
Neu: Phenom G2 Desktop-Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskopie und einfache, intuitive Bedienung schlossen sich in der Vergangenheit aus. Mit dem Phenom-Desktop-Elektronenmikroskop wurde in den letzten Jahren bewiesen, dass durch konsequentes, anwenderorientiertes Produktdesign auch komplexe Anwendungen einer breiten Anwendergruppe zugänglich gemacht werden.
Vom Schülerlabor bis zum HighTech-Forschungsinstitut, vom Einstiegssystem in die REM-Welt bis zur Entlastung der HighEnd Raster- und Transmissions-Elektronenmikroskopie, von der Materialforschung bis zur produktionsintegrierten Qualitätssicherung:
Das Phenom-Konzept hat die Lücke zwischen Licht- und klassischer Elektronenmikroskopie erfolgreich geschlossen.
Die neue Phenom G2 – Gerätegeneration ist die konsequente Weiterentwicklung des bewährten Desktop-Elektronenmikroskops Phenom.
Phenom G2 wird in 2 Systemkonfigurationen angeboten:
NEU: Phenom G2 pure – Das kostengünstige Einstiegssystem
Vergrößerung von 20x – 15.000x (Pixelauflösung 7,8 nm)
NEU: Phenom G2 pro – Professionelles Desktop-REM mit herausragenden Leistungen
Vergrößerung von 20x – 45.000x (Pixelauflösung 2,9 nm)
Mit einem umfangreichen Zubehörprogramm lässt sich das Phenom genau für Ihre Anwendung konfigurieren.
NEU: Phenom Coolstage
Die neue Probenkammer mit integrierter Coolstage bietet neue Möglichkeiten für vakuum- und elektronenstrahlempfindliche Proben
Lesen Sie mehr in der Rubrik Zubehör.
SpezifikationenDesktop-Rasterelektronenmikroskop Phenom G2
Vergrößerungen
Automatikfunktionen
Bildformate
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ZubehörAktive Probenkammern
Probenkammer mit integrierter Kühlung/Heizung
Manche Proben neigen im Vakuum des Elektronenmikroskops aufgrund von Entwässerung, Ausgasen und Temperatur zu Strukturartefakten, wie Kollabieren, Ausgasen oder Anschmelzen. Andere Proben, z.B. aus dem Pharmabereich sollen bei Körpertemperatur inspiziert werden. Dazu ist es notwendig, eine definierte Temperatur in der Probenkammer einzustellen.
Die neue Probenkammer wird mit einem externen Controller und Kühleinheit geliefert.
Beispiel:
Bonbon schmilzt bei +35°C Bild rechts: Struktur und Feuchtigkeit bleibt bei kontrollierter Kühlung erhalten
Probenkammer mit zusätzlichen, integrierten Kipp- und Rotationsachsen
Zusätzlich zur standardmäßig im Phenom integrierten XY-Stage, bieten wir verschiedene Varianten mit zusätzlichen Kipp- und Rotationsachsen an. Die Kipp- und Roataionsachsen wirken direkt am REM-Probenhalter, so dass Proben unter verschiedenen Betrachtungswinkeln inspiziert werden können. Diese hochpräzisen Piezomotoren werden in eine Standard-Probenkammer des Phenom integriert. Am Phenom werden keine Änderungen vorgenommen.
Variante 1: Kippachse -3° bis +90° Kippachse lässt sich auf -3,0° bis +3,0° limitieren Geeignet zur Herstellung von 3D-Aufnahmen in Verbindung mit Bildverarbeitungssoftware, wie Scandium mit Option "Height"
Variante 2: Kippachse -3° bis +90°, Rotationstisch
Variante 3: Rotationsachse mit Encoder, Kippachse fix auf 54,7° Rotation läßt sich auf 0,1 ° genau reproduzieren. Dieser Probenhalter wurde speziell für die Partikelanalyse entwickelt, bei der es darauf ankommt, eine Probe von (fast) allen Seiten betrachten zu können. Weitere Informationen auf Anfrage.
Passive Probenkammern
http://www.phenom-world.com/electron-microscope/products/accessories
Probenkammer Standard
Zur Montage von Proben auf REM-Probenträgern bis 25 mm Durchmesser, Höhe der Probe max. 30 mm Diese Probenkammer wird standardmäßig mit jedem Phenom ausgeliefert. Bei intensiver Nutzung des Phenom empfehlen wir mindestens 2 dieser Probenkammern vorrätig zu haben.
Probenkammer für Schliffe Zur sicheren Montage von Schliffproben ohne aufwändiges Fixieren. Schliffe bis 30 mm Durchmesser, Höhe der Probe max. 30 mm Einfacher geht es nicht, eine Schliffprobe sicher und absolut plan in das Elektronernmikroskop zu schleusen. Ohne Kleben. Ob der Boden uneben ist, spielt keine Rolle, da die Schliffprobe an der Oberseite ausgerichtet wird.
Charge Reduction
Die Standard- und Schliffprobenkammer sind auch in "Charge Reduction"- Version verfügbar.
