Kratern mit dem Stylus Profilometer von KLA TencorSIMS-Krater tiefer als 0,1 mm können mit dem P16+ routinemäßig mit einer Wiederholstandardabweichung von kleiner 1% gemessen werden. |
Spektroskopie |
International Light führend in der Radiometrie und LichtmesstechnikInternational Light Technologies (ILT) ist seit über 40 Jahren führend in den Bereichen Radiometrie und Lichtmesstechnik. |
Gut gebohrt? LagerstättenexplorationIn der Lagerstättenexploration ist es wesentlich, möglichst frühzeitig Hinweise darüber zu erhalten, welche Gesteine anliegen und ob sich ein kostspieliger Abbau auf Dauer lohnt. |
Termine |
Roadshow: PhotovoltaikAufgrund der hohen Nachfrage nach Vor-Ort-Vorführungen unserer Messplätze zur Solarzellencharakterisierung werden wir dieses Jahr eine kleine „Tour d‘ Allemagne“ starten, um Sie in Sachen Photovoltaik zu informieren. |
Seminar: „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“Am 15. November dieses Jahres planen wir unser inzwischen zur Tradition gewordenes Seminar zum Thema „Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten“. |
Ellipsometrie-Seminar 2011Am 31. Oktober veranstalten wir wieder unser jährliches Ellipsometrie- Seminar. |
CompleteEASE-Software-Trainingkurs: Auswertung ellipsometrischer MessdatenWir bieten vom 2. bis zum 4. November einen Kurs zur CompleteEASE-Software an. |
Sonderangebote |
Cantilever SonderaktionWir lösen unser AFM-Cantileverlager auf und haben viele verschiedene Sorten günstig abzugeben. |
Strahlungsfester Helium-Flüssigkeitslevel-Sensor |
In eigener Sache |
Neuer Vertreter für LOT-Oriel Belgien, Niederlande und LuxemburgWir begrüßen ganz herzlich unseren neuen Kollegen, Stephane Struyve. |
Termine:
LOT-Oriel GmbH & Co. KG | info@lot-oriel.de | Im Tiefen See 58 | D-64293 Darmstadt | Tel.: +49 6151 88060 | Fax: +49 6151 896667 | HRB Amtsgericht Darmstadt 6538