α-SE™

 

alpha-Spektralellipsometer

 

Schnelles, preiswertes System zur Bestimmung von Schichtdicken und optischen Konstanten. Das Gesamtsystem ist beeindruckend klein und kompakt ohne zusätzliche Steuereinheiten. Es ist somit das ideale Tischgerät. Die Rechneransteuerung erfolgt über USB.

 

 

 

 

 

 

 

Einfache Bedienung: Knopfdruckbedienung mit leistungsfähiger Software

 

Flexibel: Untersuchung von verschiedensten Materialien – Dielektrika, Halbleiter, Metalle, organische Schichten...

 

Leistungsfähig: hohe Messgenauhigkeit durch RCE-Methode; Messung von Depolarisation und Müller Matrix

 

Preiswert: die Leistungsfähigkeit eines SE für niedrigen Preis

 

Schnell: > 100 Wellenlängen simultan innerhalb von wenigen Sekunden – sofortige Fitergebnisse

 

 

Alpha-SE™ Software

Wählen Sie Ihr Auswertemodell aus der Drop-Down-Liste, ein 'Projekt', in das die Ergebnisse gespeichert werden und klicken Sie den Knopf 'Measure'. Das ist alles!

 

Modellfunktionen

• Dispersionsfunktionen zur Beschreibung der optischen Konstanten aller Materialien: Cauchy, Sellmeier, Lorentz, Gauss, Tauc-Lorentz, Drude, etc.
• Indexgradient
• Ober- und Grenzlächenrauhigkeit

 

 

Spezifikationen

• Spektralbereich: 380 nm bis 900 nm (180 Wellenlängen)
• Einfallswinkel: 65°, 70° und 75°
• Computerverbindung: USB (1.1 oder höher)
• Automatisierte Probenhöhenjustagen
• Messzeit:
  - 3 Sek. (Fast Mode)
  - 10 Sek. (Standard Mode)
  - 30 Sek. (Long Mode)

 

 

PDF Downloads

 

Alpha SE Broschüre