Diese Probenkammern kommen dann zum Einsatz, wenn Sie mit nicht leitfähigen Proben arbeiten. Aufgrund des höheren Anteils an Restluft in der Probenkammer werden die darin befindlichen Wasserstoff-Atome durch den Elektronenstrahl positiv ionisiert. Diese positiv ionisierte Wolke holt sich die fehlenden Elektronen von der Oberfläche der nicht leitfähigen Probe zurück. Der Effekt ist, daß dadurch mit bis zu 8 x mehr Vergrößerung gearbeitet werden kann, bevor der sogenannte Aufladungseffekt einsetzt und gegebenenfalls auf das Sputtern vollständig verzichtet werden kann. Nützlicher Nebeneffekt ist, dass vakuumemfindliche Proben weniger Strukturartefakte aufweisen.
Probenkammer Microtool
Sie haben stabförmige Proben, wie z.B. Bohrer, Fräser, Kanülen, Stäbe, etc. mit einer Länge bis zu 100 mm und Durchmesser bis zu 10mm? Mit dieser Probenkammer können Sie zerstörungsfrei und ohne Klebetechnik Ihre Probe im REM inspizieren.
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Software
Phenom Pro Suite ist eine optionale Hardware-Plattform, bestehend aus
Pro Suite wurde entwickelt, um aktuelle und zukünftige REM-Applikationen in Verbindung mit dem Desktop-Elektronenmikroskop Phenom in einer verifizierten Hardware-Umgebung zu betreiben.
Pro Suite ist Basis für folgende Appliaktionen
Professionelle Anwendungen für Phenom Pro Suite
3D Roughness Reconstruction
Sekundenschnelle 3-Dimensionale Visualisierung von Objekten mit dem REM. Mit diesem bewährten Instrument können Sie die bereits hervorragenden topografischen Bilder, die Sie mit Ihrem Phenom angefertigt haben noch besser visualisieren. Das Verfahren kommt ohne Bewegung der Probe aus und erzeugt aus dem Signal der 4 Quadranten des Rückstreuelektronendetektors das 3D-Bild.
Die Software bietet zusätzlich die Ermittlung von Rauigkeitswerten. Viele Kunden setzen die Software auch ein, um Bruchflächen zu inspizieren.
NEU: Fibermetric 2.0
Für Hersteller und Verarbeiter von Fasermaterial die ultimative Anwendung zur Vermessung von nanoskaligen Faserdicken und Porenflächen. Einzigartige Anwendung, die in Sekundenschnelle aus REM-Aufnahmen mit dem Phenom Ihr Fasermaterial analysiert und statistisch aufbereitet.
In der jetzt veröffentlichten Version 2.0 wurden folgende Verbesserungen realisiert:
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ProbenpräparationEinsätze für Phenom Probenkammern
Zielsetzung bei der Vorbereitung Ihrer Proben ist eine möglichst schnelle, sichere und wenig kontaminierende Montage Ihrer Proben. Deshalb versuchen wir auf Klebstoffe zu verzichten und statt dessen mit guten Fixiermechanismen zu arbeiten.
Fixiereinsatz für flache Proben, wie zum Beispiel Wafer-Stücke, mikroelektronische Bauteile etc.
Die Probe wird durch die besondere Anordnung der Messing-Halteklammern ohne die Verwendung von Klebstoffen sicher fixiert und sowohl an der Basis, als auch an der Oberfläche kontaktiert. Für diese Fixiereinheit wird ein Probenhalter für Schliffe benötigt.
Fixiereinheit für Querschnitte
Schichtdicken lassen sich mit hoher Genauigkeit bis an die Auflösungsgrenze des REM am Querschnitt einer Probe gemessen werden. Auch bei diesem Einsatz wird die Probe ohne den Einsatz von Klebstoffen exakt im 90° Winkel fixiert. Für diese Fixiereinheit wird ein Probenhalter für Schliffe benötigt.
Werkzeug und Verbrauchsmaterialien für die REM-Probenpräparation
Die fachgerechte Proparation der Proben für professionelle REM-Aufnahmen ist unabdingbar. Grundsätzlich müssen Proben frei von losem Staub und trocken sein. Wir führen ein umfangreiches Sortiment an Werkzeugen und Materialien für die REM-Probenpräparation an.
Fordern Sie unseren Katalog "Probenpräparation" an unter phenom@lot-oriel.com |
SputterCoaterWenn Sie bei schlecht leitfähigen Proben in hohen Vergrößerungen brillante REM-Bilder anfertigen möchten, kommt der SputterCoater zum Einsatz. Im SputterCoater wird im Vakuum unter Hochspannung in ein Plasma gezündet. In dem Plasma werden die Ionen des Restgases (üblicherweise Argon) angeregt und schlagen aus dem Sputtertarget (meist Gold, Paladium, Silber) Metallverbänder heraus, die dann auf der Oberfläche des Präparats eine dünne leitfähige Schicht erzeugt.
Diese dünne Schicht sorgt dafür, dass zum einen Aufladungseffekte deutlich reduziert werden, zum anderen wird das Reaktionsvolumen des Elektronenstrahls an dieser Schicht deutlich reduziert, was zu einer verbesserten Ortsauflösung führt. Aber Achtung: Können Sie das Gold mit bloßem Auge sehen, ist die Schicht zu dick! Deshalb bieten wir ab sofort einen sehr kompakten, automatischen SputterCoater an, bei dem Sie die gewünschte Schichtdicke voreinstellen können.
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REM-Bilder
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